[發(fā)明專利]一種X射線熒光光譜分析儀

在審

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• 申請日: 2017-06-29
• 公開（公告）號: CN107228875A
• 公開（公告）日: 2017-10-03
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 杜亞明
• 申請（專利權(quán)）人: 蘇州浪聲科學(xué)儀器有限公司
• 主分類號: G01N23/223
• 分類號: G01N23/223
• 代理公司: 蘇州知途知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙)32299
• 代理人: 張錦波

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種X射線熒光光譜分析儀，屬于元素分析設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域。

背景技術(shù)

任何元素的原子都是由原子核和繞核運動的電子組成，原子核外電子按其能量的高低分層分布而形成不同的能級，因此，一個原子核可以具有多種能級狀態(tài)。能量最低的能級狀態(tài)稱為基態(tài)能級，其余能級稱為激發(fā)態(tài)能級，能量最低的激發(fā)態(tài)則稱為第一激發(fā)態(tài)。正常情況下，原子處于基態(tài)，核外電子在各自能量最低的軌道上運動。如果將一定外界能量如光能提供給該基態(tài)原子，當(dāng)外界光能量E恰好等于該基態(tài)原子中基態(tài)和某一較高能級之間的能級差△E時，該原子將吸收這一特征波長的光，外層電子由基態(tài)躍遷到相應(yīng)的激發(fā)態(tài)，形成原子吸收光譜。電子躍遷到較高能級以后處于激發(fā)態(tài)，但激發(fā)態(tài)電子是不穩(wěn)定的，經(jīng)過一較短時間后，激發(fā)態(tài)電子將返回基態(tài)或其它較低能級，并將電子躍遷時所吸收的能量以光的形式釋放出去，這個過程形成原子發(fā)射光譜。可見原子吸收光譜過程吸收輻射能量，而原子發(fā)射光譜過程則釋放輻射能量。X-射線熒光光譜分析儀的分析原理是：光源發(fā)射出原級X-射線，該射線照射樣品，待測元素的原子吸收相應(yīng)的能量形成激發(fā)態(tài)，外層電子向低能級電子層躍遷，同時發(fā)射出次級X-射線，即X-射線熒光，以釋放能量，通過探測器檢測X-射線熒光的強(qiáng)度，進(jìn)而求得待測元素的含量。

現(xiàn)有技術(shù)中X射線熒光光譜分析儀，X射線源通常設(shè)置在底端，正對樣品，此時，用于拍攝樣品的攝像頭就必須傾斜設(shè)置，傾斜設(shè)置的攝像頭拍攝的樣品圖像必然會出現(xiàn)失真，如梯形失真等，導(dǎo)致無法正確識別出樣品待檢測部位的中心，也就無法給樣品調(diào)整到正確位置提供正確的圖像指示。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是：為解決X射線熒光光譜分析儀中攝像頭拍攝樣品圖像失真的技術(shù)問題，提供一種攝像頭拍攝樣品圖像精確且不影響原有功能的X射線熒光光譜分析儀。

本發(fā)明解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是：

本發(fā)明提供一種X射線熒光光譜分析儀，包括：

殼體；

蓋體，鉸接地設(shè)置在殼體上，能夠關(guān)上或者打開；

樣品臺，設(shè)置在殼體頂部，中間設(shè)置有樣品檢測孔；

檢測倉，密封設(shè)置在樣品臺底部，一側(cè)安裝有觀察窗；

X射線源，設(shè)置在檢測倉底部，X射線源的X射線發(fā)射管沿豎直方向布置；

探測器，設(shè)置在檢測倉另一側(cè)，用于探測樣品發(fā)出的二次X射線；

攝像頭，鏡頭對準(zhǔn)觀察窗；

準(zhǔn)直部件，包括，設(shè)置在檢測倉外的電機(jī)；設(shè)置在檢測倉底部的導(dǎo)軌；設(shè)置導(dǎo)軌上的準(zhǔn)直塊；準(zhǔn)直塊上設(shè)置有反射鏡和至少一個豎直布置的準(zhǔn)直孔，準(zhǔn)直塊能夠在直線電機(jī)的驅(qū)動下沿導(dǎo)軌運動，準(zhǔn)直塊能夠到達(dá)如下位置：1、攝像頭經(jīng)準(zhǔn)直塊上的反射鏡透過檢測孔拍到位于樣品臺上樣品的觀察位置；2、任一準(zhǔn)直孔位于X射線源與檢測孔之間的檢測位置。

優(yōu)選地，本發(fā)明的X射線熒光光譜分析儀，準(zhǔn)直孔孔徑為0.1mm-5mm之間的任意值。

優(yōu)選地，本發(fā)明的X射線熒光光譜分析儀，準(zhǔn)直孔為成一列排布的若干個。

優(yōu)選地，本發(fā)明的X射線熒光光譜分析儀，準(zhǔn)直孔為7個，孔徑分別為0.1mm、0.2mm、0.5mm、1mm、2mm、5mm、5mm。

優(yōu)選地，本發(fā)明的X射線熒光光譜分析儀，相鄰兩個準(zhǔn)直孔之間的距離為6-12mm。

優(yōu)選地，本發(fā)明的X射線熒光光譜分析儀，除其中一個5mm的準(zhǔn)直孔外，準(zhǔn)直孔內(nèi)設(shè)置有濾光片。

優(yōu)選地，本發(fā)明的X射線熒光光譜分析儀，電機(jī)為直線電機(jī)。

優(yōu)選地，本發(fā)明的X射線熒光光譜分析儀，樣品檢測孔411可設(shè)置在一個能夠拆卸的樣品放置板上。

優(yōu)選地，本發(fā)明的X射線熒光光譜分析儀，攝像頭水平設(shè)置，反射鏡應(yīng)與水平面成45°夾角設(shè)置。

優(yōu)選地，本發(fā)明的X射線熒光光譜分析儀，檢測孔處還設(shè)置有mylar膜。

本發(fā)明的有益效果是：

本發(fā)明的X射線熒光光譜分析儀中X射線源設(shè)置在檢測倉底部，X射線源發(fā)射的X射線以垂直角度照射到樣品上，提高了檢測精度。同時，通過設(shè)置具有反射鏡的準(zhǔn)直部件，在需要通過攝像頭觀察樣品位置時，通過直線電機(jī)使準(zhǔn)直塊處于觀察位置，此時可通過攝像頭觀察樣品，且拍攝的圖像不產(chǎn)生變形失真，產(chǎn)品成像和位置的調(diào)整更為精確，樣品位置調(diào)整結(jié)束后，再通過直線電機(jī)使準(zhǔn)直塊處于檢測位置，此時通過X射線源發(fā)生X射線就可以進(jìn)行X射線檢測，不影響X射線檢測的功能。設(shè)置顯示屏方便使用者觀察圖像并得到分析結(jié)果。

附圖說明

下面結(jié)合附圖和實施例對本發(fā)明進(jìn)一步說明。