[發明專利]一種X射線熒光光譜分析儀

在審

• 申請號: 201710514279.9
• 申請日: 2017-06-29
• 公開（公告）號: CN107228875A
• 公開（公告）日: 2017-10-03
• 發明（設計）人: 杜亞明
• 申請（專利權）人: 蘇州浪聲科學儀器有限公司
• 主分類號: G01N23/223
• 分類號: G01N23/223
• 代理公司: 蘇州知途知識產權代理事務所(普通合伙)32299
• 代理人: 張錦波

1.一種X射線熒光光譜分析儀，其特征在于，包括：

殼體(1)；

蓋體(2)，鉸接地設置在殼體(1)上，能夠關上或者打開；

樣品臺(41)，設置在殼體(1)頂部，中間設置有樣品檢測孔(411)；

檢測倉(40)，密封設置在樣品臺(41)底部，一側安裝有觀察窗(401)；

X射線源(42)，設置在檢測倉(40)底部，X射線源(42)的X射線發射管沿豎直方向布置；

探測器(44)，設置在檢測倉(40)另一側，用于探測樣品發出的二次X射線；

攝像頭(43)，鏡頭對準觀察窗(401)；

準直部件(45)，包括，設置在檢測倉(40)外的電機；設置在檢測倉(40)底部的導軌(453)；設置導軌(453)上的準直塊(451)；準直塊(451)上設置有反射鏡(4511)和至少一個豎直布置的準直孔(4512)，準直塊(451)能夠在直線電機(452)的驅動下沿導軌(453)運動，準直塊(451)能夠到達如下位置：1、攝像頭(43)經準直塊(451)上的反射鏡(4511)透過檢測孔(411)拍到位于樣品臺(41)上樣品的觀察位置；2、任一準直孔(4512)位于X射線源(42)與檢測孔(411)之間的檢測位置。

2.根據權利要求1所述的X射線熒光光譜分析儀，其特征在于，準直孔(4512)孔徑為0.1mm-5mm之間的任意值。

3.根據權利要求2所述的X射線熒光光譜分析儀，其特征在于，準直孔(4512)為成一列排布的若干個。

4.根據權利要求3所述的X射線熒光光譜分析儀，其特征在于，準直孔(4512)為7個，孔徑分別為0.1mm、0.2mm、0.5mm、1mm、2mm、5mm、5mm。

5.根據權利要求3或4所述的X射線熒光光譜分析儀，其特征在于，相鄰兩個準直孔(4512)之間的距離為6-12mm。

6.根據權利要求4所述的X射線熒光光譜分析儀，其特征在于，除其中一個5mm的準直孔(4512)外，準直孔(4512)內設置有濾光片。

7.根據權利要求1-4任一項所述的X射線熒光光譜分析儀，其特征在于，電機為直線電機(452)。

8.根據權利要求1-4任一項所述的X射線熒光光譜分析儀，其特征在于，樣品檢測孔411可設置在一個能夠拆卸的樣品放置板上。

9.根據權利要求1-4任一項所述的X射線熒光光譜分析儀，其特征在于，攝像頭(43)水平設置，反射鏡(4511)應與水平面成45°夾角設置。

10.根據權利要求1-4任一項所述的X射線熒光光譜分析儀，其特征在于，檢測孔(411)處還設置有mylar膜。