[發明專利]一種PD電源產品老化測試方法

有效

• 申請號: 201710504218.4
• 申請日: 2017-06-27
• 公開（公告）號: CN107356882B
• 公開（公告）日: 2019-09-06
• 發明（設計）人: 賴奕佳
• 申請（專利權）人: 芯海科技（深圳）股份有限公司
• 主分類號: G01R31/40
• 分類號: G01R31/40
• 代理公司: 深圳市凱達知識產權事務所 44256
• 代理人: 劉大彎

本發明公開了一種PD電源產品老化測試系統及方法，該老化測試系統包括接入模塊、LDO供電模塊、電壓采集模塊、主控MCU模塊、電流采集模塊、電壓/電流顯示模塊、按鍵輸入模塊、輸出模塊；其中，所述LDO供電模塊、電壓采集模塊接于主控MCU模塊，向系統提供電力，所述電流采集模塊連接于接入模塊、主控MCU模塊及輸出模塊，所述電壓/電流顯示模塊、按鍵輸入模塊則分別接于主控MCU模塊；所述接入模塊連接于PD電源產品，輸出模塊則接于電子負載。該系統及方法解決傳統電源產品升級為TYPE?C和PD產品后老化可靠性測試問題。

技術領域

本發明屬于PD電源技術領域，特別涉及一種PD電源產品老化測試系統及方法。

背景技術

自從USB-IF推出USB-TYPE-C接口和PD協議以來，市面上越來越多的手機、平板、筆記本等電子設備都支持TYPE-C接口和PD協議。如樂視的MAX2 手機、魅族的PRO5手機、蘋果的2015版MacBook筆記本等等。為了適應市場的變化，電子設備的配件市場也悄悄地跟著這些電子設備進行更新換代升級。所以傳統的適配器、車充等電源產品也開始支持TYPE-C接口和PD協議。

傳統的電子設備配件電源產品一般都只有5V電壓輸出，而且這些電源產品也是熱電狀態，直接加載負載即可進行帶載老化可靠性測試。但是如果電源產品支持了TYPE-C接口和PD協議后，這個老化可靠性測試就會變得完全不一樣了。

首先，TYPE-C接口是冷電狀態，也就是在其沒有檢測到相應的負載設備時，它是不會進行放電的，這也是TYPE-C接口產品比TYPE-A/TYPE-B產品安全性高的體現。另一方面，支持了PD協議后，這個電源產品不再是只有5V 一擋PDO輸出了，它可能有兩擋，三擋，甚至最多七擋的PDO輸出。這么多擋的PDO電源產品都要進行老化測試，否則無法保障電源系統的可靠性。但是如何把各擋的PDO電壓輪訓出來并進行老化測試成為了這些電源廠商要解決的問題，所以電源廠商在生產PD電源產品時都需要配套升級老化測試系統，以保證PD電源產品的安全可靠性。

如專利申請201610707409.6公開了一種用于電源產品測試的智能節能老化系統，包括：若干老化子系統，每個老化子系統包括被測電源產品及老化組件，老化組件包括：升壓模塊、逆變模塊、反饋模塊，被測試電源產品輸入端連接在電網上，電源產品輸出端接在老化組件的升壓模塊上，升壓模塊從電源產品輸出端獲取電流，升壓模塊將電源產品輸出的直流低壓轉換為直流高壓，并通過逆變模塊轉換為交流230V電壓，反饋模塊與電網電壓匹配，將逆變模塊輸出的交流電能反饋回電網，為下一個老化子系統的電源產品提供電能。該專利申請雖然能夠對電源產品進行老化處理，但是其通過分布式電子負載設計和系統總線方式進行老化測試，測試過程復雜，難以保證PD電源產品的安全可靠性。

發明內容

基于此，因此本發明的首要目地是提供一種PD電源產品老化測試系統及方法，該系統及方法解決傳統電源產品升級為TYPE-C和PD產品后老化可靠性測試問題。

為實現上述目的，本發明的技術方案為：

一種PD電源產品老化測試系統，所述的老化測試系統包括接入模塊、LDO 供電模塊、電壓采集模塊、主控MCU模塊、電流采集模塊、電壓/電流顯示模塊、按鍵輸入模塊、輸出模塊；其中，所述LDO供電模塊、電壓采集模塊接于主控MCU模塊，向系統提供電力，所述電流采集模塊連接于接入模塊、主控 MCU模塊及輸出模塊，所述電壓/電流顯示模塊、按鍵輸入模塊則分別接于主控MCU模塊；所述接入模塊連接于PD電源產品，輸出模塊則接于電子負載。

所述的PD電源產品包含以下電源產品的任意一種：PD移動電源、PD適配器、PD車充、PD-HUB。

所述接入模塊為TYPE-C母座或者TYPE-C公頭。

所述電壓采集模塊采用電阻分壓方式采集測量，電壓測量范圍為 3.0V～21V。