[發明專利]電子設備的測試系統與方法

在審

• 申請號: 201710502528.2
• 申請日: 2017-06-27
• 公開（公告）號: CN109142903A
• 公開（公告）日: 2019-01-04
• 發明（設計）人: 楊進維
• 申請（專利權）人: 鴻富錦精密工業（武漢）有限公司;鴻海精密工業股份有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 深圳市賽恩倍吉知識產權代理有限公司 44334
• 代理人: 鄭杏芳

一種電子設備的測試系統，用于對所述電子設備進行測試，所述測試系統包括連接啟動模塊、圖片獲取模塊及比對判斷模塊。連接啟動模塊用于將所述電子設備與測試組件通信連接，并啟動所述測試組件的測試程序，以對所述電子設備進行測試。圖片獲取模塊用于獲取所述電子設備的測試結果圖像。比對判斷模塊用于將所述測試結果圖像與模板圖像進行比較，以獲取測試結果。本發明還提供一種電子設備的測試方法。上述電子設備的測試系統與方法，通過在測試過程中獲取測試結果圖像并與模板圖像進行比對，來實現自動獲取測試結果，避免人為測試中的疏漏及誤差，同時可節省測試人力成本。

技術領域

本發明涉及測試領域，尤其涉及一種電子設備的測試系統與方法。

背景技術

產品質量的可靠度是產品能成功銷售的關鍵，現有的電子設備在完成生產后，需要做多種可靠性能測試，且某些可靠性性能測試需要做重復多次測試，測試過程較繁瑣，且在每次測試完成后，測試人員需要手動記錄測試結果，進而需要花費大量的人力與時間來完成產品測試。

發明內容

有鑒于此，有必要提供一種電子設備的測試系統與方法，其能實現節省測試人力成本。

本發明一實施方式提供一種電子設備的測試系統，用于對電子設備進行測試，所述測試系統包括：連接啟動模塊，用于將所述電子設備與測試組件通信連接，并啟動所述測試組件的測試程序，以對所述電子設備進行測試；圖片獲取模塊，用于獲取所述電子設備的測試結果圖像；及比對判斷模塊，用于將所述測試結果圖像與模板圖像進行比較，以獲取測試結果。

優選地，所述測試系統還包括統計生成模塊，用于統計對所述電子設備的測試次數并根據每一次的測試結果來生成測試報表。

優選地，所述測試組件包括上位機及IO控制模組，所述IO控制模組電連接于所述電子設備，所述連接啟動單元用于啟動所述上位機的測試程序控制IO控制模組的打開與關閉，以對所述電子設備進行測試。

優選地，所述測試組件包括上位機及信號發生器，所述連接啟動單元用于啟動所述上位機的測試程序控制所述信號發生器根據預設的調制參數輸出射頻信號至所述電子設備，以對所述電子設備進行測試。

優選地，所述測試系統還包括坐標獲取模塊，所述坐標獲取模塊用于獲取并存儲所述模板圖像的坐標信息；所述比對判斷模塊用于將所述測試結果圖像與所述模板圖像進行比較，以從所述測試結果圖像中找到匹配區域；所述坐標獲取模塊還用于獲取所述匹配區域的坐標信息；及所述比對判斷模塊還用于將所述模板圖像的坐標信息與所述匹配區域的坐標信息進行比較，以獲取測試結果。

本發明一實施方式提供一種電子設備的測試方法，所述測試方法包括以下步驟：將電子設備與測試組件通信連接，并啟動所述測試組件的測試程序，以對所述電子設備進行測試；獲取所述電子設備的測試結果圖像；及將所述測試結果圖像與模板圖像進行比較，以獲取測試結果。

優選地，所述測試方法還包括：統計對所述電子設備的測試次數并根據每一次的測試結果來生成測試報表。

優選地，所述測試組件包括上位機及IO控制模組，所述啟動所述測試組件的測試程序，以對所述電子設備進行測試的步驟包括：

啟動所述上位機的測試程序控制IO控制模組的打開與關閉，以對所述電子設備進行測試。

優選地，所述測試組件包括上位機及信號發生器，所述啟動所述測試組件的測試程序，以對所述電子設備進行測試的步驟包括：

啟動所述上位機的測試程序控制所述信號發生器根據預設的調制參數輸出射頻信號至所述電子設備，以對所述電子設備進行測試。

優選地，所述將所述測試結果圖像與模板圖像進行比較，以獲取測試結果的步驟包括：

獲取并存儲所述模板圖像的坐標信息；