[發(fā)明專利]電子設(shè)備的測試系統(tǒng)與方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201710502528.2
• 申請(qǐng)日: 2017-06-27
• 公開（公告）號(hào): CN109142903A
• 公開（公告）日: 2019-01-04
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 楊進(jìn)維
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 鴻富錦精密工業(yè)（武漢）有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/00
• 分類號(hào): G01R31/00
• 代理公司: 深圳市賽恩倍吉知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44334
• 代理人: 鄭杏芳

1.一種電子設(shè)備的測試方法，其特征在于，所述測試方法包括以下步驟：

將電子設(shè)備與測試組件通信連接，并啟動(dòng)所述測試組件的測試程序，以對(duì)所述電子設(shè)備進(jìn)行測試；

獲取所述電子設(shè)備的測試結(jié)果圖像；及

將所述測試結(jié)果圖像與模板圖像進(jìn)行比較，以獲取測試結(jié)果。

2.如權(quán)利要求1所述的測試方法，其特征在于，所述測試方法還包括：

統(tǒng)計(jì)對(duì)所述電子設(shè)備的測試次數(shù)并根據(jù)每一次的測試結(jié)果來生成測試報(bào)表。

3.如權(quán)利要求1所述的測試方法，其特征在于，所述測試組件包括上位機(jī)及IO控制模組，所述啟動(dòng)所述測試組件的測試程序，以對(duì)所述電子設(shè)備進(jìn)行測試的步驟包括：

啟動(dòng)所述上位機(jī)的測試程序控制IO控制模組的打開與關(guān)閉，以對(duì)所述電子設(shè)備進(jìn)行測試。

4.如權(quán)利要求1所述的測試方法，其特征在于，所述測試組件包括上位機(jī)及信號(hào)發(fā)生器，所述啟動(dòng)所述測試組件的測試程序，以對(duì)所述電子設(shè)備進(jìn)行測試的步驟包括：

啟動(dòng)所述上位機(jī)的測試程序控制所述信號(hào)發(fā)生器根據(jù)預(yù)設(shè)的調(diào)制參數(shù)輸出射頻信號(hào)至所述電子設(shè)備，以對(duì)所述電子設(shè)備進(jìn)行測試。

5.如權(quán)利要求1所述的測試方法，其特征在于，所述將所述測試結(jié)果圖像與模板圖像進(jìn)行比較，以獲取測試結(jié)果的步驟包括：

獲取并存儲(chǔ)所述模板圖像的坐標(biāo)信息；

將所述測試結(jié)果圖像與所述模板圖像進(jìn)行比較，以從所述測試結(jié)果圖像中找到匹配區(qū)域；

獲取所述匹配區(qū)域的坐標(biāo)信息；及

將所述模板圖像的坐標(biāo)信息與所述匹配區(qū)域的坐標(biāo)信息進(jìn)行比較，以獲取測試結(jié)果。

6.一種電子設(shè)備的測試系統(tǒng)，用于對(duì)所述電子設(shè)備進(jìn)行測試，其特征在于，所述測試系統(tǒng)包括：

連接啟動(dòng)模塊，用于將所述電子設(shè)備與測試組件通信連接，并啟動(dòng)所述測試組件的測試程序，以對(duì)所述電子設(shè)備進(jìn)行測試；

圖片獲取模塊，用于獲取所述電子設(shè)備的測試結(jié)果圖像；及

比對(duì)判斷模塊，用于將所述測試結(jié)果圖像與模板圖像進(jìn)行比較，以獲取測試結(jié)果。

7.如權(quán)利要求6所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述測試系統(tǒng)還包括統(tǒng)計(jì)生成模塊，用于統(tǒng)計(jì)對(duì)所述電子設(shè)備的測試次數(shù)并根據(jù)每一次的測試結(jié)果來生成測試報(bào)表。

8.如權(quán)利要求6所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述測試組件包括上位機(jī)及IO控制模組，所述IO控制模組電連接于所述電子設(shè)備，所述連接啟動(dòng)單元用于啟動(dòng)所述上位機(jī)的測試程序控制IO控制模組的打開與關(guān)閉，以對(duì)所述電子設(shè)備進(jìn)行測試。

9.如權(quán)利要求6所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述測試組件包括上位機(jī)及信號(hào)發(fā)生器，所述連接啟動(dòng)單元用于啟動(dòng)所述上位機(jī)的測試程序控制所述信號(hào)發(fā)生器根據(jù)預(yù)設(shè)的調(diào)制參數(shù)輸出射頻信號(hào)至所述電子設(shè)備，以對(duì)所述電子設(shè)備進(jìn)行測試。

10.如權(quán)利要求6所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述測試系統(tǒng)還包括坐標(biāo)獲取模塊，所述坐標(biāo)獲取模塊用于獲取并存儲(chǔ)所述模板圖像的坐標(biāo)信息；所述比對(duì)判斷模塊用于將所述測試結(jié)果圖像與所述模板圖像進(jìn)行比較，以從所述測試結(jié)果圖像中找到匹配區(qū)域；所述坐標(biāo)獲取模塊還用于獲取所述匹配區(qū)域的坐標(biāo)信息；及所述比對(duì)判斷模塊還用于將所述模板圖像的坐標(biāo)信息與所述匹配區(qū)域的坐標(biāo)信息進(jìn)行比較，以獲取測試結(jié)果。