[發明專利]一種干涉式粗糙度檢測儀在審
| 申請號: | 201710499831.1 | 申請日: | 2017-06-27 |
| 公開(公告)號: | CN107238356A | 公開(公告)日: | 2017-10-10 |
| 發明(設計)人: | 葉曉龍 | 申請(專利權)人: | 蘇州天鍵衡電子信息科技有限公司 |
| 主分類號: | G01B11/30 | 分類號: | G01B11/30 |
| 代理公司: | 蘇州市方略專利代理事務所(普通合伙)32267 | 代理人: | 馬廣旭 |
| 地址: | 215400 江蘇省蘇*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 干涉 粗糙 檢測 | ||
技術領域
本發明涉及一種檢測儀,具體涉及一種干涉式粗糙度檢測儀。
背景技術
表面粗糙度(surface roughness)是指加工表面具有的較小間距和微小峰谷的不平度。其兩波峰或兩波谷之間的距離(波距)很小(在1mm以下),它屬于微觀幾何形狀誤差。表面粗糙度越小,則表面越光滑。
表面粗糙度一般是由所采用的加工方法和其他因素所形成的,例如加工過程中刀具與零件表面間的摩擦、切屑分離時表面層金屬的塑性變形以及工藝系統中的高頻振動等。由于加工方法和工件材料的不同,被加工表面留下痕跡的深淺、疏密、形狀和紋理都有差別。表面粗糙度與機械零件的配合性質、耐磨性、疲勞強度、接觸剛度、振動和噪聲等有密切關系,對機械產品的使用壽命和可靠性有重要影響。
傳統的表面粗糙度檢測儀功能單一,僅能對粗糙度進行檢測,檢測到不合格后對工藝或者整個設備進行調試,由于缺乏針對性,數據量少往往調整效果不夠明顯。因此需要一種對表面粗糙度進行檢測并且分析的輔助檢測儀。
發明內容
為解決上述存在的問題,本發明的目的在于提供一種干涉式粗糙度檢測儀,其可以將被檢測進行坐標化,并將檢測點粗糙度情況記錄在坐標中,通過對數據分析可以更準確的分析生產工藝與生產設備中存在的問題,具有廣泛的適用性。
為達到上述目的,本發明的技術方案是:
一種干涉式粗糙度檢測儀,其特征在于,包括機體、檢測探頭與定位裝置;所述機體包括顯示屏、功能按鍵、信號處理模塊及電源;所述檢測探頭、定位裝置分別與機體連接,所述檢測探頭設有干涉顯微鏡。檢測儀通過電源驅動,所述電源可以是移動式電源如電池,也可以是固定式電源連接器。使用時先用定位裝置建立被檢測表面的坐標面,再通過檢測探頭進行粗糙度檢測,信號處理裝置記錄粗糙度的同時將記錄點標注在坐標面上。
作為上述方案的進一步改進,所述功能按鍵采用絕緣橡膠按鈕。該設置可以有效防止漏電風險。
作為上述方案的進一步改進,所述顯示屏采用多點觸控式彩色液晶顯示屏。多點觸控式彩色液晶顯示屏可以實現更多功能,如通過不同顏色反應不同粗糙度水平,以方便分析等。
作為上述方案的進一步改進,所述定位裝置為電場定位裝置。
作為上述方案的進一步改進,所述檢測探頭設有與電場定位裝置配合的定位探頭,所述定位探頭呈筒狀,所述定位探頭安裝于干涉顯微鏡外側。
作為上述方案的進一步改進,所述電場定位裝置包括電場產生器,所述電場產生器設有夾式連接頭。夾式連接頭使用方便,且經濟性良好。使用時通過夾式連接頭與被檢測面連接,形成電場。
與現有技術相比,本發明的有益效果在于:
其可以將被檢測進行坐標化,并將檢測點粗糙度情況記錄在坐標中,通過對數據分析可以更準確的分析生產工藝與生產設備中存在的問題,具有廣泛的適用性。
附圖說明
圖1為本發明實施例所提供的一種干涉式粗糙度檢測儀結構示意圖。
其中:
1、機體;2、檢測探頭;3、定位裝置;4、顯示屏;5、功能按鍵;6、夾式連接頭;7、干涉顯微鏡;8、定位探頭。
具體實施方式
以下將結合實施方式和附圖對本發明創造的構思、具體結構及產生的具體效果進行清除、完整的描述,以充分的理解本發明創造的目的、特征和效果。本發明創造的各項技術特征,在不互相矛盾沖突的前提可以交互組合。
參見圖1,一種干涉式粗糙度檢測儀,其特征在于,包括機體1、檢測探頭2與定位裝置3;所述機體1包括顯示屏4、功能按鍵5、信號處理模塊及電源;所述檢測探頭2、定位裝置3分別與機體1連接,所述檢測探頭2設有干涉顯微鏡7。檢測儀通過電源驅動,所述電源可以是移動式電源如電池,也可以是固定式電源連接器。使用時先用定位裝置3建立被檢測表面的坐標面,再通過檢測探頭2進行粗糙度檢測,信號處理裝置記錄粗糙度的同時將記錄點標注在坐標面上。
作為上述方案的進一步改進,所述功能按鍵5采用絕緣橡膠按鈕。該設置可以有效防止漏電風險。
作為上述方案的進一步改進,所述顯示屏4采用多點觸控式彩色液晶顯示屏4。多點觸控式彩色液晶顯示屏4可以實現更多功能,如通過不同顏色反應不同粗糙度水平,以方便分析等。
作為上述方案的進一步改進,所述定位裝置3為電場定位裝置3。
作為上述方案的進一步改進,所述檢測探頭2設有與電場定位裝置3配合的定位探頭8,所述定位探頭8呈筒狀,所述定位探頭8安裝于干涉顯微鏡7外側。
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