[發(fā)明專利]在制作觸控屏的過程中檢驗(yàn)引線偏位的方法以及絲刷裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201710488426.X
• 申請(qǐng)日: 2017-06-23
• 公開（公告）號(hào): CN107340940B
• 公開（公告）日: 2023-10-24
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 龍興玉;梁大海;姬曉峰
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 安徽精卓光顯技術(shù)有限責(zé)任公司
• 主分類號(hào): G06F3/044
• 分類號(hào): G06F3/044
• 代理公司: 廣州德科知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44381
• 代理人: 萬(wàn)振雄

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及觸控技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種在制作觸控屏的過程中檢驗(yàn)引線偏位的方法以及絲刷裝置。

背景技術(shù)

電容式觸摸屏可以分為以下兩種：(1)玻璃電容式觸摸屏；(2)Film(薄膜)電容式觸摸屏。

在制作玻璃電容式觸摸屏?xí)r，根據(jù)圖紙排版設(shè)計(jì)，先在大片的玻璃上形成用于確定觸控坐標(biāo)的觸控電極以及用于連接觸控電極與芯片的引線，然后再切割大片的玻璃，得到小片的玻璃(小片的玻璃尺寸與實(shí)際產(chǎn)品相當(dāng))。

在制作Film電容式觸摸屏?xí)r，根據(jù)圖紙排版設(shè)計(jì)，先在大片的Film上形成用于確定觸控坐標(biāo)的觸控電極、用于連接觸控電極與芯片的引線以及靶標(biāo)，然后通過靶標(biāo)，套位沖切大片的Film，得到小片F(xiàn)ilm(小片的Film尺寸與實(shí)際產(chǎn)品相當(dāng))。

在切割大片的玻璃或沖切大片的Film時(shí)，由于材料(引線的材料、靶標(biāo)的材料)本身存在內(nèi)縮外擴(kuò)想象以及存在加工誤差的存在，會(huì)導(dǎo)致小片玻璃或小片F(xiàn)ilm上的引線與小片玻璃或小片F(xiàn)ilm的邊緣之間的距離過大或過小，也即存在切割偏位的現(xiàn)象。通常在判斷切割是否偏位時(shí)，需要工作人員去測(cè)量每片小片玻璃或小片F(xiàn)ilm上的引線與小片玻璃或小片F(xiàn)ilm的邊緣之間的距離，從而檢驗(yàn)出偏位不良品，作業(yè)效率低下。

發(fā)明內(nèi)容

基于此，有必要提供一種作業(yè)效率較高的在制作觸控屏的過程中檢驗(yàn)引線偏位的方法以及絲刷裝置。

一種在制作觸控屏的過程中檢驗(yàn)引線偏位的方法，包括如下步驟：

提供用于形成多個(gè)小片基板的大片基板，其中，相鄰兩所述小片基板之間的區(qū)域?yàn)榉指魠^(qū)；

在所述小片基板上形成引線以及在所述小片基板的邊線處形成檢驗(yàn)標(biāo)識(shí)，其中，每一所述檢驗(yàn)標(biāo)識(shí)的一部分位于所述小片基板上，另一部分位于所述分隔區(qū)上；

將所述小片基板從所述大片基板上分離出來；以及

目測(cè)所述小片基板上的檢驗(yàn)標(biāo)識(shí)，以確定所述引線是否偏位。

上述在制作觸控屏的過程中檢驗(yàn)引線偏位的方法，通過先在所述小片基板上形成引線以及在所述小片基板的邊線處形成檢驗(yàn)標(biāo)識(shí)，其中，每一所述檢驗(yàn)標(biāo)識(shí)的一部分位于所述小片基板上，另一部分位于所述分隔區(qū)上，然后在制作觸控屏的過程中可以通過目測(cè)小片基板上的檢驗(yàn)標(biāo)識(shí)來確定引線是否偏位，相對(duì)于采用測(cè)量引線與小片基板邊線之間的距離方式，作業(yè)效率較高。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述大片基板包括中心區(qū)域及邊框區(qū)域，所述中心區(qū)域用于形成多個(gè)所述小片基板；

在將所述小片基板從所述大片基板分離出來的步驟之前，還包括在所述邊框區(qū)域形成靶標(biāo)的步驟。如此可以采用套位靶標(biāo)的方式從大片基板上將小片基板分離出來，提高生產(chǎn)效率和良率。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述檢驗(yàn)標(biāo)識(shí)與所述引線同時(shí)形成。如此可以避免出現(xiàn)因增設(shè)檢驗(yàn)標(biāo)識(shí)而導(dǎo)致工藝步驟增加的問題。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述檢驗(yàn)標(biāo)識(shí)與所述引線的材質(zhì)相同。如此可進(jìn)一步避免出現(xiàn)因增設(shè)檢驗(yàn)標(biāo)識(shí)而導(dǎo)致工藝步驟增加的問題。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述檢驗(yàn)標(biāo)識(shí)為中心對(duì)稱圖形，所述檢驗(yàn)標(biāo)識(shí)的中心線與所述小片基板的邊線重合。如此，中心對(duì)稱圖形更利于目測(cè)判斷，因?yàn)橹行膶?duì)稱圖形例如半圓、優(yōu)弧及劣弧相對(duì)于非中心對(duì)稱圖形如直角三角形具有更高的辨識(shí)度。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，形成所述引線的尺寸公差為正負(fù)X，所述檢驗(yàn)標(biāo)識(shí)在沿相鄰兩所述小片基板的排布方向上的最大長(zhǎng)度為所述X的兩倍。如此設(shè)置，一方面可以保證檢驗(yàn)標(biāo)識(shí)便于肉眼觀測(cè)，另一方面可以減少檢驗(yàn)標(biāo)識(shí)的制作材料，降低成本。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，多個(gè)所述小片基板呈陣列形式排布，每列及每行均包括若干個(gè)所述小片基板，所述小片基板呈方形，每一所述小片基板包括相對(duì)的第一邊線與第二邊線，以及相對(duì)的第三邊線與第四邊線，在每行中，相鄰兩所述小片基板的所述第一邊線與所述第二邊線交錯(cuò)排布，在每列中，相鄰兩所述小片基板的所述第三邊線與所述第四邊線交錯(cuò)排布；

所述檢驗(yàn)標(biāo)識(shí)設(shè)于所述第一邊線與所述第三邊線中的至少一者上。如此可可以便于從大片基板上切割小片基板，同時(shí)在制作觸控屏的過程中可以通過目測(cè)小片基板上的檢驗(yàn)標(biāo)識(shí)來確定引線是否偏位，相對(duì)于采用測(cè)量引線與小片基板邊線之間的距離方式，作業(yè)效率較高。

一種在制作觸控屏的過程中檢驗(yàn)引線偏位的方法，包括如下步驟：

提供第一大片基板以及第二大片基板，所述第一大片基板用于形成多個(gè)第一小片基板，所述第二大片基板用于形成多個(gè)第二小片基板，相鄰兩所述第一小片基板之間的區(qū)域?yàn)榈谝环指魠^(qū)；