[發明專利]在制作觸控屏的過程中檢驗引線偏位的方法以及絲刷裝置

有效

• 申請號: 201710488426.X
• 申請日: 2017-06-23
• 公開（公告）號: CN107340940B
• 公開（公告）日: 2023-10-24
• 發明（設計）人: 龍興玉;梁大海;姬曉峰
• 申請（專利權）人: 安徽精卓光顯技術有限責任公司
• 主分類號: G06F3/044
• 分類號: G06F3/044
• 代理公司: 廣州德科知識產權代理有限公司 44381
• 代理人: 萬振雄

1.一種在制作觸控屏的過程中檢驗引線偏位的方法，其特征在于，包括如下步驟：

提供用于形成多個小片基板的大片基板，其中，相鄰兩所述小片基板之間的區域為分隔區；

在所述小片基板上形成引線以及在所述小片基板的邊線處形成檢驗標識，其中，每一所述檢驗標識的一部分位于所述小片基板上，另一部分位于所述分隔區上；

將所述小片基板從所述大片基板上分離出來；以及

目測所述小片基板上的檢驗標識，以確定所述引線是否偏位。

2.根據權利要求1所述的在制作觸控屏的過程中檢驗引線偏位的方法，其特征在于，所述大片基板包括中心區域及邊框區域，所述中心區域用于形成多個所述小片基板；

在將所述小片基板從所述大片基板分離出來的步驟之前，還包括在所述邊框區域形成靶標的步驟。

3.根據權利要求1所述的在制作觸控屏的過程中檢驗引線偏位的方法，其特征在于，所述檢驗標識與所述引線同時形成。

4.根據權利要求3所述的在制作觸控屏的過程中檢驗引線偏位的方法，其特征在于，所述檢驗標識與所述引線的材質相同。

5.根據權利要求1所述的在制作觸控屏的過程中檢驗引線偏位的方法，其特征在于，所述檢驗標識為中心對稱圖形，所述檢驗標識的中心線與所述小片基板的邊線重合。

6.根據權利要求5所述的在制作觸控屏的過程中檢驗引線偏位的方法，其特征在于，形成所述引線的尺寸公差為正負X，所述檢驗標識在沿相鄰兩所述小片基板的排布方向上的最大長度為所述X的兩倍。

7.根據權利要求1所述的在制作觸控屏的過程中檢驗引線偏位的方法，其特征在于，多個所述小片基板呈陣列形式排布，每列及每行均包括若干個所述小片基板，所述小片基板呈方形，每一所述小片基板包括相對的第一邊線與第二邊線，以及相對的第三邊線與第四邊線，在每行中，相鄰兩所述小片基板的所述第一邊線與所述第二邊線交錯排布，在每列中，相鄰兩所述小片基板的所述第三邊線與所述第四邊線交錯排布；

所述檢驗標識設于所述第一邊線與所述第三邊線中的至少一者上。

8.一種在制作觸控屏的過程中檢驗引線偏位的方法，其特征在于，包括如下步驟：

提供第一大片基板以及第二大片基板，所述第一大片基板用于形成多個第一小片基板，所述第二大片基板用于形成多個第二小片基板，相鄰兩所述第一小片基板之間的區域為第一分隔區；

在所述第一小片基板上形成第一引線、第一觸控電極以及在所述第一小片基板的邊線處形成檢驗標識，在所述第二小片基板上形成第二引線及第二觸控電極，其中，每一所述檢驗標識的一部分位于所述第一小片基板上，另一部分位于所述第一分隔區上；

將所述第一大片基板遠離所述第一引線的表面貼于所述第二大片基板上，且所述第一小片基板的邊線與所述第二小片基板的邊線重合；

將所述第一小片基板從所述第一大片基板分離出來，同時將所述第二小片基板從所述第二大片基板分離出來；以及

目測所述第一小片基板上的檢驗標識，以確定所述第一引線是否偏位。

9.一種絲刷裝置，其特征在于，包括用于形成引線的第一絲印區域以及用于形成檢驗標識的第二絲印區域。

10.根據權利要求9所述的絲刷裝置，其特征在于，還包括用于形成靶標的第三絲印區域。