[發(fā)明專利]揚(yáng)聲器T/S參數(shù)測(cè)試方法和測(cè)試裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201710487492.5
• 申請(qǐng)日: 2017-06-23
• 公開（公告）號(hào): CN107071684B
• 公開（公告）日: 2023-03-17
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 顧善勇;閆鑫
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 深圳精拓創(chuàng)新科技有限公司
• 主分類號(hào): H04R29/00
• 分類號(hào): H04R29/00
• 代理公司: 北京睿派知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11597
• 代理人: 劉鋒

公開了一種揚(yáng)聲器T/S參數(shù)測(cè)試方法和測(cè)試裝置，通過設(shè)置具有密封功能的測(cè)試裝置，分別測(cè)試密封前揚(yáng)聲器的電聲參數(shù)組和密封后揚(yáng)聲器的阻抗曲線，然后分別提取電聲參數(shù)組和密封后揚(yáng)聲器的阻抗曲線的特征參數(shù)并根據(jù)聲學(xué)系統(tǒng)設(shè)備的標(biāo)準(zhǔn)公式計(jì)算獲取揚(yáng)聲器的T/S參數(shù)，從而實(shí)現(xiàn)了在揚(yáng)聲器無損情況下，快速對(duì)揚(yáng)聲器單體或揚(yáng)聲器模組進(jìn)行在線測(cè)試獲取T/S參數(shù)。縮短了測(cè)試時(shí)間，提高了效率。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及揚(yáng)聲器領(lǐng)域，具體涉及一種揚(yáng)聲器T/S參數(shù)測(cè)試方法和測(cè)試裝置。

背景技術(shù)

T/S參數(shù)，是用來衡量揚(yáng)聲器性能的重要參數(shù)，多應(yīng)用于對(duì)揚(yáng)聲器的研究，目前已有的可以兼顧研究和在線測(cè)試T/S參數(shù)的方法包括激光測(cè)位移法或附加聲容法。

激光測(cè)位移法是通過可見光對(duì)揚(yáng)聲器振膜的位移變化產(chǎn)生不同的折射，進(jìn)而獲得揚(yáng)聲器的多個(gè)特征參數(shù)，通過計(jì)算得到T/S參數(shù)。激光測(cè)位移法的優(yōu)點(diǎn)：可以精確的通過非接觸測(cè)量被測(cè)揚(yáng)聲器振膜的位置、位移等變化。其缺點(diǎn)：無法直接測(cè)出振膜非外漏的側(cè)出聲揚(yáng)聲器模組的特征參數(shù)，需要將揚(yáng)聲器模組前腔的上殼打孔，并利用透明薄片密封后才可以進(jìn)行測(cè)試。不僅耗時(shí)長(zhǎng)，而且測(cè)試后揚(yáng)聲器無法使用。因此激光測(cè)位移法僅可用于研發(fā)而無法用于在線測(cè)試。

附加聲容法也可以測(cè)試揚(yáng)聲器T/S參數(shù)：首先測(cè)揚(yáng)聲器單體電聲參數(shù)，然后將揚(yáng)聲器單體置于背腔中再測(cè)試參數(shù)諧振頻率，通過公式計(jì)算出T/S參數(shù)。但附加聲容法僅限于揚(yáng)聲器單體測(cè)試，且需要先測(cè)試單體性能，然后將揚(yáng)聲器單體裝入帶有背腔的測(cè)試裝置中再次進(jìn)行測(cè)試。此方法效率較低且適用性不強(qiáng)，不能對(duì)揚(yáng)聲器模組進(jìn)行在線測(cè)試。

發(fā)明內(nèi)容

有鑒于此，本發(fā)明提供一種揚(yáng)聲器T/S參數(shù)測(cè)試方法和測(cè)試裝置，以實(shí)現(xiàn)在揚(yáng)聲器無損情況下，可以對(duì)揚(yáng)聲器單體或揚(yáng)聲器模組進(jìn)行在線測(cè)試獲取T/S參數(shù)。

根據(jù)本發(fā)明的第一方面，提供了一種側(cè)出聲揚(yáng)聲器模組T/S參數(shù)測(cè)試方法，其特征在于，所述測(cè)試方法包括：

在側(cè)出聲揚(yáng)聲器模組前腔開放的狀態(tài)下測(cè)試所述側(cè)出聲揚(yáng)聲器模組的電聲參數(shù)組，所述電聲參數(shù)組包括靈敏度曲線、總諧波失真曲線和阻抗曲線；

封閉所述側(cè)出聲揚(yáng)聲器模組的前腔，并測(cè)試密封后側(cè)出聲揚(yáng)聲器模組的阻抗曲線；

分別提取所述電聲參數(shù)組和所述密封后側(cè)出聲揚(yáng)聲器模組的阻抗曲線的特征參數(shù)；以及，

計(jì)算獲取所述側(cè)出聲揚(yáng)聲器模組的T/S參數(shù)。

第二方面，提供了一種揚(yáng)聲器單體T/S參數(shù)測(cè)試方法，其特征在于，所述測(cè)試方法包括：

在揚(yáng)聲器單體前腔開放的狀態(tài)下測(cè)試所述揚(yáng)聲器的電聲參數(shù)組，所述電聲參數(shù)組包括靈敏度曲線、總諧波失真曲線和阻抗曲線；

封閉所述揚(yáng)聲器單體的前腔，并測(cè)試密封后揚(yáng)聲器單體的阻抗曲線；

分別提取所述電聲參數(shù)組和所述密封后揚(yáng)聲器單體的阻抗曲線的特征參數(shù)；以及，

計(jì)算獲取所述揚(yáng)聲器單體的T/S參數(shù)。

第三方面，提供了一種揚(yáng)聲器T/S參數(shù)測(cè)試方法，所述測(cè)試方法包括：

在揚(yáng)聲器前腔開放的狀態(tài)下測(cè)試所述揚(yáng)聲器的電聲參數(shù)組，所述電聲參數(shù)組包括靈敏度曲線、總諧波失真曲線和阻抗曲線；

封閉所述揚(yáng)聲器的前腔，并測(cè)試密封后揚(yáng)聲器的阻抗曲線；

分別提取所述電聲參數(shù)組和所述密封后揚(yáng)聲器的阻抗曲線的特征參數(shù)；以及，

計(jì)算獲取所述揚(yáng)聲器的T/S參數(shù)。

優(yōu)選地，所述電聲參數(shù)組的特征參數(shù)包括諧振頻率、直流電阻、最大阻抗以及以諧振頻率為中心對(duì)稱且對(duì)稱處阻抗值相同的第一頻率和第二頻率；