[發(fā)明專利]揚(yáng)聲器T/S參數(shù)測(cè)試方法和測(cè)試裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201710487492.5
• 申請(qǐng)日: 2017-06-23
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN107071684B
• 公開(kāi)（公告）日: 2023-03-17
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 顧善勇;閆鑫
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 深圳精拓創(chuàng)新科技有限公司
• 主分類號(hào): H04R29/00
• 分類號(hào): H04R29/00
• 代理公司: 北京睿派知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11597
• 代理人: 劉鋒

1.一種側(cè)出聲揚(yáng)聲器模組T/S參數(shù)測(cè)試方法，其特征在于，所述測(cè)試方法包括：

在側(cè)出聲揚(yáng)聲器模組前腔開(kāi)放的狀態(tài)下測(cè)試所述側(cè)出聲揚(yáng)聲器模組的電聲參數(shù)組，所述電聲參數(shù)組包括靈敏度曲線、總諧波失真曲線和阻抗曲線，所述側(cè)出聲揚(yáng)聲器模組包括揚(yáng)聲器單體和容納所述揚(yáng)聲器單體的外殼，所述揚(yáng)聲器單體和所述外殼之間形成有封閉的背腔和開(kāi)放的前腔；

封閉所述側(cè)出聲揚(yáng)聲器模組的前腔，并測(cè)試密封后側(cè)出聲揚(yáng)聲器模組的阻抗曲線；

分別提取所述電聲參數(shù)組和所述密封后側(cè)出聲揚(yáng)聲器模組的阻抗曲線的特征參數(shù)，所述電聲參數(shù)組的特征參數(shù)包括諧振頻率、直流電阻、最大阻抗、第一頻率和第二頻率，所述密封后側(cè)出聲揚(yáng)聲器模組的阻抗曲線的特征參數(shù)包括密封后側(cè)出聲揚(yáng)聲器模組的諧振頻率，所述諧振頻率是指所述側(cè)出聲揚(yáng)聲器模組的阻抗曲線上第一個(gè)極大值對(duì)應(yīng)的頻率，所述直流電阻是指在音圈線圈靜止的情況下，通以直流信號(hào)而測(cè)試出的阻抗值，所述最大阻抗是指阻抗曲線在諧振頻率處的峰值，所述第一頻率和所述第二頻率是以所述諧振頻率為中心近似對(duì)稱分布且阻抗曲線在所述第一頻率和所述第二頻率處的阻抗值相等；以及，

根據(jù)所述側(cè)出聲揚(yáng)聲器模組的所述諧振頻率、所述直流電阻、所述最大阻抗、所述第一頻率和所述第二頻率以及所述密封后的側(cè)出聲揚(yáng)聲器模組的諧振頻率，計(jì)算獲取所述側(cè)出聲揚(yáng)聲器模組的T/S參數(shù)。

2.一種揚(yáng)聲器T/S參數(shù)測(cè)試方法，其特征在于，所述測(cè)試方法包括：

預(yù)先將揚(yáng)聲器單體固定在具有背腔的測(cè)試裝置中形成前腔和背腔；

在揚(yáng)聲器前腔開(kāi)放的狀態(tài)下測(cè)試所述揚(yáng)聲器的電聲參數(shù)組，所述電聲參數(shù)組包括靈敏度曲線、總諧波失真曲線和阻抗曲線，所述揚(yáng)聲器為揚(yáng)聲器單體；

封閉所述揚(yáng)聲器的前腔，并測(cè)試密封后揚(yáng)聲器的阻抗曲線；

分別提取所述電聲參數(shù)組和所述密封后揚(yáng)聲器的阻抗曲線的特征參數(shù)，所述電聲參數(shù)組的特征參數(shù)包括諧振頻率、直流電阻、最大阻抗以及以諧振頻率為中心對(duì)稱且對(duì)稱處阻抗值相同的第一頻率和第二頻率，所述密封后揚(yáng)聲器的阻抗曲線的特征參數(shù)包括密封后揚(yáng)聲器的諧振頻率，所述諧振頻率是指所述揚(yáng)聲器的阻抗曲線上第一個(gè)極大值對(duì)應(yīng)的頻率，所述直流電阻是指在音圈線圈靜止的情況下，通以直流信號(hào)而測(cè)試出的阻抗值，所述最大阻抗是指阻抗曲線在諧振頻率處的峰值，所述第一頻率和所述第二頻率是以所述諧振頻率為中心近似對(duì)稱分布且阻抗曲線在所述第一頻率和所述第二頻率處的阻抗值相等；以及，

根據(jù)所述揚(yáng)聲器的諧振頻率、直流電阻、最大阻抗、第一頻率和第二頻率以及所述密封后的揚(yáng)聲器的諧振頻率，計(jì)算獲取所述揚(yáng)聲器的T/S參數(shù)。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的揚(yáng)聲器T/S參數(shù)測(cè)試方法，其特征在于，所述計(jì)算獲取所述揚(yáng)聲器的T/S參數(shù)包括：

根據(jù)所述密封后的揚(yáng)聲器的諧振頻率以及揚(yáng)聲器的諧振頻率計(jì)算所述揚(yáng)聲器的振動(dòng)系統(tǒng)質(zhì)量。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的揚(yáng)聲器T/S參數(shù)測(cè)試方法，其特征在于，計(jì)算獲取所述揚(yáng)聲器的T/S參數(shù)還包括：

根據(jù)所述揚(yáng)聲器的諧振頻率、直流電阻、最大阻抗以及所述第一頻率和第二頻率計(jì)算所述揚(yáng)聲器的總阻尼因數(shù)(Q_ts)、機(jī)械阻尼因數(shù)(Q_ms)、電磁阻尼因數(shù)(Q_es)；以及，

根據(jù)計(jì)算獲得的振動(dòng)系統(tǒng)質(zhì)量、機(jī)械阻尼因數(shù)(Q_ms)、諧振頻率以及直流電阻計(jì)算所述揚(yáng)聲器的順性、力阻、聲順的等效容積以及磁通量密度與音圈長(zhǎng)度的乘積。

5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的揚(yáng)聲器T/S參數(shù)測(cè)試方法，其特征在于，所述測(cè)試方法還包括預(yù)先對(duì)具有標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)的揚(yáng)聲器進(jìn)行測(cè)試以校準(zhǔn)測(cè)試設(shè)備。

6.一種揚(yáng)聲器T/S參數(shù)測(cè)試裝置，包括：

第一蓋板，所述第一蓋板的內(nèi)部設(shè)置有開(kāi)口的容置空腔，所述容置空腔的底部設(shè)置有凸起，并被設(shè)置為適于容納揚(yáng)聲器單體；

第二蓋板，所述第二蓋板設(shè)置于所述第一蓋板開(kāi)口的兩端，并向開(kāi)口的中心伸出形成凸臺(tái)；

密封件，適于以密封的方式與所述第二蓋板連接，以密封所述第一蓋板的容置空腔；

其中，所述容置空腔容納有揚(yáng)聲器單體時(shí)，所述凸起與所述揚(yáng)聲器單體的背部連接，所述揚(yáng)聲器單體的背部與所述第一蓋板、第二蓋板形成背腔，所述第二蓋板與所述揚(yáng)聲器單體的發(fā)聲部連接，所述揚(yáng)聲器單體的發(fā)聲部與所述第二蓋板、所述密封件形成前腔。