[發明專利]一種非易失存儲器壞塊測試方法及系統

有效

• 申請號: 201710481588.0
• 申請日: 2017-06-22
• 公開（公告）號: CN107357696B
• 公開（公告）日: 2020-12-22
• 發明（設計）人: 方迪
• 申請（專利權）人: 義烏市智享通訊設備有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22;G11C29/44
• 代理公司: 浙江千克知識產權代理有限公司 33246
• 代理人: 雷嫻;吳輝輝

一種非易失存儲器壞塊測試方法及系統，涉及數據閃存技術領域，該方法包括：提供一個沒有壞塊的非易失存儲器；標記非易失存儲器上至少一個塊為壞塊；燒錄嵌入式軟件至非易失存儲器；觀察嵌入式軟件是否正常運行；若嵌入式軟件不能正常運行，則檢測嵌入式軟件不合格。本發明可以提供一個比較好的模擬生產測試方法，預警問題，及時發現及時解決，提高軟件的可靠性，節約成本。

技術領域

本發明涉及數據閃存技術領域，尤其是，本發明涉及一種非易失存儲器壞塊測試方法及系統。

背景技術

數據記錄技術，一直是國內、外在航空、航天、航海等領域研究的關鍵技術之一。實際應用中，需要將采集到的高速實時數據(比如高分辨率圖像數據) 實時地記錄下來以便事后處理。隨著采集數據精度的提高以及記錄參數的增多，需要記錄的數據量急劇增加、數據傳輸速率也越來越高。這使記錄設備在實時、超大容量、可靠性等方面的研究成為了熱點，這就需要采用大容量的 Nand Flash非易失存儲器。

Nand Flash是一種非易失性存儲，物理存儲結構以塊(block)為單位，每個塊(block)中又分為多個頁(page)，每個頁(page)中還有額外添加的帶外數據(OOB數據)，用于校驗當前頁(page)的數據內容和標記壞塊。

Nand Flash在出廠后，會在隨機位置出現一些壞塊。壞塊，簡單來說就是 NandFlash上有些地址段無法讀寫。而壞塊是以塊(block)為單位，塊(block) 上只要有一個頁(page)無法讀寫，那么整個塊(block)都會標記為壞塊。

燒錄器或者嵌入軟件遇到壞塊時，通常采用跳過壞塊的方式去處理，也就是把本來應該寫在這個塊(block)的數據，寫到下一個塊(block)，并且標記這個地址段為壞塊；如果是讀的話，就找下一個塊(block)。因此，Nand Flash 分區時通常會為每個分區預留一些“保留區域”，使燒錄器或嵌入式軟件采用跳過壞塊的方式正常的處理這些壞塊。

例如中國發明專利CN102169462B公開了一種基于Nand Flash的數據記錄方法與記錄控制器，并具體公開了硬件壞塊管理方法：發生突發壞塊時，無延時跳入下一個已經與匹配好了的有效塊繼續記錄，最后將發生壞塊之前頁的數據滯后回寫到跳入的有效塊；硬件均衡方法：擦寫操作都接著上次的擦寫地址開始，使Nand Flash每塊的擦寫次數都接近均等；IO擴展方法：轉換數據位寬和切換控制信號使單片Nand Flash驅動器可以控制多片多組Nand Flash。該發明中的數據記錄方法即便采用跳過壞塊的方式，避開一些壞塊，但是對于一個分區來說，保留區域也是有限的，并且，軟件處理壞塊時可能存在問題，這樣就會導致生產線生產時，出現較高的不良率，影響生產進度，提高了成本。

發明內容

本發明的目的在于克服現有技術的不足，提供一種非易失存儲器壞塊測試方法及系統。

本發明的目的是通過以下技術方案實現：

一種非易失存儲器壞塊測試方法，該方法包括：

S1：提供一個沒有壞塊的非易失存儲器；

S2：標記所述非易失存儲器上至少一個塊為壞塊；

S3：燒錄嵌入式軟件至所述非易失存儲器；

S4：觀察嵌入式軟件是否正常運行；若所述嵌入式軟件不能正常運行，則檢測所述嵌入式軟件不合格。

優選地，在執行步驟S2前，將所述非易失存儲器內容全片擦除。

優選地，在執行步驟S2時，將標記的塊上的數據均寫為空值。

優選地，在執行步驟S3時，燒錄過程遇到標記的塊，跳過標記的塊到下一個塊進行燒錄，將該寫入至所述塊的數據寫入至所述塊的下一個塊中。