[發明專利]一種非易失存儲器壞塊測試方法及系統

有效

• 申請號: 201710481588.0
• 申請日: 2017-06-22
• 公開（公告）號: CN107357696B
• 公開（公告）日: 2020-12-22
• 發明（設計）人: 方迪
• 申請（專利權）人: 義烏市智享通訊設備有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22;G11C29/44
• 代理公司: 浙江千克知識產權代理有限公司 33246
• 代理人: 雷嫻;吳輝輝

1.一種非易失存儲器壞塊測試方法，所述方法包括：

S1：提供一個沒有壞塊的非易失存儲器；

S2：標記所述非易失存儲器上至少一個塊為壞塊；

S3：燒錄嵌入式軟件至所述非易失存儲器；

S4：觀察嵌入式軟件是否正常運行；若所述嵌入式軟件不能正常運行，則檢測所述嵌入式軟件不合格；

在執行步驟S2前，將所述非易失存儲器內容全片擦除；

在執行步驟S2時，將標記的塊上的數據均寫為空值；

在執行步驟S3時，燒錄過程遇到標記的塊，跳過標記的塊到下一個塊進行燒錄，將需要寫入至所述塊的數據寫入至所述塊的下一個塊中；

在執行步驟S4時若所述嵌入式軟件正常運行，將所述塊的標記擦除，并標記所述非易失存儲器的另一個塊為壞塊，重復進行步驟S2至步驟S4。

2.根據權利要求1所述的測試方法，其特征在于：當標記一個塊時，按照非易失存儲器上塊的順序依次標記且一次標記一個塊，每一次檢測執行步驟S2至步驟S4。

3.根據權利要求2所述的一種非易失存儲器壞塊測試方法，其特征在于，該方法還包括：當標記多個塊時，一次標記一個由多個塊組成的區域的塊為壞塊，執行步驟S2至步驟S4進行測試。

4.一種非易失存儲器壞塊測試系統，其特征在于，包括：

非易失存儲模塊，沒有壞塊的非易失存儲器；

壞塊標記模塊，用于標記非易失存儲模塊上的至少一個塊為壞塊；

燒錄模塊，將嵌入式軟件燒錄入所述非易失存儲模塊；

運行模塊，運行所述嵌入式軟件；

判斷模塊，用于判斷所述嵌入式軟件是否合格；

標記擦除模塊；

若所述嵌入式軟件不能正常運行，則所述嵌入式軟件不合格；若所述嵌入式軟件能正常運行，將所述塊的標記擦除，并標記所述非易失存儲器的另一個塊為壞塊，重復檢測；

記錄模塊，依次一個一個塊的檢測，或者標記一個區域的塊均為壞塊進行檢測，并記錄檢測結果。