[發(fā)明專利]一種基于聯(lián)合估計的電磁發(fā)射建模方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710475417.7 | 申請日: | 2017-06-21 |
| 公開(公告)號: | CN107273620B | 公開(公告)日: | 2020-10-16 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 謝樹果;郝旭春;張衛(wèi)東 | 申請(專利權(quán))人: | 北京航空航天大學(xué) |
| 主分類號: | G06F30/20 | 分類號: | G06F30/20 |
| 代理公司: | 北京永創(chuàng)新實專利事務(wù)所 11121 | 代理人: | 趙文穎 |
| 地址: | 100191*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 聯(lián)合 估計 電磁 發(fā)射 建模 方法 | ||
本發(fā)明公開了一種基于聯(lián)合估計的電磁發(fā)射建模方法,可以在僅測得輸出信號幅度譜的情況下,結(jié)合一些先驗知識,通過聯(lián)合估計的方法,同時對電路板的系統(tǒng)傳遞函數(shù)和發(fā)射源參數(shù)進行估計。包括步驟一、通過分析測試獲得的電磁發(fā)射幅度譜的離散譜頻率間隔,估算發(fā)射源信號重復(fù)頻率步驟二、根據(jù)步驟一中估算出的發(fā)射源信號重復(fù)頻率,通過對占空比遍歷并求誤差函數(shù)最小值的方法,估算發(fā)射源信號的占空比并通過多項式擬合的方式,估算外圍電路的系統(tǒng)傳遞函數(shù)本發(fā)明采用頻譜儀代替矢網(wǎng),可以在僅獲取幅值信息而無相位信息的情況下,完成被試電路板的電磁發(fā)射建模,在只測得輸出信號幅度譜的情況下,結(jié)合一定先驗信息,對被試電路系統(tǒng)傳遞函數(shù)建模。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于PCB板級電磁發(fā)射建模領(lǐng)域,具體是一種基于聯(lián)合估計的電磁發(fā)射建模方法。
背景技術(shù)
隨著PCB板的高度集成化,板內(nèi)的電磁干擾問題日趨嚴(yán)重。因此,在進行PCB板設(shè)計、研發(fā)和優(yōu)化的過程中,準(zhǔn)確的對電路板電磁發(fā)射進行建模顯得越發(fā)重要。
在芯片級電磁發(fā)射建模方面,目前有很多研究。通常,在對有源集成器件模型的描述中,可以將器件描述為無源的電源分布網(wǎng)絡(luò)(PDN,Power Distribution Network)和內(nèi)部源兩大組成部分。PDN描述供電端和I/O(Input/Output)端之間的終端阻抗以及I/O供電情況,是描述器件行為的關(guān)鍵,PDN模型的準(zhǔn)確性直接關(guān)系到模型的精度。目前有許多針對有源集成器件PDN模型的建模方法。ICEM模型采用R-L-C(電阻-電感-電容)電路擬合測量得到的端口網(wǎng)絡(luò)特性,是一種簡單直觀的建模方式。LECCS-core模型考慮了不同模塊之間的耦合,將PDN描述為并聯(lián)的多組R-L-C形式。集成電路I/O接口模型(IMIC,I/O InterfaceModel for Integrated Circuit)可以有效解決建模精度和效率問題。
事實上,對于電磁輻射問題,內(nèi)部源模型的準(zhǔn)確性也很重要。然而,在如時鐘電路或集成電路等大多數(shù)應(yīng)用實例中,內(nèi)部源作為電路的一個組件,不能獨自工作。由于其參數(shù)難以準(zhǔn)確測量,內(nèi)部電磁輻射源的模型很難建立。
在PCB板級建模領(lǐng)域,目前的方法主要是忽略電路具體物理實現(xiàn)細(xì)節(jié),將其看成“黑盒子”,通過對端口特性進行測試,利用簡化的數(shù)學(xué)模型描述電路系統(tǒng)輸入輸出端口響應(yīng)特性?;谶@種思路,近年來有許多建模方法的研究工作,如基于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)(ANN)參數(shù)化建模方法、多元柯西參數(shù)化建模方法、矢量擬合宏建模算法等。受限于算法數(shù)學(xué)模型,所有上述建模方法需要獲得被試電路各端口的振幅和相位信息,才能保證建模的準(zhǔn)確性。目前,常見的端口響應(yīng)特性測試方法是使用矢網(wǎng)測量被試電路的S參數(shù),其測試方案如圖1所示。
然而,就PCB板來說,在很多應(yīng)用中被試電路的輸入信號是其內(nèi)部發(fā)射源源。在這種情況下,通常只能使用頻譜儀,對電磁發(fā)射頻譜進行測試,如圖2。圖2所示的測試方法較圖1所示有以下兩點重要的區(qū)別:第一,采用頻譜儀代替矢網(wǎng),測得的電磁發(fā)射譜只具有幅度信息而沒有相位信息;第二,由于發(fā)射源PCB板的外圍電路無法區(qū)分開來獨立工作,因此難以獲得輸入信號的頻譜,進而被試電路的S參數(shù)難以獲得。基于以上兩點,采用傳統(tǒng)建模方法對被試電路建模的精度受到嚴(yán)重影響。
發(fā)明內(nèi)容
為解決上述建模問題,本發(fā)明提出一種基于聯(lián)合估計的電磁發(fā)射建模方法。該方法基于外圍電路系統(tǒng)傳遞函數(shù)連續(xù)且發(fā)射源形式已知等先驗知識,可以在僅測得電磁發(fā)射幅度譜的情況下,通過聯(lián)合估計的方法,同時對電路板外圍電路的系統(tǒng)傳遞函數(shù)和發(fā)射源源參數(shù)進行估計。
本發(fā)明的一種基于聯(lián)合估計的電磁發(fā)射建模方法,輸入信號為方波信號為例,說明方法的流程,具體步驟如下:
步驟一、通過分析測試獲得的電磁發(fā)射幅度譜的離散譜頻率間隔,估算發(fā)射源信號重復(fù)頻率具體步驟如下:
步驟101、通過測試的電磁發(fā)射幅度譜,計算所有相鄰離散譜線的頻率間隔{Δf|measured};
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