[發明專利]同軸腔介質振蕩器及其制備方法和應用在審
| 申請號： | 201710474155.2 | 申請日： | 2017-06-21 |
| 公開（公告）號： | CN107394333A | 公開（公告）日： | 2017-11-24 |
| 發明（設計）人： | 曲燕霞;朱良凡;吳文書;葉貝貝 | 申請（專利權）人： | 安徽華東光電技術研究所 |
| 主分類號： | H01P7/04 | 分類號： | H01P7/04;H01P7/06;H01P7/10;H01P11/00 |
| 代理公司： | 北京潤平知識產權代理有限公司11283 | 代理人： | 鄒飛艷,張苗 |
| 地址： | 241000 安徽省*** | 國省代碼： | 安徽;34 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 同軸 介質 振蕩器 及其 制備 方法 應用 | ||
1.一種同軸腔介質振蕩器，其特征在于，所述同軸腔介質振蕩器包括內部形成有腔體結構的第一柱體(1)，和套合所述第一柱體(1)的第二柱體(2)，且所述第一柱體(1)和所述第二柱體(2)的兩個端面在各自同一平面上，且所述第一柱體(1)和所述第二柱體(2)的端面的表面為非金屬層表面，所述第一柱體(1)和所述第二柱體(2)的內側面和外側面覆蓋有金屬層。
2.根據權利要求1所述的同軸腔介質振蕩器，其特征在于，端面所在的平面與側面形成的角度為90°。
3.一種根據權利要求1或2所述的同軸腔介質振蕩器的制備方法，其特征在于，所述制備方法包括：將同軸腔介質振蕩器雛形的具有金屬層的端面表面的金屬層去除，制得同軸腔介質振蕩器；其中，
所述同軸腔介質振蕩器雛形包括第一柱體雛形和第二柱體雛形，且所述第一柱體雛形和所述第二柱體雛形的一個端面的表面為金屬層表面，另一個端面的表面為非金屬層表面，所述第一柱體雛形和所述第二柱體雛形的內側面和外側面覆蓋有金屬層。
4.根據權利要求3所述的制備方法，其特征在于，所述同軸腔介質振蕩器雛形的頻率為f，所述同軸腔介質振蕩器的頻率為2f。
5.根據權利要求3或4所述的制備方法，其特征在于，金屬層去除為采用金剛銼銼去。
6.根據權利要求3或4所述的制備方法，其特征在于，所述制備方法還包括將去除了金屬層的端面進行打磨。
7.一種根據權利要求1或2所述的同軸腔介質振蕩器在TEM模式下的應用。
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