[發明專利]一種多層量子點薄膜的制備方法及光電器件在審
| 申請號: | 201710465818.4 | 申請日: | 2017-06-19 |
| 公開(公告)號: | CN109148735A | 公開(公告)日: | 2019-01-04 |
| 發明(設計)人: | 向超宇;錢磊;曹蔚然;楊一行 | 申請(專利權)人: | TCL集團股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L51/56 | 分類號: | H01L51/56;H01L51/50;C08J3/24 |
| 代理公司: | 深圳市君勝知識產權代理事務所(普通合伙) 44268 | 代理人: | 王永文;劉文求 |
| 地址: | 516006 廣東省*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 量子點 薄膜 制備 光電器件 第一層 等離子 反應器 多層 放入 量子點溶液 溶液法制備 交聯反應 有效解決 制備工藝 電離 正交性 量子 疊加 | ||
1.一種多層量子點薄膜的制備方法,其特征在于,包括步驟:
A、預先采用量子點溶液制備成第一層量子點薄膜;
B、將所述第一層量子點薄膜放入HHIC反應器中并通入H2,所述H2電離后形成H等離子,通過所述H等離子使所述第一層量子點薄膜中的量子點交聯;
C、在所述第一層量子點薄膜上依次制備第n層量子點薄膜,每增加一層量子點薄膜,均將疊加形成的n層量子點薄膜放入HHIC反應器中,通過H等離子使每一層量子點薄膜均發生交聯反應,從而制得預定厚度的n層量子點薄膜,所述n大于或等于2。
2.根據權利要求1所述的多層量子點薄膜的制備方法,其特征在于,所述n層量子點薄膜的厚度大于或等于50nm。
3.根據權利要求1所述的多層量子點薄膜的制備方法,其特征在于,所述量子點溶液的濃度小于5%。
4.根據權利要求1所述的多層量子點薄膜的制備方法,其特征在于,所述H等離子的能量為1-100eV。
5.根據權利要求1所述的多層量子點薄膜的制備方法,其特征在于,每一層量子點薄膜的交聯反應時間均為1-30min。
6.根據權利要求1所述的多層量子點薄膜的制備方法,其特征在于,所述n層量子點薄膜中,每一層量子點薄膜中的量子點成分相同,溶劑成分也相同。
7.根據權利要求1所述的多層量子點薄膜的制備方法,其特征在于,所述n層量子點薄膜中,每一層量子點薄膜中的量子點成分不同,溶劑成分相同。
8.根據權利要求1所述的多層量子點薄膜的制備方法,其特征在于,所述n層量子點薄膜中,每一層量子點薄膜中的量子點成分不同,溶劑成分也不相同。
9.根據權利要求1所述的多層量子點薄膜的制備方法,其特征在于,采用旋涂、打印、轉印或涂布的方式,將所述量子點溶液制備成量子點薄膜。
10.一種光電器件,包括一由多層量子點薄膜組成的量子點發光層,其特征在于,所述多層量子點薄膜采用權利要去1-9任意一項所述的方法制備而成。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L51-00 使用有機材料作有源部分或使用有機材料與其他材料的組合作有源部分的固態器件;專門適用于制造或處理這些器件或其部件的工藝方法或設備
H01L51-05 .專門適用于整流、放大、振蕩或切換且并具有至少一個電位躍變勢壘或表面勢壘的;具有至少一個電位躍變勢壘或表面勢壘的電容器或電阻器
H01L51-42 .專門適用于感應紅外線輻射、光、較短波長的電磁輻射或微粒輻射;專門適用于將這些輻射能轉換為電能,或者適用于通過這樣的輻射進行電能的控制
H01L51-50 .專門適用于光發射的,如有機發光二極管
H01L51-52 ..器件的零部件
H01L51-54 .. 材料選擇





