[發明專利]一種崔盤、陣列測量系統及方法

在審

• 申請號: 201710458282.3
• 申請日: 2017-06-16
• 公開（公告）號: CN107014415A
• 公開（公告）日: 2017-08-04
• 發明（設計）人: 劉濤
• 申請（專利權）人: 東莞市奧銘測控智能科技有限公司
• 主分類號: G01D11/00
• 分類號: G01D11/00
• 代理公司: 深圳市恒申知識產權事務所(普通合伙)44312
• 代理人: 王利彬

技術領域

本發明屬于自動化檢測領域，尤其涉及一種崔盤、陣列測量系統及方法。

背景技術

在工業生產中，需要對生產出來的產品進行檢測。對于同一類產品，傳統的檢測方法是采用手動或全自動的測量儀器對整盤的該類產品進行檢測，檢測時，需要將產品單個取出來進行測量，測量完成后再對下一個產品按照同樣的步驟進行測量。此測量方法的測量速度非常慢，使得測量效率很低，且測量過程中需要大量的人工操作，由于人為的誤差會使得測量結果的準確率降低。

發明內容

本發明提供了一種崔盤、陣列測量系統及方法，旨在解決現有的產品測量效率低下，測量結果準確率低的問題。

為解決上述技術問題，本發明是這樣實現的，本發明提供了一種崔盤：

所述崔盤內包括若干個以陣列方式排列的固定區域，每個所述固定區域用于固定待測產品，以使擺放后的每一行的所述待測產品的橫軸線與所述崔盤的橫邊框平行，且每一列的所述待測產品的縱軸線與所述崔盤的縱邊框平行。

進一步地，所述固定區域為凹槽結構，其凹槽形狀與所述待測產品形狀匹配。

進一步地，所述崔盤的盤框為正方形結構或長方形結構。

本發明還提供了一種陣列測量系統，所述系統包括上述的崔盤；所述系統還包括：

工作臺，用于擺放所述崔盤；

智能終端，用于根據所述崔盤內放置有待測產品的固定區域的行數、列數以及兩個相鄰固定區域之間的行間距與列間距，計算生成陣列測量指令，并將所述陣列測量指令發送至測量儀器；

所述測量儀器，用于按照所述陣列測量指令依次對所述崔盤內的每個待測產品進行測量，將得到的每一個所述待測產品的測量數據發送至所述智能終端；

所述智能終端，還用于基于標準產品的定標數據及每個所述待測產品的測量數據，依次確定每個所述待測產品是否合格并顯示確定結果。

進一步地，所述工作臺包含直角夾具，以使所述崔盤的其中一個直角的兩邊與直角夾具對齊。

本發明還提供了一種陣列測量方法，所述方法應用于上述的陣列測量系統；所述方法包括：

智能終端根據崔盤內放置有待測產品的固定區域的行數、列數以及兩個相鄰固定區域之間的行間距與列間距，計算生成陣列測量指令，并將所述陣列測量指令發送至測量儀器；

所述測量儀器按照所述陣列測量指令依次對所述崔盤內的每個待測產品進行測量，將得到的每一個所述待測產品的測量數據發送至所述智能終端；

智能終端基于標準產品的定標數據及每個所述待測產品的測量數據，依次確定每個所述待測產品是否合格并顯示確定結果。

進一步地，所述方法還包括：所述測量儀器對放置于所述崔盤內的標準產品進行測量，以得到所述標準產品的定標數據，并將所述標準產品的定標數據發送至所述智能終端。

進一步地，所述測量儀器按照所述陣列測量指令依次對所述崔盤內的每個待測產品進行測量包括：所述測量儀器按照所述陣列測量指令中所包含的移動順序進行移動，依次對所述崔盤內的每個待測產品進行測量。

進一步地，所述智能終端基于標準產品的定標數據及每個所述待測產品的測量數據，依次確定每個所述待測產品是否合格包括：所述智能終端將每個所述待測產品的測量數據與所述標準產品的定標數據進行差值計算，得到所述待測產品的差值結果；若判斷所述待測產品的差值結果大于預設公差，則確定所述待測產品不合格。

本發明與現有技術相比，有益效果在于：

本發明提供了一種崔盤，崔盤內的若干個同規格的待測產品以陣列的方式進行排列擺放。本發明還提供了一種應用該崔盤的陣列測量系統，該系統中的測量儀器按照智能終端的陣列測量指令對崔盤內的待測產品進行自動有序的測量，由于無需對單個待測產品一個個進行離盤檢測，而直接對整個崔盤上的所有產品直接進行自動測量，從而大大地減少了裝盤、卸盤的時間，提高了產品測量的效率。且由于減少了人為的操作過程，降低了人為操作而導致的誤差，使得測量結果準確率大大提高。

附圖說明

圖1是本發明實施例提供的崔盤示意圖；

圖2是本發明實施例提供的陣列測量系統示意圖；

圖3是本發明實施例提供的工作臺示意圖；

圖4是本發明實施例提供的崔盤示意圖；

圖5是本發明實施例提供的智能終端上的主頁面示意圖；

圖6是本發明實施例提供的智能終端上的測量結果示意圖；

圖7是本發明實施例提供的陣列測量方法流程圖。

具體實施方式