[發(fā)明專利]一種崔盤、陣列測(cè)量系統(tǒng)及方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710458282.3 | 申請(qǐng)日: | 2017-06-16 |
| 公開(公告)號(hào): | CN107014415A | 公開(公告)日: | 2017-08-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 劉濤 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 東莞市奧銘測(cè)控智能科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01D11/00 | 分類號(hào): | G01D11/00 |
| 代理公司: | 深圳市恒申知識(shí)產(chǎn)權(quán)事務(wù)所(普通合伙)44312 | 代理人: | 王利彬 |
| 地址: | 523000 廣東省東莞*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 陣列 測(cè)量 系統(tǒng) 方法 | ||
1.一種崔盤,其特征在于,所述崔盤內(nèi)包括若干個(gè)以陣列方式排列的固定區(qū)域,每個(gè)所述固定區(qū)域用于固定待測(cè)產(chǎn)品,以使擺放后的每一行的所述待測(cè)產(chǎn)品的橫軸線與所述崔盤的橫邊框平行,且每一列的所述待測(cè)產(chǎn)品的縱軸線與所述崔盤的縱邊框平行。
2.如權(quán)利要求1所述的崔盤,其特征在于,所述固定區(qū)域?yàn)榘疾劢Y(jié)構(gòu),其凹槽形狀與所述待測(cè)產(chǎn)品形狀匹配。
3.如權(quán)利要求1所述的崔盤,其特征在于,所述崔盤的盤框?yàn)檎叫谓Y(jié)構(gòu)或長(zhǎng)方形結(jié)構(gòu)。
4.一種陣列測(cè)量系統(tǒng),其特征在于,所述系統(tǒng)包括如權(quán)利要求1至3所述的崔盤;所述系統(tǒng)還包括:
工作臺(tái),用于擺放所述崔盤;
智能終端,用于根據(jù)所述崔盤內(nèi)放置有待測(cè)產(chǎn)品的固定區(qū)域的行數(shù)、列數(shù)以及兩個(gè)相鄰固定區(qū)域之間的行間距與列間距,計(jì)算生成陣列測(cè)量指令,并將所述陣列測(cè)量指令發(fā)送至測(cè)量?jī)x器;
所述測(cè)量?jī)x器,用于按照所述陣列測(cè)量指令依次對(duì)所述崔盤內(nèi)的每個(gè)待測(cè)產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)量,將得到的每一個(gè)所述待測(cè)產(chǎn)品的測(cè)量數(shù)據(jù)發(fā)送至所述智能終端;
所述智能終端,還用于基于標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品的定標(biāo)數(shù)據(jù)及每個(gè)所述待測(cè)產(chǎn)品的測(cè)量數(shù)據(jù),依次確定每個(gè)所述待測(cè)產(chǎn)品是否合格并顯示確定結(jié)果。
5.如權(quán)利要求4所述的系統(tǒng),其特征在于,所述工作臺(tái)包含直角夾具,以使所述崔盤的其中一個(gè)直角的兩邊與直角夾具對(duì)齊。
6.一種陣列測(cè)量方法,其特征在于,所述方法應(yīng)用于如權(quán)利要求4或5所述的陣列測(cè)量系統(tǒng);所述方法包括:
智能終端根據(jù)崔盤內(nèi)放置有待測(cè)產(chǎn)品的固定區(qū)域的行數(shù)、列數(shù)以及兩個(gè)相鄰固定區(qū)域之間的行間距與列間距,計(jì)算生成陣列測(cè)量指令,并將所述陣列測(cè)量指令發(fā)送至測(cè)量?jī)x器;
所述測(cè)量?jī)x器按照所述陣列測(cè)量指令依次對(duì)所述崔盤內(nèi)的每個(gè)待測(cè)產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)量,將得到的每一個(gè)所述待測(cè)產(chǎn)品的測(cè)量數(shù)據(jù)發(fā)送至所述智能終端;
智能終端基于標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品的定標(biāo)數(shù)據(jù)及每個(gè)所述待測(cè)產(chǎn)品的測(cè)量數(shù)據(jù),依次確定每個(gè)所述待測(cè)產(chǎn)品是否合格并顯示確定結(jié)果。
7.如權(quán)利要求6所述的方法,其特征在于,所述方法還包括:
所述測(cè)量?jī)x器對(duì)放置于所述崔盤內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)量,以得到所述標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品的定標(biāo)數(shù)據(jù),并將所述標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品的定標(biāo)數(shù)據(jù)發(fā)送至所述智能終端。
8.如權(quán)利要求6所述的方法,其特征在于,所述測(cè)量?jī)x器按照所述陣列測(cè)量指令依次對(duì)所述崔盤內(nèi)的每個(gè)待測(cè)產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)量包括:
所述測(cè)量?jī)x器按照所述陣列測(cè)量指令中所包含的移動(dòng)順序進(jìn)行移動(dòng),依次對(duì)所述崔盤內(nèi)的每個(gè)待測(cè)產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)量。
9.如權(quán)利要求6所述的方法,其特征在于,所述智能終端基于標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品的定標(biāo)數(shù)據(jù)及每個(gè)所述待測(cè)產(chǎn)品的測(cè)量數(shù)據(jù),依次確定每個(gè)所述待測(cè)產(chǎn)品是否合格包括:
所述智能終端將每個(gè)所述待測(cè)產(chǎn)品的測(cè)量數(shù)據(jù)與所述標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品的定標(biāo)數(shù)據(jù)進(jìn)行差值計(jì)算,得到所述待測(cè)產(chǎn)品的差值結(jié)果;
若判斷所述待測(cè)產(chǎn)品的差值結(jié)果大于預(yù)設(shè)公差,則確定所述待測(cè)產(chǎn)品不合格。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于東莞市奧銘測(cè)控智能科技有限公司,未經(jīng)東莞市奧銘測(cè)控智能科技有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201710458282.3/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01D 非專用于特定變量的測(cè)量;不包含在其他單獨(dú)小類中的測(cè)量?jī)蓚€(gè)或多個(gè)變量的裝置;計(jì)費(fèi)設(shè)備;非專用于特定變量的傳輸或轉(zhuǎn)換裝置;未列入其他類目的測(cè)量或測(cè)試
G01D11-00 非專用于特定變量的測(cè)量裝置的組件
G01D11-02 .可動(dòng)部件的軸承或懸掛
G01D11-08 .平衡運(yùn)動(dòng)部件的元件
G01D11-10 .阻尼部件運(yùn)動(dòng)的元件
G01D11-16 .限制或防止部件運(yùn)動(dòng)的元件,如調(diào)零點(diǎn)用的
G01D11-20 .可動(dòng)部件不使用時(shí)的鎖定裝置
- 測(cè)量設(shè)備、測(cè)量系統(tǒng)及測(cè)量方法
- 測(cè)量裝置、測(cè)量配件和測(cè)量方法
- 測(cè)量尺的測(cè)量組件及測(cè)量尺
- 測(cè)量輔助裝置、測(cè)量裝置和測(cè)量系統(tǒng)
- 測(cè)量觸頭、測(cè)量組件和測(cè)量裝置
- 測(cè)量觸頭、測(cè)量組件和測(cè)量裝置
- 測(cè)量容器、測(cè)量系統(tǒng)及測(cè)量方法
- 測(cè)量裝置、測(cè)量系統(tǒng)、測(cè)量程序以及測(cè)量方法
- 測(cè)量裝置、測(cè)量系統(tǒng)及測(cè)量方法
- 測(cè)量電路、測(cè)量方法及測(cè)量設(shè)備
- 一種數(shù)據(jù)庫(kù)讀寫分離的方法和裝置
- 一種手機(jī)動(dòng)漫人物及背景創(chuàng)作方法
- 一種通訊綜合測(cè)試終端的測(cè)試方法
- 一種服裝用人體測(cè)量基準(zhǔn)點(diǎn)的獲取方法
- 系統(tǒng)升級(jí)方法及裝置
- 用于虛擬和接口方法調(diào)用的裝置和方法
- 線程狀態(tài)監(jiān)控方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)
- 一種JAVA智能卡及其虛擬機(jī)組件優(yōu)化方法
- 檢測(cè)程序中方法耗時(shí)的方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)
- 函數(shù)的執(zhí)行方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)





