[發明專利]一種片上嵌入式Flash的內建自測試結構

有效

• 申請號: 201710454746.3
• 申請日: 2017-06-15
• 公開（公告）號: CN107301880B
• 公開（公告）日: 2020-03-17
• 發明（設計）人: 顏偉;沈拉民;李俊玲
• 申請（專利權）人: 西安微電子技術研究所
• 主分類號: G11C29/12
• 分類號: G11C29/12
• 代理公司: 西安通大專利代理有限責任公司 61200
• 代理人: 強宏超

1.一種片上嵌入式Flash的內建自測試結構，其特征在于：包括自定義控制模塊、FBIST控制器、ERASE模塊和BYPASS模塊；

自定義控制模塊用于擦除操作和讀寫操作的狀態控制與調度；

FBIST控制器為讀寫操作的算法實現電路，FLASH的讀出數據通過FBIST控制器內部比較器與期望值進行自動比對，FBIST控制器讀寫操作的執行受控于自定義控制模塊，通過測試流程控制實現對控制信號的接收、停止或喚醒算法執行以及擦除操作的執行；

ERASE模塊在自定義控制模塊的調度下負責控制FLASH的擦除操作；

BYPASS模塊用于實現電路全掃描測試模式下的FLASH旁路功能；

當FBIST控制器使能后，FBIST控制器發起操作，依據內部控制器狀態機與自定義控制模塊和ERASE模塊的相互配合，實現對其地址、讀寫的序列操作和擦除切換，并將讀出結果與片上比較器進行測試結果比對，輸出結果表征信號，測試結束時，測試完成標識跳高；

在測試過程中若測試存在失效，則依靠診斷模塊，采集失效數據；

診斷模塊由診斷控制、診斷掃描兩個狀態機及保持控制模塊組成，診斷控制狀態機實現整個診斷過程的控制，診斷掃描狀態機用于控制診斷數據的串行輸出。

2.如權利要求1所述的片上嵌入式Flash的內建自測試結構，其特征在于：診斷模塊與FBIST控制器通過信號握手的方式實現整個自測試和診斷工作的進行。

3.如權利要求1所述的片上嵌入式Flash的內建自測試結構，其特征在于：當期望值與實際輸出不匹配時，FBIST控制器的測試失效信號跳高，并通過failure信號與診斷控制狀態機和診斷掃描狀態機交互，同時使能診斷模塊，進入診斷模式，通過保持控制模塊控制BIST電路在失效診斷階段算法的保持和恢復，診斷模塊通過monitor端口并行采集失效時的相關數據，并將失效時的相關數據通過dout端口串行輸出至片外，待失效信息移位完成，FBIST控制器再次啟動，繼續后續的測試算法操作。