[發(fā)明專利]基板色度檢測方法及裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710439652.9 | 申請日: | 2017-06-12 |
| 公開(公告)號: | CN107084927B | 公開(公告)日: | 2020-09-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 藍(lán)雷雷;歐陽昊;張遼;朱景河;黃偉東;李建華 | 申請(專利權(quán))人: | 信利(惠州)智能顯示有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/25 | 分類號: | G01N21/25 |
| 代理公司: | 廣州華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 44224 | 代理人: | 鄧云鵬 |
| 地址: | 516029 廣東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 色度 檢測 方法 裝置 | ||
本發(fā)明涉及一種基板色度檢測方法及裝置,裝置包括:第一位移驅(qū)動機(jī)構(gòu)、第二位移驅(qū)動機(jī)構(gòu)、光源單元、光接收單元和處理單元;光源單元與光接收單元相向且相對設(shè)置,光接收單元與處理單元電連接;光源單元用于對齊待測基板的測試區(qū)域并向待測基板發(fā)射光束,測試區(qū)域?yàn)榇郎y基板在進(jìn)行顯影步驟后的無膜層圖案的區(qū)域;光接收單元用于接收從測試區(qū)域穿透的透射光;處理單元用于對光接收單元接收的透射光進(jìn)行解析,獲取測試區(qū)域的色度值。由于測試區(qū)域的尺寸遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于子像素線寬,通過對測試區(qū)域發(fā)射光束并接收透過測試區(qū)域的透射光,有效避免因子像素過于密集且線寬較小導(dǎo)致混色測量導(dǎo)致的偏差,有效提高色度的檢測精度。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及顯示屏基板檢測技術(shù)領(lǐng)域,特別是涉及基板色度檢測方法及裝置。
背景技術(shù)
液晶顯示器(Liquid Crystal Display,簡稱LCD)被廣泛的應(yīng)用于手機(jī)、電視、筆記本電腦、臺式計(jì)算機(jī)、數(shù)字相機(jī)以及個人數(shù)字助理等各種消費(fèi)性電子產(chǎn)品,成為顯示裝置中的主流。
彩膜(Color Filter,簡稱CF)是實(shí)現(xiàn)LCD彩色顯示的關(guān)鍵材料,決定著顯示器的色彩、亮度和對比度等光學(xué)特性。在CF生產(chǎn)過程中,紅綠藍(lán)(Red,Green,Blue,簡稱RGB)膜層的色度對最終產(chǎn)品的良率有著重要的影響,故需要對RGB膜層的色度進(jìn)行管控。
傳統(tǒng)對RGB膜層的色度檢測是采用分光計(jì)來測量的,在生產(chǎn)過程中利用分光計(jì)對RGB色度進(jìn)行離線測量,對其不能做到時時監(jiān)控,無法做到對異常基板的及時發(fā)現(xiàn)與處理,增加了不良品流入下一制程的風(fēng)險。
傳統(tǒng)的分光計(jì)測量,測量前通過高精度的顯微鏡將像素放大,并將單一子像素選擇出來,接收單元獲取透過單一子像素的透射光譜,經(jīng)過處理后獲得色度值,在測量過程中需要將點(diǎn)光源與光探測頭對準(zhǔn)單一子像素的中心處,而彩膜RGB的單一子像素的線寬一般在20~100μm,故要求測量光束的寬度要小于子像素的線寬且設(shè)備運(yùn)動精度較好,才能防止因混色導(dǎo)致測量的誤差;對于高密度的像素,其子像素線寬小,且子像素之間的間隔較小,在測量時常常出現(xiàn)RGB混色嚴(yán)重,導(dǎo)致測量結(jié)果不準(zhǔn)確的現(xiàn)象。
發(fā)明內(nèi)容
基于此,有必要針對傳統(tǒng)的分光計(jì)對彩膜的色度檢測中,由于子像素的線寬較小,且子像素之間的間隔較小,在測量時常常出現(xiàn)RGB混色嚴(yán)重,導(dǎo)致測量結(jié)果不準(zhǔn)確的現(xiàn)象的缺陷,提供一種基板色度檢測方法及基板色度檢測裝置。
一種基板色度檢測裝置,包括:第一位移驅(qū)動機(jī)構(gòu)、第二位移驅(qū)動機(jī)構(gòu)、光源單元、光接收單元和處理單元;
所述第一位移驅(qū)動機(jī)構(gòu)與所述光源單元驅(qū)動連接,所述第二位移驅(qū)動機(jī)構(gòu)與所述光接收單元驅(qū)動連接,所述光源單元與所述光接收單元相向且相對設(shè)置,且所述光源單元與所述光接收單元用于分別設(shè)置于待測基板的兩側(cè),所述光接收單元與所述處理單元電連接;
所述光源單元用于對齊所述待測基板的測試區(qū)域并向所述待測基板發(fā)射光束,其中所述測試區(qū)域?yàn)樗龃郎y基板在進(jìn)行涂膠、曝光和顯影步驟后的無膜層圖案的區(qū)域;
所述光接收單元用于接收從所述測試區(qū)域穿透的透射光;
所述處理單元用于對所述光接收單元接收的透射光進(jìn)行解析,獲取所述測試區(qū)域的色度值。
在其中一個實(shí)施例中,還包括判斷單元,所述判斷單元與所述處理單元電連接,所述判斷單元用于獲取所述處理單元的所述色度值,判斷所述色度值與預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)值是否匹配,生成判斷信息,輸出所述判斷信息。
在其中一個實(shí)施例中,還包括報警單元,所述報警單元與所述判斷單元電連接,所述報警單元用于在所述色度值與預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)值不匹配時發(fā)出警報。
在其中一個實(shí)施例中,所述光接收單元包括光學(xué)顯微鏡和圖像傳感器,所述光學(xué)顯微鏡用于對所述測試區(qū)域進(jìn)行光學(xué)放大,所述圖像傳感器用于通過所述光學(xué)顯微鏡獲取所述測試區(qū)域的圖像。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





