[發明專利]一種曲線擬合的檢驗方法在審
| 申請號: | 201710429498.7 | 申請日: | 2017-06-08 |
| 公開(公告)號: | CN108228534A | 公開(公告)日: | 2018-06-29 |
| 發明(設計)人: | 韓超;季統凱 | 申請(專利權)人: | 國云科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G06F17/15 | 分類號: | G06F17/15 |
| 代理公司: | 廣東莞信律師事務所 44332 | 代理人: | 余倫 |
| 地址: | 523808 廣東省東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 模型函數 平方和 曲線擬合 數據集 對數函數 使用數據 數據分析 線性模型 最優模型 關聯性 冪函數 求解 檢驗 挖掘 分析 | ||
1.一種曲線擬合的檢驗方法,其特征在于:所述的方法是先設定相關性判斷值;然后,對數據集進行相關性分析,如果相關性r大于判斷值,表示關聯性極強,則使用線性模型函數;否則,使用數據集對多項式二次、多項式三次、多項式五次、冪函數和對數函數這五種模型函數分別進行計算,求解各模型函數的系數,得到具體的模型函數;然后比較各個點到模型函數距離的平方和的大小,和越小表示擬合的效果越佳,可選擇平方和值小的模型函數。
2.根據權利要求1所述的曲線擬合的檢驗方法,其特征在于:所述的模型函數的數學表達式分別如下:
(1)y=ax+b,線性函數;
(2)y=ax2+bx+c,多項式二次函數;
(3)y=ax3+bx2+c,多項式三次函數;
(4)y=ax5+bx4+cx3+dx2+ex+c,多項式五次函數;
(5)y=axb,冪函數;
(6)y=a log x+b,對數函數。
3.根據權利要求1所述的曲線擬合的檢驗方法,其特征在于:所述的相關性r的判斷值設定為0.8。
4.根據權利要求2所述的曲線擬合的檢驗方法,其特征在于:所述的相關性r的判斷值設定為0.8。
5.根據權利要求1至4任一項所述的曲線擬合的檢驗方法,其特征在于:使用點到直線的距離的平方和作為衡量的標準,即在曲線上存在某點,使得這點的切線與數據集的某點的連線與切線垂直,并得到其距離。
6.根據權利要求5所述的曲線擬合的檢驗方法,其特征在于:所述的方法詳細流程如下:
(1)、讀取外部數據進入緩存;
(2)、分析數據集的相關系數:當ρ>0.8時,直接選擇線性擬合,結束本流程;當ρ<0.2時,執行下一步;
(3)、按順序選擇五種模型函數之中的一種計算集合點到曲線的距離的平方和;設曲線為f(x,y)=0,O點為曲線上的切點,則切向量則通過計算以上兩方程即可得到切點位置;
(4)、計算距離的平方和。
(5)、存儲上一步的距離計算結果d,重復第三步計算,直到所有模型函數的被計算完畢,得到五個距離平方和結果;
(6)、通過對比計算結果,找到最小的距離結果對應的模型函數即為最優的模型函數。
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