[發明專利]實時時鐘校準方法及裝置、存儲介質、電子設備有效
| 申請號: | 201710423078.8 | 申請日: | 2017-06-07 |
| 公開(公告)號: | CN107272821B | 公開(公告)日: | 2020-02-21 |
| 發明(設計)人: | 朱曉飛;萬峰;袁俊;陳光勝 | 申請(專利權)人: | 上海東軟載波微電子有限公司 |
| 主分類號: | G06F1/14 | 分類號: | G06F1/14 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產權代理有限公司 11227 | 代理人: | 潘彥君;吳敏 |
| 地址: | 200235 上海市徐匯區*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 實時 時鐘 校準 方法 裝置 存儲 介質 電子設備 | ||
一種實時時鐘校準方法及裝置、存儲介質、電子設備,所述方法包括:獲取當前溫度值;從預設的頻率偏差與溫度值的映射關系中,獲取與當前溫度值對應的頻率偏差;根據所述當前溫度值對應的頻率偏差,對實時時鐘進行校準;其中:頻率偏差與溫度值的映射關系包括:樣本第一二次曲線及樣本第二二次曲線,采用如下步驟生成:獲取在不同溫度值下,樣本中每一顆晶體的實測振蕩頻率與標定振蕩頻率的頻率差值;計算樣本中每一顆晶體對應的頻率差值相對于第一溫度值下對應晶體的頻率差值的偏差;將溫度值不大于第一溫度值的所有偏差擬合出樣本第一二次曲線,將溫度值不小于第一溫度值對應的所有偏差擬合出樣本第二二次曲線。上述方案能夠提高RTC計時精度。
技術領域
本發明涉及實時時鐘領域,尤其涉及一種實時時鐘校準方法及裝置、存儲介質、電子設備。
背景技術
在嵌入式系統中,實時時鐘(Real Time Clock,RTC)是一種高密度集成的專用模塊,能夠實現保持跟蹤時間、日期和年月等功能,確保計時精確可靠。
實時時鐘通常采用精度較高的晶體振蕩器作為時鐘源。由于晶體振蕩頻率會隨著溫度呈現二次曲線漂移,導致RTC模塊隨溫度變化產生頻率偏差,進而導致計時誤差。為降低計時誤差,RTC模塊中通常加入了溫度補償電路,通過溫度補償電路,將計時誤差控制在±5PPM(Percent Per Million,百萬分之一)的范圍內,保證一天的計時精度誤差在0.5秒內。
溫度補償電路通常是采用微控制單元(Micro Controller Unit,MCU)芯片內部或者外部的溫度傳感器測量溫度值,根據“溫度—頻率特性曲線”得出該溫度值對應的頻率偏差值,MCU通過修改秒脈沖分頻值實現補償修正。因此,“溫度—頻率特性曲線”,也即RTC模塊中的晶體的頻率偏差與溫度值的映射關系的準確性直接決定了計時精度誤差。
現有技術中,晶體的頻率偏差與溫度值的映射關系的誤差較大,導致RTC的計時精度誤差較大。
發明內容
本發明實施例解決的技術問題是如何降低晶體的頻率偏差與溫度值的映射關系的誤差,提高RTC的計時精度。
為解決上述技術問題,本發明實施例提供一種實時時鐘校準方法,包括:獲取當前溫度值;從預設的頻率偏差與溫度值的映射關系中,獲取與當前溫度值對應的頻率偏差;根據所述當前溫度值對應的頻率偏差,對所述實時時鐘進行校準;其中:所述預設的頻率偏差與溫度值的映射關系包括:樣本第一二次曲線以及樣本第二二次曲線,所述樣本第一二次曲線和所述樣本第二二次曲線采用如下步驟生成:獲取在不同溫度值下,樣本中每一顆晶體的實測振蕩頻率與標定振蕩頻率的頻率差值;計算所述樣本中每一顆晶體對應的頻率差值相對于第一溫度值下對應晶體的頻率差值的偏差;將溫度值不大于所述第一溫度值的所有偏差擬合出所述樣本第一二次曲線,將溫度值不小于所述第一溫度值對應的所有偏差擬合出所述樣本第二二次曲線。
可選的,所述將溫度值不大于所述第一溫度值的所有偏差擬合出所述樣本第一二次曲線,包括:計算在所有不大于所述第一溫度值的每一溫度值下所述樣本中每一顆晶體對應的偏差的算術平均數,作為所有不大于所述第一溫度值的每一溫度值對應的第一算術平均數;根據所述所有不大于所述第一溫度值的每一溫度值及其對應的所述第一算術平均數,擬合出所述樣本第一二次曲線。
可選的,所述將溫度值不小于所述第一溫度值的所有偏差擬合出所述樣本第二二次曲線,包括:計算在所有不小于所述第一溫度值的每一溫度值下所述樣本中每一顆晶體對應的偏差的算術平均數,作為所有不小于所述第一溫度值的每一溫度值對應的第二算術平均數;根據所述所有不小于所述第一溫度值的每一溫度值及其對應的所述第二算術平均數,擬合出所述樣本第二二次曲線。
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