[發(fā)明專利]實時時鐘校準方法及裝置、存儲介質(zhì)、電子設(shè)備有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710423078.8 | 申請日： | 2017-06-07 |
| 公開（公告）號： | CN107272821B | 公開（公告）日： | 2020-02-21 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 朱曉飛;萬峰;袁俊;陳光勝 | 申請（專利權(quán)）人： | 上海東軟載波微電子有限公司 |
| 主分類號： | G06F1/14 | 分類號： | G06F1/14 |
| 代理公司： | 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227 | 代理人： | 潘彥君;吳敏 |
| 地址： | 200235 上海市徐匯區(qū)*** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 實時 時鐘 校準 方法 裝置 存儲 介質(zhì) 電子設(shè)備 | ||
1.一種實時時鐘校準方法，其特征在于，包括：
獲取當(dāng)前溫度值；
從預(yù)設(shè)的頻率偏差與溫度值的映射關(guān)系中，獲取與當(dāng)前溫度值對應(yīng)的頻率偏差；
根據(jù)所述當(dāng)前溫度值對應(yīng)的頻率偏差，對所述實時時鐘進行校準；其中：
所述預(yù)設(shè)的頻率偏差與溫度值的映射關(guān)系包括：樣本第一二次曲線以及樣本第二二次曲線，所述樣本第一二次曲線和所述樣本第二二次曲線采用如下步驟生成：獲取在不同溫度值下，樣本中每一顆晶體的實測振蕩頻率與標定振蕩頻率的頻率差值；計算所述樣本中每一顆晶體對應(yīng)的頻率差值相對于第一溫度值下對應(yīng)晶體的頻率差值的偏差；將溫度值不大于所述第一溫度值的所有偏差擬合出所述樣本第一二次曲線，將溫度值不小于所述第一溫度值對應(yīng)的所有偏差擬合出所述樣本第二二次曲線；
所述預(yù)設(shè)的頻率偏差與溫度值的映射關(guān)系還包括：待測試晶體的第一二次曲線和待測試晶體的第二二次曲線；所述待測試晶體的第一二次曲線和所述待測試晶體的第二二次曲線采用如下步驟生成：獲取在不同溫度值下，所述樣本中每一顆晶體的實測振蕩頻率與標定振蕩頻率的頻率差值；計算所述樣本中每一顆晶體對應(yīng)的頻率差值相對于第一溫度值下對應(yīng)晶體的頻率差值的偏差；獲取所述樣本中每一顆晶體的溫度值不大于所述第一溫度值的所有偏差，分別擬合出所述樣本中每一顆晶體的第一二次曲線；獲取所述樣本中每一顆晶體的第一二次曲線的開口系數(shù)及對稱軸；計算所述樣本中每一顆晶體的第一二次曲線的開口系數(shù)的算術(shù)平均數(shù)，作為所述待測試晶體的第一二次曲線的開口系數(shù)；計算所述樣本中每一顆晶體的第一二次曲線的對稱軸的算術(shù)平均數(shù)；獲取所述樣本中每一顆晶體的溫度值不小于所述第一溫度值的所有偏差，分別擬合出所述樣本中每一顆晶體的第二二次曲線；獲取所述樣本中每一顆晶體的第二二次曲線的對稱軸；計算所述樣本中每一顆晶體的第二二次曲線的開口系數(shù)的算術(shù)平均數(shù)以及對稱軸的算術(shù)平均數(shù)；將所述樣本中每一顆晶體的第一二次曲線的對稱軸的算術(shù)平均數(shù)與所述樣本中每一顆晶體的第二二次曲線的對稱軸的算術(shù)平均數(shù)相減，得到的差值作為預(yù)設(shè)值；在第二溫度值下，計算待測試晶體的實測振蕩頻率與標定振蕩頻率的頻率差值；計算所述待測試晶體對應(yīng)的頻率差值相對于所述第一溫度值下對應(yīng)的頻率差值的偏差；將所述樣本中每一顆晶體的第二二次曲線的開口系數(shù)的算術(shù)平均數(shù)，作為所述待測試晶體的第二二次曲線的開口系數(shù)；根據(jù)第二溫度值下所述待測試晶體對應(yīng)的頻率差值相對于所述第一溫度值下對應(yīng)的頻率差值的偏差，以及所述待測試晶體的第二二次曲線的開口系數(shù)，計算所述待測試晶體的第二二次曲線的對稱軸；將所述待測試晶體對應(yīng)的第二二次曲線的對稱軸與所述預(yù)設(shè)值相加，得到的和值作為所述待測試晶體對應(yīng)的第一二次曲線的對稱軸；所述第二溫度值大于所述第一溫度值。
2.如權(quán)利要求1所述的實時時鐘校準方法，其特征在于，所述將溫度值不大于所述第一溫度值的所有偏差擬合出所述樣本第一二次曲線，包括：
計算在所有不大于所述第一溫度值的每一溫度值下所述樣本中每一顆晶體對應(yīng)的偏差的算術(shù)平均數(shù)，作為所有不大于所述第一溫度值的每一溫度值對應(yīng)的第一算術(shù)平均數(shù)；
根據(jù)所述所有不大于所述第一溫度值的每一溫度值及其對應(yīng)的所述第一算術(shù)平均數(shù)，擬合出所述樣本第一二次曲線。
3.如權(quán)利要求1所述的實時時鐘校準方法，其特征在于，所述將溫度值不小于所述第一溫度值的所有偏差擬合出所述樣本第二二次曲線，包括：
計算在所有不小于所述第一溫度值的每一溫度值下所述樣本中每一顆晶體對應(yīng)的偏差的算術(shù)平均數(shù)，作為所有不小于所述第一溫度值的每一溫度值對應(yīng)的第二算術(shù)平均數(shù)；
根據(jù)所述所有不小于所述第一溫度值的每一溫度值及其對應(yīng)的所述第二算術(shù)平均數(shù)，擬合出所述樣本第二二次曲線。
4.如權(quán)利要求1所述的實時時鐘校準方法，其特征在于，所述第一溫度值為23℃，所述第二溫度值為70℃。
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