[發明專利]一種薄膜晶體管及其制作方法、顯示面板有效
| 申請號: | 201710416020.0 | 申請日: | 2017-06-05 |
| 公開(公告)號: | CN107204289B | 公開(公告)日: | 2019-11-08 |
| 發明(設計)人: | 李海旭;曹占鋒;姚琪;汪建國;孟凡娜 | 申請(專利權)人: | 京東方科技集團股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/3213 | 分類號: | H01L21/3213;H01L29/786 |
| 代理公司: | 北京安信方達知識產權代理有限公司 11262 | 代理人: | 林桐苒;李丹 |
| 地址: | 100015 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 薄膜晶體管 及其 制作方法 顯示 面板 | ||
1.一種薄膜晶體管制作方法,其特征在于,包括:
形成金屬薄膜;
對所述金屬薄膜進行處理,使金屬薄膜的表面上形成配合層;所述配合層用于與光刻膠作用產生氫鍵;所述對金屬薄膜進行處理,包括利用濕法刻蝕設備采用指定溶液對金屬薄膜進行處理;所述配合層中包括:用于與光刻膠產生氫鍵的三嗪環、亞胺基團、酰胺基團和芳香環;
通過構圖工藝形成電極。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,指定溶液中的溶劑為二甲基甲酰胺,溶質為合成物溶液與硝酸溶液的混合液,所述合成物的分子式為C57H42N12O6·H2O。
3.根據權利要求2所述的方法,其特征在于,合成物溶液的質量百分比為30%-50%。
4.根據權利要求2所述的方法,其特征在于,處理的時間大于或者等于2分鐘,處理的溫度為40-50攝氏度。
5.根據權利要求1-4任一所述的方法,其特征在于,通過構圖工藝形成電極包括:
在金屬薄膜上涂覆光刻膠;
對所述光刻膠進行曝光和顯影處理;
對金屬薄膜進行刻蝕處理;
剝離光刻膠,形成電極;
其中,對光刻膠進行曝光和顯影處理與形成配合層的時間間隔小于或者等于30分鐘。
6.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述電極為柵電極和/或源漏電極。
7.一種薄膜晶體管,其特征在于,包括:柵電極和源漏電極;
柵電極和/或源漏電極為包括配合層和導電層的電極,所述配合層覆蓋所述導電層,其中,配合層用于與光刻膠作用產生氫鍵,所述配合層通過利用濕法刻蝕設備采用指定溶液對金屬薄膜進行處理形成的,所述配合層中包括用于與光刻膠產生氫鍵的三嗪環、亞胺基團、酰胺基團和芳香環。
8.根據權利要求7所述的薄膜晶體管,其特征在于,所述導電層的材料為金屬。
9.一種顯示面板,其特征在于,包括如權利要求7或8所述的薄膜晶體管。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于京東方科技集團股份有限公司,未經京東方科技集團股份有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201710416020.0/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:音響(便攜式)
- 下一篇:天花燈(ZC?G?65)
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





