[發(fā)明專利]一種攝像模組、電子設備、污點修復方法及系統

在審

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• 申請日: 2017-06-01
• 公開（公告）號: CN106973291A
• 公開（公告）日: 2017-07-21
• 發(fā)明（設計）人: 何純萍
• 申請（專利權）人: 信利光電股份有限公司
• 主分類號: H04N17/00
• 分類號: H04N17/00
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司11227
• 代理人: 王寶筠

技術領域

本申請涉及圖像處理技術領域，更具體地說，涉及一種攝像模組、電子設備、污點修復方法及系統。

背景技術

隨著電子設備的不斷發(fā)展，在電子設備中集成攝像模組，以實現攝像功能成為廠家和消費者追逐的潮流之一。

攝像模組通常由底座、鏡頭模組和感光芯片組成，其中鏡頭模組通常包括鏡頭、濾光片和驅動鏡頭移動的馬達。在攝像模組出廠之前需要進行污點檢測，避免由于攝像模組中的污點造成的拍攝功能不良。一旦檢測到攝像模組拍攝的照片中有污點存在，那么該攝像模組就需要進行返廠維修后重新裝配，這一過程無疑會增加攝像模組的制備成本。

發(fā)明內容

為解決上述技術問題，本發(fā)明提供了一種攝像模組、電子設備、污點修復方法及系統，以解決由于污點造成的攝像模組返修而導致的攝像模組成本提高的問題。

為解決上述技術問題，本發(fā)明實施例提供了如下技術方案：

一種污點修復方法，應用于攝像模組，所述攝像模組包括鏡頭模組和感光芯片，所述鏡頭模組包括濾光片；所述污點修復方法包括：

在所述攝像模組拍攝照片時，檢測所述濾光片和感光芯片表面的污點；

根據檢測到的污點位置對所述攝像模組拍攝的照片進行污點修復處理。

可選的，所述根據檢測到的污點位置對所述攝像模組拍攝的照片進行污點修復處理包括：

根據檢測到的污點位置確定所述照片中與所述污點位置對應的待處理位置；

利用待處理位置預設范圍內圖像的像素點對所述待處理位置進行污點修復處理。

可選的，所述利用待處理位置預設范圍內圖像的像素點對所述待處理位置進行污點修復處理包括：

將所述待處理位置預設范圍內圖像的像素點作為樣本點；

根據所述樣本點的特征參數對所述待處理位置進行污點修復處理。

可選的，所述特征參數包括：紋理、光照、透明度和陰影參數。

一種污點修復系統，應用于攝像模組，所述攝像模組包括鏡頭模組和感光芯片，所述鏡頭模組包括濾光片；所述污點修復系統包括：

污點檢測模塊，用于在所述攝像模組拍攝照片時，檢測所述濾光片和感光芯片表面的污點；；

修復模塊，用于根據檢測到的污點位置對所述攝像模組拍攝的照片進行污點修復處理。

可選的，所述修復模塊包括：

位置確定單元，用于根據檢測到的污點位置確定所述照片中與所述污點位置對應的待處理位置；

處理單元，用于利用待處理位置預設范圍內圖像的像素點對所述待處理位置進行污點修復處理。

可選的，所述處理單元包括：

樣本點確定單元，用于將所述待處理位置預設范圍內圖像的像素點作為樣本點；

污點修復單元，用于根據所述樣本點的特征參數對所述待處理位置進行污點修復處理。

可選的，所述特征參數包括：紋理、光照、透明度和陰影參數。

一種攝像模組，包括鏡頭模組和感光芯片，所述鏡頭模組包括濾光片，還包括：如上述任一項所述的污點修復系統。

一種電子設備，包括如上述所述的攝像模組。

從上述技術方案可以看出，本發(fā)明實施例提供了一種攝像模組、電子設備、污點修復方法及系統，其中，所述污點修復方法在所述攝像模組拍攝照片時，檢測所述濾光片和感光芯片表面的污點，并根據檢測到的污點位置對所述攝像模組拍攝的照片進行污點修復處理，避免了由于濾光片和感光芯片表面存在污點而導致的拍攝照片存在污點的情況，提升了攝像模組的制備良率，從而降低了所述攝像模組的制備成本。

附圖說明

為了更清楚地說明本發(fā)明實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據提供的附圖獲得其他的附圖。

圖1為本申請的一個實施例提供的一種污點修復方法的流程示意圖；

圖2為本申請的另一個實施例提供的一種污點修復方法的流程示意圖；

圖3為本申請的又一個實施例提供的一種污點修復方法的流程示意圖；

圖4為本申請的再一個實施例提供的一種污點修復方法的流程示意圖；

圖5為本申請的一個實施例提供的一種污點修復系統的結構示意圖；

圖6為本申請的另一個實施例提供的一種污點修復系統的結構示意圖；

圖7為本申請的又一個實施例提供的一種污點修復系統的結構示意圖。

具體實施方式