[發(fā)明專利]一種電阻值水分分析儀的誤差修整方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710400874.X | 申請(qǐng)日: | 2017-05-31 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN107144605A | 公開(kāi)(公告)日: | 2017-09-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 尹建輝;程勝利;周俊立 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 合肥艾瑞德電氣有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N27/04 | 分類號(hào): | G01N27/04 |
| 代理公司: | 暫無(wú)信息 | 代理人: | 暫無(wú)信息 |
| 地址: | 230088 安徽省合肥*** | 國(guó)省代碼: | 安徽;34 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 阻值 水分 分析 誤差 修整 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及谷物水分測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種電阻值水分分析儀的誤差修整方法。
背景技術(shù)
谷物含水率是特定谷物中包含的水分與重量的比值,是影響谷物品質(zhì)的一個(gè)重要因素。實(shí)際應(yīng)用中,谷物含水率可以決定了谷物貯藏的安全性,也同樣谷物加工工藝與流通過(guò)程需要用到。例如在谷物的加工過(guò)程需要進(jìn)行干燥,干燥是要達(dá)到減少谷物中水分含量的目的,通常是采用同熱風(fēng)或者直接對(duì)谷物進(jìn)行加熱,以降低谷物的含水率,但是干燥到什么程度可以停止,需要由獲得的谷物含水率進(jìn)行決定。從而,在對(duì)谷物的加工過(guò)程中可以不影響谷物營(yíng)養(yǎng)成分及品質(zhì)。
現(xiàn)有的電阻式谷物水分測(cè)量裝置和方法采用電壓法測(cè)量谷物電阻,但由于谷物電阻很大,特別在谷物含水量較低時(shí),使得測(cè)量信號(hào)弱、信噪比低、不利于信號(hào)傳輸,且谷物所處環(huán)境對(duì)谷物含水率的影響并沒(méi)有考慮進(jìn)去,就會(huì)導(dǎo)致測(cè)量結(jié)果不真實(shí)、不準(zhǔn)確。
可見(jiàn)現(xiàn)有的在線電阻式谷物水分測(cè)量裝置不能準(zhǔn)確的獲得谷物的含水率。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問(wèn)題是提供一種電阻值水分分析儀的誤差修整方法,通過(guò)在目標(biāo)水分值中設(shè)置水分值的修正值,通過(guò)修正值獲得修正后的水分值,以進(jìn)一步提高水分值的測(cè)量結(jié)果。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提供以下的技術(shù)方案:一種電阻值水分分析儀的誤差修整方法,應(yīng)用于水分分析儀的主控器,所述方法包括步驟:
接收目標(biāo)參數(shù)值中的第一水分修訂值;
接收水分測(cè)量請(qǐng)求,控制電機(jī)轉(zhuǎn)動(dòng)碾壓待檢測(cè)谷物,并獲得所述待檢測(cè)谷物的水分值;
根據(jù)所述第一水分修訂值和所述水分值,獲得目標(biāo)水分值。
可選的,所述方法還包括:
對(duì)所述待檢測(cè)谷物所在環(huán)境溫度進(jìn)行溫度檢測(cè),獲得溫度值;
根據(jù)所述溫度值,設(shè)定第二水分修訂值;
所述根據(jù)所述第一水分修訂值和所述水分值,獲得目標(biāo)水分值,包括:
根據(jù)所述第一水分修訂值、第二水分值和所述水分值,獲得目標(biāo)水分值。
可選的,所述方法還包括:
將所述目標(biāo)水分值發(fā)送至顯示設(shè)備,以通過(guò)所述顯示設(shè)備對(duì)所述待檢測(cè)谷物的所述目標(biāo)水分值進(jìn)行顯示,供用戶查看。
可選的,所述對(duì)所述待檢測(cè)谷物所在環(huán)境溫度進(jìn)行溫度檢測(cè),獲得溫度值,包括:
利用溫度傳感器,對(duì)所述待檢測(cè)谷物所在環(huán)境溫度進(jìn)行溫度檢測(cè),獲得溫度值。
可選的,所述根據(jù)所述第一水分修訂值、第二水分值和所述水分值,獲得目標(biāo)水分值,包括:
如果所述溫度值高于預(yù)設(shè)溫度值,則會(huì)根據(jù)所述溫度值和所述預(yù)設(shè)溫度值的所組成的水分修正公式,獲得目標(biāo)水分值;
所述修正公式具體表達(dá)為:
M=M水分值-P1*(T1-T2)-P2
其中,所述M為修正后的所述目標(biāo)水分值,M水分值為所述水分值,P1為預(yù)設(shè)的參數(shù)值,T1所述溫度值,T2為預(yù)設(shè)參數(shù)值,P2為第一水分修訂值;
如果所述溫度值低于預(yù)設(shè)溫度值,則會(huì)根據(jù)所述溫度值和所述預(yù)設(shè)溫度值的所組成的水分修正公式,獲得目標(biāo)水分值;
所述修正公式具體表達(dá)為:
M=M水分值+P1*(T2-T1)+P2
其中,所述M為修正后的所述目標(biāo)水分值,M水分值為所述水分值,P1為預(yù)設(shè)的參數(shù)值,T1所述溫度值,T2為預(yù)設(shè)參數(shù)值,P2為第一水分修訂值。
與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明的一種電阻值水分分析儀的誤差修整方法具有以下有益效果:
(1)、本發(fā)明的一種電阻值水分分析儀的誤差修整方法,本發(fā)明采用主控器接收控制面板發(fā)送過(guò)來(lái)的第一水分修訂值,通過(guò)人為的設(shè)置水分修正值,能夠測(cè)量環(huán)境修正測(cè)量結(jié)果,進(jìn)一步提高測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性;
(2)、本發(fā)明的一種電阻值水分分析儀的誤差修整方法,通過(guò)第一修正值進(jìn)一步結(jié)合通過(guò)測(cè)量溫度差和實(shí)際溫度帶來(lái)的第二修正值,進(jìn)一步提高測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性。
附圖說(shuō)明
圖1是本發(fā)明的一種電阻值水分分析儀的誤差修整方法的流程示意圖;
具體實(shí)施方式
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