[發明專利]一種電阻值水分分析儀的誤差修整方法

在審

• 申請號: 201710400874.X
• 申請日: 2017-05-31
• 公開（公告）號: CN107144605A
• 公開（公告）日: 2017-09-08
• 發明（設計）人: 尹建輝;程勝利;周俊立
• 申請（專利權）人: 合肥艾瑞德電氣有限公司
• 主分類號: G01N27/04
• 分類號: G01N27/04
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種電阻值水分分析儀的誤差修整方法，其特征在于，應用于水分分析儀的主控器，所述方法包括步驟：

接收目標參數值中的第一水分修訂值；

接收水分測量請求，控制電機轉動碾壓待檢測谷物，并獲得所述待檢測谷物的水分值；

根據所述第一水分修訂值和所述水分值，獲得目標水分值。

2.根據權利要求1所述的電阻值水分分析儀的誤差修整方法，其特征在于，所述方法還包括：

對所述待檢測谷物所在環境溫度進行溫度檢測，獲得溫度值；

根據所述溫度值，設定第二水分修訂值；

所述根據所述第一水分修訂值和所述水分值，獲得目標水分值，包括：

根據所述第一水分修訂值、第二水分值和所述水分值，獲得目標水分值。

3.根據權利要求1所述的電阻值水分分析儀的誤差修整方法，其特征在于，所述方法還包括：

將所述目標水分值發送至顯示設備，以通過所述顯示設備對所述待檢測谷物的所述目標水分值進行顯示，供用戶查看。

4.根據權利要求1所述的電阻值水分分析儀的誤差修整方法，其特征在于，所述對所述待檢測谷物所在環境溫度進行溫度檢測，獲得溫度值，包括：

利用溫度傳感器，對所述待檢測谷物所在環境溫度進行溫度檢測，獲得溫度值。

5.根據權利要求1所述的電阻值水分分析儀的誤差修整方法，其特征在于，所述根據所述第一水分修訂值、第二水分值和所述水分值，獲得目標水分值，包括：

如果所述溫度值高于預設溫度值，則會根據所述溫度值和所述預設溫度值的所組成的水分修正公式，獲得目標水分值；

所述修正公式具體表達為：

M＝M_水分值-P₁*(T₁-T₂)-P₂

其中，所述M為修正后的所述目標水分值，M_水分值為所述水分值，P₁為預設的參數值，T₁所述溫度值，T₂為預設參數值，P₂為第一水分修訂值；

如果所述溫度值低于預設溫度值，則會根據所述溫度值和所述預設溫度值的所組成的水分修正公式，獲得目標水分值；

所述修正公式具體表達為：

M＝(1+P₂)M_水分值+P₁*(T₂-T₁)

其中，所述M為修正后的所述目標水分值，M_水分值為所述水分值，P₁為預設的參數值，T₁所述溫度值，T₂為預設參數值，P₂為第一水分修訂值。