[發明專利]一種用于太陽能硅片外觀檢測的旋轉送片方法

在審

• 申請號: 201710399087.8
• 申請日: 2017-05-31
• 公開（公告）號: CN106990118A
• 公開（公告）日: 2017-07-28
• 發明（設計）人: 唐星;趙成龍;陳龍;譚平
• 申請（專利權）人: 成都福譽科技有限公司
• 主分類號: G01N21/95
• 分類號: G01N21/95;G01N21/01;H02S50/15
• 代理公司: 四川力久律師事務所51221
• 代理人: 王蕓,熊曉果

技術領域

本發明涉及太陽能硅片外觀檢測技術領域，特別涉及一種用于太陽能硅片外觀檢測的旋轉送片方法。

背景技術

太陽能板主要的構成部件為太陽能硅片，而太陽能硅片品質的好壞將直接影響太陽能板的發電效率，因此，在太陽能硅片生產過程中，需要對太陽能硅片進行檢測，并剔除具有破損、缺角以及微細裂縫等缺陷的太陽能硅片，從而保證太陽能硅片的出廠質量。

由于業界對太陽能硅片需求殷切，在生產和質量檢測過程中，優先考慮生產效率。但是目前，太陽能硅片外觀檢測的送片方式通常采用爪手向下吸取硅片后提升，再移動至下一工位進行檢測或放置，然后再上升復位，這樣爪手在工作環節中需要頻繁重復地進行上升、下降及往復移動，容易對爪手的運動部件造成機械損耗，增加設備的維護費用。同時，爪手的上升、下降及復位等動作，增加了操作時間，降低了生產效率。

發明內容

本發明的目的在于：克服現有技術中太陽能硅片外觀檢測的送片方式，容易對爪手的運動部件造成機械損耗，增加設備的維護費用。同時，爪手的上升、下降及復位等動作，增加了操作時間，降低了生產效率等不足。

為了實現上述發明目的，本發明提供了以下技術方案：

一種用于太陽能硅片外觀檢測的旋轉送片方法，其具體為，

旋轉機構通過旋轉帶動至少一個吸取部件在一水平面內做同向運動，使吸取部件循環地經過上料工位、前檢工位和傳送工位；

當有吸取部件到達上料工位，則控制旋轉機構停止旋轉一定時間，并控制負壓源向所述吸取部件提供負壓，使所述吸取部件吸取上料工位上待送檢的太陽能硅片；

當有吸取部件到達前檢工位，則控制旋轉機構停止旋轉一定時間，并由位于前檢工位的檢測裝置完成對所述吸取部件上吸取的太陽能硅片背面的外觀檢測；

當有吸取部件到達傳送工位，則控制旋轉機構停止旋轉一定時間，并控制負壓源停止向所述吸取部件提供負壓，使所述吸取部件與其吸取的太陽能硅片分離，然后所述太陽能硅片落在傳送工位上，再通過傳送機構將所述太陽能硅片傳送至后檢工位；

當有太陽能硅片位于后檢工位，則控制傳送機構停止動作一定時間，并由位于后檢工位的檢測裝置完成對所述太陽能硅片正面的外觀檢測，最后，通過傳送機構將所述太陽能硅片傳送至下料工位。

根據一種具體的實施方式，本發明用于太陽能硅片外觀檢測的旋轉送片方法中，通過分析太陽能硅片背面和正面的外觀檢測數據，判斷太陽能硅片的品質是否符合要求，并根據記錄的送檢順序，標記出品質不符合要求的太陽能硅片。

根據一種具體的實施方式，本發明用于太陽能硅片外觀檢測的旋轉送片方法中，采用至少三個吸取部件，并通過設置吸取部件之間的位置關系以及上料工位、前檢工位和傳送工位之間的位置關系，當有吸取部件到達上料工位時，有另外兩個吸取部件分別到達前檢工位和傳送工位。

進一步地，將旋轉機構停止旋轉的時間設定為統一的值。

根據一種具體的實施方式，本發明用于太陽能硅片外觀檢測的旋轉送片方法中，在上料工位將待送檢的太陽能硅片逐片地頂升至預定高度，使吸取部件直接吸取待送檢的太陽能硅片。

根據一種具體的實施方式，本發明用于太陽能硅片外觀檢測的旋轉送片方法中，將負壓源提供的負壓平均分配給各個吸取部件，使各個吸取部件獲得平均的負壓，并對各個吸取部件上的負壓采用獨立的開關控制。

與現有技術相比，本發明的有益效果：

1、本發明用于太陽能硅片外觀檢測的旋轉送片方法中，旋轉機構通過旋轉帶動至少一個吸取部件在一水平面內做同向運動，使吸取部件循環地經過上料工位、前檢工位和傳送工位，并在上料工位吸取太陽能硅片，在前檢工位完成太陽能硅片背面的外觀檢測以及在傳送工位將太陽能硅片放在傳送機構上，通過傳送機構經過后檢工位完成太陽能硅片正面的外觀檢測，最后到達下料工位。因此，本發明將太陽能硅片送檢的過程中，吸取部件沒有頻繁重復地進行上升、下降及往復移動，不僅減少了機械損耗，還降低了設備的維護成本。而且，本發明將太陽能硅片送檢的過程操作連續，節省了操作時間，提高了工作效率。

2、本發明用于太陽能硅片外觀檢測的旋轉送片方法中，采用至少三個吸取部件，并通過設置吸取部件之間的位置關系以及上料工位、前檢工位和傳送工位之間的位置關系，當有吸取部件到達上料工位時，有另外兩個吸取部件分別到達前檢工位和傳送工位，同時，將旋轉機構停止旋轉的時間設定為統一的值。從而使本發明在將太陽能硅片送檢的過程中，具有更高的時間利用率。