[發(fā)明專利]一種用于太陽能硅片外觀檢測的旋轉(zhuǎn)送片方法

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• 申請日: 2017-05-31
• 公開（公告）號: CN106990118A
• 公開（公告）日: 2017-07-28
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 唐星;趙成龍;陳龍;譚平
• 申請（專利權(quán)）人: 成都福譽(yù)科技有限公司
• 主分類號: G01N21/95
• 分類號: G01N21/95;G01N21/01;H02S50/15
• 代理公司: 四川力久律師事務(wù)所51221
• 代理人: 王蕓,熊曉果

1.一種用于太陽能硅片外觀檢測的旋轉(zhuǎn)送片方法，其特征在于，

旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)通過旋轉(zhuǎn)帶動至少一個(gè)吸取部件在一水平面內(nèi)做同向運(yùn)動，使吸取部件循環(huán)地經(jīng)過上料工位、前檢工位和傳送工位；

當(dāng)有吸取部件到達(dá)上料工位，則控制旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)停止旋轉(zhuǎn)一定時(shí)間，并控制負(fù)壓源向所述吸取部件提供負(fù)壓，使所述吸取部件吸取上料工位上待送檢的太陽能硅片；

當(dāng)有吸取部件到達(dá)前檢工位，則控制旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)停止旋轉(zhuǎn)一定時(shí)間，并由位于前檢工位的檢測裝置完成對所述吸取部件上吸取的太陽能硅片背面的外觀檢測；

當(dāng)有吸取部件到達(dá)傳送工位，則控制旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)停止旋轉(zhuǎn)一定時(shí)間，并控制負(fù)壓源停止向所述吸取部件提供負(fù)壓，使所述吸取部件與其吸取的太陽能硅片分離，然后所述太陽能硅片落在傳送工位上，再通過傳送機(jī)構(gòu)將所述太陽能硅片傳送至后檢工位；

當(dāng)有太陽能硅片位于后檢工位，則控制傳送機(jī)構(gòu)停止動作一定時(shí)間，并由位于后檢工位的檢測裝置完成對所述太陽能硅片正面的外觀檢測，最后，通過傳送機(jī)構(gòu)將所述太陽能硅片傳送至下料工位。

2.如權(quán)利要求1所述的用于太陽能硅片外觀檢測的旋轉(zhuǎn)送片方法，其特征在于，通過分析太陽能硅片背面和正面的外觀檢測數(shù)據(jù)，判斷太陽能硅片的品質(zhì)是否符合要求，并根據(jù)記錄的送檢順序，標(biāo)記出品質(zhì)不符合要求的太陽能硅片。

3.如權(quán)利要求1所述的用于太陽能硅片外觀檢測的旋轉(zhuǎn)送片方法，其特征在于，采用至少三個(gè)吸取部件，并通過設(shè)置吸取部件之間的位置關(guān)系以及上料工位、前檢工位和傳送工位之間的位置關(guān)系，當(dāng)有吸取部件到達(dá)上料工位時(shí)，有另外兩個(gè)吸取部件分別到達(dá)前檢工位和傳送工位。

4.如權(quán)利要求3所述的用于太陽能硅片外觀檢測的旋轉(zhuǎn)送片方法，其特征在于，將旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)停止旋轉(zhuǎn)的時(shí)間設(shè)定為統(tǒng)一的值。

5.如權(quán)利要求1所述的用于太陽能硅片外觀檢測的旋轉(zhuǎn)送片方法，其特征在于，在上料工位將待送檢的太陽能硅片逐片地頂升至預(yù)定高度，使吸取部件直接吸取待送檢的太陽能硅片。

6.如權(quán)利要求1所述的用于太陽能硅片外觀檢測的旋轉(zhuǎn)送片方法，其特征在于，將負(fù)壓源提供的負(fù)壓平均分配給各個(gè)吸取部件，使各個(gè)吸取部件獲得平均的負(fù)壓，并對各個(gè)吸取部件上的負(fù)壓采用獨(dú)立的開關(guān)控制。