[發明專利]一種光纖質量數據的分析方法及系統

在審

• 申請號: 201710398377.0
• 申請日: 2017-05-31
• 公開（公告）號: CN107228753A
• 公開（公告）日: 2017-10-03
• 發明（設計）人: 黃育飛;葉欣辰;曹磊
• 申請（專利權）人: 天津纖測道客科技發展有限公司
• 主分類號: G01M11/00
• 分類號: G01M11/00
• 代理公司: 北京力量專利代理事務所(特殊普通合伙)11504
• 代理人: 王鴻遠

技術領域

本發明涉及光纖質量分析技術領域，尤其涉及一種光纖質量數據的分析方法及系統。

背景技術

OTDR(OpticalTimeDomainReflectometer，光時域反射儀)是利用光線在光纖中傳輸時的瑞利散射和菲涅爾反射所產生的背向散射而制成的精密的光電一體化儀表，被廣泛應用于光纜線路的維護、施工之中，可進行光纖長度、光纖的傳輸衰減、接頭衰減和故障定位等的測量。光纜線路維護人員使用OTDR進行光纖質量分析，以實現光纜線路日常測試和技術性維護。

目前的光纖質量分析方法是，光纜線路維護人員利用OTDR儀表完成光纜線路空閑纖芯的測試，通過測試得到背向散射曲線，然后由人工對測試到的背向散射曲線進行分析，記錄纖芯長度、平均衰耗等數據，把分析結果填寫到Excel表中進行匯總，以指導光纜線路的維護、優化和故障處理，判斷光纜線路質量、定位光纜線路故障位置、發現光纖存在的問題和隱患等。

在實現本發明過程中，發明人發現現有的光纖質量分析方法，分析效率較低，每半天只能分析1-2條光纜，對于全省范圍的海量光纖數據，無法做到準確詳細的分析。處理耗時、耗力、容易出錯，龐大的光纜線路纖芯資源，導致光纜線路維護工作量大。而且，傳統的光纜監測方案必須依賴廣泛部署的硬件配套設施才能夠正常使用，硬件安裝的越多，覆蓋光纜范圍越廣，系統才能夠真正起到實時監測的作用，但是隨之帶來的安裝與部署成本也會隨著光纜的增加而不斷增加。因此，現有的光纖質量分析方法具有成本高，效率底，耗時間的問題。

發明內容

鑒于上述問題，本發明提出了一種光纖質量數據的分析方法及系統，實現了光纖測試數據的并行分析，以及對光纖質量數據的可視化展示和管理，極大提升了光纖質量分析與管理效率。

本發明的一個方面，提供了一種光纖質量數據的分析方法，包括：

將待檢測光纜中多條光纖對應的光纖測試數據分配到并行配置的至少兩個分析器；

各個分析器分別根據預設的分析參數對各自所分配的光纖測試數據進行光纖質量分析，得到對應光纖的光纖質量數據；

將所述待檢測光纜中各條光纖的光纖質量數據進行可視化展示；

根據所述待檢測光纜中各條光纖的光纖質量數據和/或所述可視化展示結果生成光纜質量分析報告。

可選地，所述各個分析器分別根據預設的分析參數對各自所分配的光纖測試數據進行光纖質量分析，包括：

各個分析器分別讀取所分配的光纖測試數據中的數據信息；

各個分析器分別根據預設的分析參數分析對應的光纖測試數據中的數據信息，確定光纖測試數據中存在的事件點和對應的事件位置，并對所述事件點和對應的事件位置進行分析，得到對應光纖的光纖質量數據；

根據所述光纖質量數據確定相應光纖的光纖質量級別。

可選地，所述各個分析器分別讀取所分配的光纖測試數據中的數據信息，包括：

當某一分析器讀取到的光纖測試數據存在數據格式錯誤和/或數據內容錯誤時，對所述光纖測試數據進行數據修復。

可選地，所述光纖質量數據包括光纖存在的斷點、衰耗點、光纖總衰耗以及光纖平均衰耗值；

所述根據所述光纖質量數據確定相應光纖的光纖質量級別，包括：

根據光纖存在的斷點、衰耗點、光纖總衰耗以及光纖平均衰耗值，確定相應光纖的光纖質量級別。

可選地，所述方法還包括：

根據各個光纖質量級別對應的級別預設權重，以及各個光纖質量級別對應光線數量占待檢測光纜總光纖數量的比值，確定所述待檢測光纜的光纜質量評分，并將所述光纜質量評分進行可視化展示；和/或

根據光纖測試數據的準確率和覆蓋率，確定所述待檢測光纜的光纜數據分數，并將所述光纜質量分數進行可視化展示。

可選地，所述將所述待檢測光纜中各條光纖的光纖質量數據進行可視化展示，包括：

將每一光纖的光纖測試數據進行可視化展示，并將對應的光纖質量數據標示在所述光纖測試數據的展示圖形上。

可選地，所述將所述待檢測光纜中各條光纖的光纖質量數據進行可視化展示，還包括：

將所述待檢測光纜中各條光纖的光纖特征值進行比對，并將比對結果進行可視化展示，其中，所述光纖特征值包括光纖的光纖質量數據和對應光纖測試數據的測試參數。

可選地，所述將所述待檢測光纜中各條光纖的光纖特征值進行比對，并將比對結果進行可視化展示，包括：

將光纖特征值相同的待檢測光纖采用第一標識進行統一標識；