[發(fā)明專利]一種光纖質(zhì)量數(shù)據(jù)的分析方法及系統(tǒng)

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• 申請?zhí)枺?/td>: 201710398377.0
• 申請日: 2017-05-31
• 公開（公告）號: CN107228753A
• 公開（公告）日: 2017-10-03
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 黃育飛;葉欣辰;曹磊
• 申請（專利權(quán)）人: 天津纖測道客科技發(fā)展有限公司
• 主分類號: G01M11/00
• 分類號: G01M11/00
• 代理公司: 北京力量專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙)11504
• 代理人: 王鴻遠(yuǎn)

1.一種光纖質(zhì)量數(shù)據(jù)的分析方法，其特征在于，包括:

將待檢測光纜中多條光纖對應(yīng)的光纖測試數(shù)據(jù)分配到并行配置的至少兩個分析器；

各個分析器分別根據(jù)預(yù)設(shè)的分析參數(shù)對各自所分配的光纖測試數(shù)據(jù)進(jìn)行光纖質(zhì)量分析，得到對應(yīng)光纖的光纖質(zhì)量數(shù)據(jù)；

將所述待檢測光纜中各條光纖的光纖質(zhì)量數(shù)據(jù)進(jìn)行可視化展示；

根據(jù)所述待檢測光纜中各條光纖的光纖質(zhì)量數(shù)據(jù)和/或所述可視化展示結(jié)果生成光纜質(zhì)量分析報告。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述各個分析器分別根據(jù)預(yù)設(shè)的分析參數(shù)對各自所分配的光纖測試數(shù)據(jù)進(jìn)行光纖質(zhì)量分析，包括：

各個分析器分別讀取所分配的光纖測試數(shù)據(jù)中的數(shù)據(jù)信息；

各個分析器分別根據(jù)預(yù)設(shè)的分析參數(shù)分析對應(yīng)的光纖測試數(shù)據(jù)中的數(shù)據(jù)信息，確定光纖測試數(shù)據(jù)中存在的事件點(diǎn)和對應(yīng)的事件位置，并對所述事件點(diǎn)和對應(yīng)的事件位置進(jìn)行分析，得到對應(yīng)光纖的光纖質(zhì)量數(shù)據(jù)；

根據(jù)所述光纖質(zhì)量數(shù)據(jù)確定相應(yīng)光纖的光纖質(zhì)量級別。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述各個分析器分別讀取所分配的光纖測試數(shù)據(jù)中的數(shù)據(jù)信息，包括：

當(dāng)某一分析器讀取到的光纖測試數(shù)據(jù)存在數(shù)據(jù)格式錯誤和/或數(shù)據(jù)內(nèi)容錯誤時，對所述光纖測試數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)據(jù)修復(fù)。

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述光纖質(zhì)量數(shù)據(jù)包括光纖存在的斷點(diǎn)、衰耗點(diǎn)、光纖總衰耗以及光纖平均衰耗值；

所述根據(jù)所述光纖質(zhì)量數(shù)據(jù)確定相應(yīng)光纖的光纖質(zhì)量級別，包括：

根據(jù)光纖存在的斷點(diǎn)、衰耗點(diǎn)、光纖總衰耗以及光纖平均衰耗值，確定相應(yīng)光纖的光纖質(zhì)量級別。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

根據(jù)各個光纖質(zhì)量級別對應(yīng)的級別預(yù)設(shè)權(quán)重，以及各個光纖質(zhì)量級別對應(yīng)光線數(shù)量占待檢測光纜總光纖數(shù)量的比值，確定所述待檢測光纜的光纜質(zhì)量評分，并將所述光纜質(zhì)量評分進(jìn)行可視化展示；和/或

根據(jù)光纖測試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確率和覆蓋率，確定所述待檢測光纜的光纜數(shù)據(jù)分?jǐn)?shù)，并將所述光纜質(zhì)量分?jǐn)?shù)進(jìn)行可視化展示。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述將所述待檢測光纜中各條光纖的光纖質(zhì)量數(shù)據(jù)進(jìn)行可視化展示，包括：

將每一光纖的光纖測試數(shù)據(jù)進(jìn)行可視化展示，并將對應(yīng)的光纖質(zhì)量數(shù)據(jù)標(biāo)示在所述光纖測試數(shù)據(jù)的展示圖形上。

7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述將所述待檢測光纜中各條光纖的光纖質(zhì)量數(shù)據(jù)進(jìn)行可視化展示，還包括：

將所述待檢測光纜中各條光纖的光纖特征值進(jìn)行比對，并將比對結(jié)果進(jìn)行可視化展示，其中，所述光纖特征值包括光纖的光纖質(zhì)量數(shù)據(jù)和對應(yīng)光纖測試數(shù)據(jù)的測試參數(shù)。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法，其特征在于，所述將所述待檢測光纜中各條光纖的光纖特征值進(jìn)行比對，并將比對結(jié)果進(jìn)行可視化展示，包括：

將光纖特征值相同的待檢測光纖采用第一標(biāo)識進(jìn)行統(tǒng)一標(biāo)識；

將測試時間相同且光纖特征值不同的待檢測光纖采用第二標(biāo)識進(jìn)行統(tǒng)一標(biāo)識；

將測試時間相差大于預(yù)設(shè)門限值且光纖特征值不同的待檢測光纖采用第三標(biāo)識進(jìn)行統(tǒng)一標(biāo)識。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，在所述將所述待檢測光纜中各條光纖的光纖質(zhì)量數(shù)據(jù)進(jìn)行可視化展示之后，所述方法還包括：

根據(jù)所述各條光纖的光纖質(zhì)量數(shù)據(jù)，確定所述待檢測光纜存在的質(zhì)量問題；

根據(jù)所述質(zhì)量問題查找預(yù)設(shè)的專家建議庫，以獲取對應(yīng)的整治修理建議。

10.一種光纖質(zhì)量數(shù)據(jù)的分析系統(tǒng)，其特征在于，包括：

配置模塊，用于將待檢測光纜中多條光纖對應(yīng)的光纖測試數(shù)據(jù)分配到并行配置的至少兩個分析器；

質(zhì)量分析模塊，用于各個分析器分別根據(jù)預(yù)設(shè)的分析參數(shù)對各自所分配的光纖測試數(shù)據(jù)進(jìn)行光纖質(zhì)量分析，得到對應(yīng)光纖的光纖質(zhì)量數(shù)據(jù)；

可視化展示模塊，用于將所述待檢測光纜中各條光纖的光纖質(zhì)量數(shù)據(jù)進(jìn)行可視化展示；

生成模塊，用于根據(jù)所述待檢測光纜中各條光纖的光纖質(zhì)量數(shù)據(jù)和/或所述可視化展示結(jié)果生成光纜質(zhì)量分析報告。