[發明專利]一種光纖質量數據的分析方法及系統

在審

• 申請號: 201710398377.0
• 申請日: 2017-05-31
• 公開（公告）號: CN107228753A
• 公開（公告）日: 2017-10-03
• 發明（設計）人: 黃育飛;葉欣辰;曹磊
• 申請（專利權）人: 天津纖測道客科技發展有限公司
• 主分類號: G01M11/00
• 分類號: G01M11/00
• 代理公司: 北京力量專利代理事務所(特殊普通合伙)11504
• 代理人: 王鴻遠

1.一種光纖質量數據的分析方法，其特征在于，包括:

將待檢測光纜中多條光纖對應的光纖測試數據分配到并行配置的至少兩個分析器；

各個分析器分別根據預設的分析參數對各自所分配的光纖測試數據進行光纖質量分析，得到對應光纖的光纖質量數據；

將所述待檢測光纜中各條光纖的光纖質量數據進行可視化展示；

根據所述待檢測光纜中各條光纖的光纖質量數據和/或所述可視化展示結果生成光纜質量分析報告。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述各個分析器分別根據預設的分析參數對各自所分配的光纖測試數據進行光纖質量分析，包括：

各個分析器分別讀取所分配的光纖測試數據中的數據信息；

各個分析器分別根據預設的分析參數分析對應的光纖測試數據中的數據信息，確定光纖測試數據中存在的事件點和對應的事件位置，并對所述事件點和對應的事件位置進行分析，得到對應光纖的光纖質量數據；

根據所述光纖質量數據確定相應光纖的光纖質量級別。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述各個分析器分別讀取所分配的光纖測試數據中的數據信息，包括：

當某一分析器讀取到的光纖測試數據存在數據格式錯誤和/或數據內容錯誤時，對所述光纖測試數據進行數據修復。

4.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述光纖質量數據包括光纖存在的斷點、衰耗點、光纖總衰耗以及光纖平均衰耗值；

所述根據所述光纖質量數據確定相應光纖的光纖質量級別，包括：

根據光纖存在的斷點、衰耗點、光纖總衰耗以及光纖平均衰耗值，確定相應光纖的光纖質量級別。

5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

根據各個光纖質量級別對應的級別預設權重，以及各個光纖質量級別對應光線數量占待檢測光纜總光纖數量的比值，確定所述待檢測光纜的光纜質量評分，并將所述光纜質量評分進行可視化展示；和/或

根據光纖測試數據的準確率和覆蓋率，確定所述待檢測光纜的光纜數據分數，并將所述光纜質量分數進行可視化展示。

6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，所述將所述待檢測光纜中各條光纖的光纖質量數據進行可視化展示，包括：

將每一光纖的光纖測試數據進行可視化展示，并將對應的光纖質量數據標示在所述光纖測試數據的展示圖形上。

7.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，所述將所述待檢測光纜中各條光纖的光纖質量數據進行可視化展示，還包括：

將所述待檢測光纜中各條光纖的光纖特征值進行比對，并將比對結果進行可視化展示，其中，所述光纖特征值包括光纖的光纖質量數據和對應光纖測試數據的測試參數。

8.根據權利要求7所述的方法，其特征在于，所述將所述待檢測光纜中各條光纖的光纖特征值進行比對，并將比對結果進行可視化展示，包括：

將光纖特征值相同的待檢測光纖采用第一標識進行統一標識；

將測試時間相同且光纖特征值不同的待檢測光纖采用第二標識進行統一標識；

將測試時間相差大于預設門限值且光纖特征值不同的待檢測光纖采用第三標識進行統一標識。

9.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，在所述將所述待檢測光纜中各條光纖的光纖質量數據進行可視化展示之后，所述方法還包括：

根據所述各條光纖的光纖質量數據，確定所述待檢測光纜存在的質量問題；

根據所述質量問題查找預設的專家建議庫，以獲取對應的整治修理建議。

10.一種光纖質量數據的分析系統，其特征在于，包括：

配置模塊，用于將待檢測光纜中多條光纖對應的光纖測試數據分配到并行配置的至少兩個分析器；

質量分析模塊，用于各個分析器分別根據預設的分析參數對各自所分配的光纖測試數據進行光纖質量分析，得到對應光纖的光纖質量數據；

可視化展示模塊，用于將所述待檢測光纜中各條光纖的光纖質量數據進行可視化展示；

生成模塊，用于根據所述待檢測光纜中各條光纖的光纖質量數據和/或所述可視化展示結果生成光纜質量分析報告。