[發明專利]分析方法以及分析裝置

在審

• 申請號: 201710395631.1
• 申請日: 2017-05-31
• 公開（公告）號: CN107449770A
• 公開（公告）日: 2017-12-08
• 發明（設計）人: 友田小百合;喜多川信宏;陸建銀;實原弘亮
• 申請（專利權）人: 希森美康株式會社
• 主分類號: G01N21/76
• 分類號: G01N21/76;G01N21/64
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所11038
• 代理人: 程晨

1.一種分析方法，檢測并分析來自被調制為根據被檢物質的量發光的試樣的光，其中，

對收容所述試樣的收容部件進行攝像，

將反射部的狀態切換為使來自所述試樣的光向光檢測部反射的狀態，通過光檢測部檢測來自所述試樣的光，

根據通過所述光檢測部檢測出的光量，輸出試樣的分析結果。

2.根據權利要求1所述的分析方法，其特征在于，

將所述反射部的狀態切換為不妨礙來自所述收容部件的光的狀態，對所述收容部件進行攝像。

3.根據權利要求1或2所述的分析方法，其特征在于，

在根據通過所述攝像得到的圖像判斷為無錯誤的情況下，通過所述光檢測部檢測光。

4.根據權利要求1至3中的任一項所述的分析方法，其特征在于，

在根據通過所述攝像得到的圖像判斷為有錯誤的情況下，不執行通過所述光檢測部進行的光的檢測。

5.根據權利要求1至4中的任一項所述的分析方法，其特征在于，

在根據通過所述攝像得到的圖像判斷為有錯誤的情況下，通知所述錯誤。

6.根據權利要求1至5中的任一項所述的分析方法，其特征在于，

所述被檢物質經由所述收容部件中的通路部被移送至檢測槽，

所述試樣被調制為根據被移送至檢測槽的被檢物質的量發光。

7.根據權利要求6所述的分析方法，其特征在于，

根據通過所述攝像得到的圖像，判定所述被檢物質是否正常地到達檢測槽。

8.根據權利要求6或7所述的分析方法，其特征在于，

根據通過所述攝像得到的圖像，判定氣泡是否混入所述檢測槽。

9.根據權利要求6至8中的任一項所述的分析方法，其特征在于，

所述被檢物質以與磁性粒子結合的狀態被移送至檢測槽，

根據通過所述攝像得到的圖像，判定在所述檢測槽中是否存在磁性粒子的凝集區域。

10.一種分析裝置，具備：

保持部，用于保持收容被調制為根據被檢物質的量發光的試樣的收容部件；

光檢測部，用于檢測來自由所述保持部保持的所述收容部件中收容的試樣的光；

攝像部，用于對所述收容部件進行攝像；以及

反射部，構成為能夠切換使從所述收容部件中收容的試樣向所述攝像部的光向所述光檢測部反射的第一狀態、和不妨礙從所述收容部件向所述攝像部的光的第二狀態。

11.根據權利要求10所述的分析裝置，其特征在于，

所述反射部是針對所述光檢測部、所述收容部件以及所述攝像部相對移動的反射部，

所述反射部構成為在所述收容部件與所述攝像部之間、并且隔著所述收容部件而與所述光檢測部相向的位置處成為所述第一狀態，在不遮擋所述收容部件與所述攝像部之間的位置處成為所述第二狀態。

12.根據權利要求10或11所述的分析裝置，其特征在于，

還具備光調整部，所述光調整部構成為能夠切換使從所述收容部件向所述光檢測部的光透射的光透射狀態、和切斷從所述收容部件向所述光檢測部的光的光切斷狀態，所述光調整部配置于通過所述保持部保持的所述收容部件與所述光檢測部之間。

13.根據權利要求12所述的分析裝置，其特征在于，

所述反射部在所述光調整部處于所述光透射狀態的情況下，切換為所述第一狀態，

所述光調整部在所述反射部處于所述第二狀態的情況下，切換為所述光切斷狀態。

14.根據權利要求12或13所述的分析裝置，其特征在于，

所述反射部在由所述光檢測部檢測到所述試樣的光的情況下，切換為所述第一狀態，在未由所述光檢測部檢測到所述試樣的光的情況下，切換為所述第二狀態，

所述光調整部在由所述光檢測部檢測到所述試樣的光的情況下，切換為所述光透射狀態，在未由所述光檢測部檢測到所述試樣的光的情況下，切換為所述光切斷狀態。