[發明專利]一種刻蝕方法以及陣列基板制作方法有效
| 申請號: | 201710380536.4 | 申請日: | 2017-05-25 |
| 公開(公告)號: | CN107204287B | 公開(公告)日: | 2019-06-07 |
| 發明(設計)人: | 諶澤林;楊曉峰;劉學光;柴銘志;楊鐘;呂建偉;蔣凱;陳時洪 | 申請(專利權)人: | 京東方科技集團股份有限公司;成都京東方光電科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/306 | 分類號: | H01L21/306;H01L21/308;G02F1/1333 |
| 代理公司: | 北京安信方達知識產權代理有限公司 11262 | 代理人: | 林桐苒;李丹 |
| 地址: | 100015 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 刻蝕 方法 以及 陣列 制作方法 | ||
一種刻蝕方法和陣列基板制作方法。該刻蝕方法應用于依次包括第一層、第二層、第三層的基板,包括:在所述第三層形成過孔圖形暴露所述第二層后,使用對所述第三層的刻蝕率小于對所述第二層的刻蝕率的第一刻蝕方法對所述基板進行第一次刻蝕,且使得所述第二層被刻蝕掉的厚度小于所述第二層的初始厚度;在所述第一次刻蝕后,使用對所述第三層的刻蝕率大于對所述第二層的刻蝕率的第二刻蝕方法對所述基板進行第二次刻蝕以暴露出所述第一層。本申請提供的方案,可以提升產能和良率。
技術領域
本發明涉及顯示技術,尤指一種刻蝕方法以及陣列基板制作方法。
背景技術
有機膜具有極高的光透過率,并且能夠實現產品表面平坦化。隨著液晶顯示器(Liquid Crystal Display,簡稱LCD)面板PPI(Pixels Per Inch,像素密度)提高,有機膜越來越多被應用到產品中。
完成有機膜掩膜后,需要刻蝕過孔連接下層金屬。目前的方案是在有機膜層上增加過孔掩膜(VIA mask)后進行刻蝕。
發明內容
本發明至少一實施例提供了一種刻蝕方法以及陣列基板制作方法。
本發明至少一實施例提供了一種刻蝕方法,應用于依次包括第一層、第二層、第三層的基板,包括:
在所述第三層形成過孔圖形暴露所述第二層后,使用對所述第三層的刻蝕率小于對所述第二層的刻蝕率的第一刻蝕方法對所述基板進行第一次刻蝕,且使得所述第二層被刻蝕掉的厚度小于所述第二層進行所述第一次刻蝕前的初始厚度;
在所述第一次刻蝕后,使用對所述第三層的刻蝕率大于對所述第二層的刻蝕率的第二刻蝕方法對所述基板進行第二次刻蝕以暴露出所述第一層。
在本發明的一可選實施例中,所述第三層在進行所述第一次刻蝕前的初始厚度根據所述第三層在所述第一次刻蝕和第二次刻蝕中損失的厚度以及所述第二次刻蝕完成后所述第三層的目標厚度確定。
在本發明的一可選實施例中,所述第二層在所述第一次刻蝕中刻蝕掉的厚度為所述第二層的初始厚度的30%~80%。
在本發明的一可選實施例中,所述第一刻蝕方法包括:使用包括六氟化硫、氧氣的氣體進行刻蝕,且所述六氟化硫的流量大于等于所述氧氣的流量。
在本發明的一可選實施例中,所述第二刻蝕方法包括:使用包括六氟化硫、氧氣的氣體進行刻蝕,且所述六氟化硫的流量小于所述氧氣的流量。
在本發明的一可選實施例中,所述第三層為有機膜層。
在本發明的一可選實施例中,所述第一層為金屬層,所述第二層為非金屬層。
本發明至少一實施例提供一種陣列基板制作方法,包括:
提供襯底基板;
在所述襯底基板上依次形成金屬層、非金屬層和有機膜層,且所述有機膜層的厚度大于所述陣列基板制作完成后所述有機膜層的目標厚度;
對所述有機膜層進行構圖工藝形成過孔圖形以暴露所述非金屬層;
使用對所述有機膜層的刻蝕率小于對所述非金屬層的刻蝕率的第一刻蝕方法進行第一次刻蝕,且使得所述非金屬層被刻蝕掉的厚度小于所述非金屬層在進行所述第一次刻蝕前的初始厚度;
在所述第一次刻蝕后,使用對所述有機膜層的刻蝕率大于對所述非金屬層的刻蝕率的第二刻蝕方法進行第二次刻蝕以暴露出所述金屬層。
在本發明的一可選實施例中,所述非金屬層在所述第一次刻蝕中刻蝕掉的厚度為所述非金屬層的初始厚度的30%~80%。
在本發明的一可選實施例中,所述第一刻蝕方法包括:使用包括六氟化硫、氧氣的氣體進行刻蝕,且所述六氟化硫的流量大于等于所述氧氣的流量;
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H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





