[發明專利]底線檢測裝置、底線檢測方法及縫紉機

有效

• 申請號: 201710378365.1
• 申請日: 2017-05-25
• 公開（公告）號: CN107099949B
• 公開（公告）日: 2022-11-18
• 發明（設計）人: 呂昭輝;曾雪錦
• 申請（專利權）人: 杭州琦星機器人科技有限公司
• 主分類號: D05B59/02
• 分類號: D05B59/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.底線檢測裝置，包括梭殼(4)和位于梭殼(4)內的梭芯(1)，所述的梭芯(1)包括繞線柱(11)和位于繞線柱(11)兩端的凸緣(12)，其特征在于，所述的梭殼(4)上具有檢測口一(41)和檢測口二(42)，所述的凸緣(12)上具有均可轉動至檢測口一(41)和檢測口二(42)的檢測部一(13)和檢測部二(14)；底線檢測裝置還包括用于正對檢測口一(41)設置的發射器一(21)和接收器一(22)，還包括用于正對檢測口二(42)設置的發射器二(31)和接收器二(32)。

2.根據權利要求1所述的底線檢測裝置，其特征在于，所述的發射器一(21)和發射器二(31)為紅外發射器；所述的接收器一(22)和接收器二(32)為紅外接收器；或者，所述的發射器一(21)和發射器二(31)為激光發射器；所述的接收器一(22)和接收器二(32)為激光接收器；

所述的檢測部一(13)和檢測部二(14)為下列技術方案中的一種：

一、檢測部一(13)為亮面，檢測部二(14)為不反光表面；

二、檢測部一(13)為斜面，檢測部二(14)為平面；

三、檢測部一(13)為凸緣(12)的外側面且凸緣(12)的外側面為亮面；檢測部二(14)為凸緣(12)上的通孔或凸緣(12)邊緣處的缺口，另一側凸緣(12)的內側面為不反光表面；

四、檢測部一(13)為凸緣(12)的外側面且凸緣(12)的外側面為不反光表面，檢測部二(14)為凸緣(12)上的通孔或凸緣(12)邊緣處的缺口，另一側凸緣(12)的內側面為亮面。

3.根據權利要求1所述的底線檢測裝置，其特征在于，所述的發射器一(21)和發射器二(31)為超聲波發射器；所述的接收器一(22)和接收器二(32)為超聲波接收器；所述的檢測部一(13)和檢測部二(14)的表面在繞線柱(11)的軸向上的高度不同。

4.根據權利要求3所述的底線檢測裝置，其特征在于，所述的檢測部一(13)為凸緣(12)的外側面，所述的檢測部二(14)為凸緣(12)外側面上的凹口；

或者，所述的檢測部一(13)為凸緣(12)的外側面，所述的檢測部二(14)為凸緣(12)上的通孔或凸緣(12)邊緣處的缺口。

5.底線檢測方法，其特征在于，梭芯(1)位于梭殼(4)內，梭殼(4)上具有檢測口一(41)和檢測口二(42)；梭芯(1)包括繞線柱(11)和凸緣(12)，凸緣(12)上具有檢測部一(13)和檢測部二(14)，所述的凸緣(12)上具有均可轉動至檢測口一(41)和檢測口二(42)的檢測部一(13)和檢測部二(14)；底線檢測裝置還包括用于正對檢測口一(41)設置的發射器一(21)和接收器一(22)，還包括用于正對檢測口二(42)設置的發射器二(31)和接收器二(32)；底線檢測方法的步驟包括：

A、梭芯(1)轉動，檢測部一(13)和檢測部二(14)依次經過檢測口一(41)，接收器一(22)接收到發射器一(21)發射信號的反射信號的變化；

B、梭芯(1)繼續轉動，檢測部一(13)和檢測部二(14)依次經過檢測口二(42)，接收器二(32)接收到發射器二(31)發射信號的反射信號的變化；

C、記錄梭芯(1)轉動了一圈。

6.縫紉機，其特征在于，包括權利要求1-4中任一項所述的底線檢測裝置。