[發明專利]底線檢測裝置、底線檢測方法及縫紉機有效
| 申請號: | 201710378365.1 | 申請日: | 2017-05-25 |
| 公開(公告)號: | CN107099949B | 公開(公告)日: | 2022-11-18 |
| 發明(設計)人: | 呂昭輝;曾雪錦 | 申請(專利權)人: | 杭州琦星機器人科技有限公司 |
| 主分類號: | D05B59/02 | 分類號: | D05B59/02 |
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| 地址: | 310013 浙江省杭州市*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 底線 檢測 裝置 方法 縫紉機 | ||
技術領域
本發明屬于縫紉機部件技術領域,涉及一種底線檢測裝置、底線檢測方法及縫紉機。
背景技術
中國實用新型專利(授權公告號:CN203904645U,授權公告日:20141029)公開了一種縫紉機底線線量檢測裝置,縫紉機包括底板、安裝在底板內的旋梭、以及用于控制電機的電控模塊,旋梭包括梭殼和收容在梭殼中的梭芯,梭芯包括繞線柱和設置繞線柱兩端的凸緣,兩個凸緣中,至少有一個凸緣的外表面上設有第一表面部和第二表面部,梭殼的外壁上開設有一透光孔,第一表面部或第二表面部從該透光孔處露出;還包括一固定在底板內的傳感器,該傳感器包括用于發射光線的發射器和用于接收光線的接收器,傳感器的接收器和發射器均正對從透光孔處露出的第一表面部或第二表面部,第一表面部和第二表面部的反射光線能力不同;傳感器與一信號處理模塊相連接,該信號處理模塊又與電控模塊相連接。該第一表面部的材料為吸光性材料,第二表面部的材料為反光性材料。
當梭芯上粘有油污或線頭的時候,會對檢測裝置造成干擾,造成信號讀取錯誤,其結構不穩定。
發明內容
本發明根據上述問題,提出了一種結構穩定的底線檢測裝置,其技術方案如下:
底線檢測裝置,包括梭殼和位于梭殼內的梭芯,所述的梭芯包括繞線柱和位于繞線柱兩端的凸緣,其特征在于,所述的梭殼上具有檢測口一和檢測口二,所述的凸緣上具有均可轉動至檢測口一和檢測口二的檢測部一和檢測部二;底線檢測裝置還包括用于正對檢測口一設置的發射器一和接收器一,還包括用于正對檢測口二設置的發射器二和接收器二。
當檢測部一和檢測部二依次經過檢測口一時,發射器一發射信號至檢測口一處,接收器一收到了信號變化。但梭芯的凸緣有可能被污染或其它因素影響,以至于接收器一收到了多個信號變化值,此時,底線檢測裝置中若只有一個接收器,在一個實施例中,那么接收器將會誤判梭芯轉動多圈。但在本底線檢測裝置中,由于在檢測口二處設置了發射器二和接收器二,當檢測部一和檢測部二依次經過檢測口二處時,發射器二發射信號至檢測口二處,接收器二收到了信號變化,只有在接收器一收到了信號變化,并且接著接收器二收到了信號變化,底線檢測裝置才判斷梭芯轉動了一圈。因此,即使接收器一和接收器二在梭芯只轉動一圈的過程中均收到了多個信號變化值,也不影響底線檢測裝置的檢測結果,從而使得本底線檢測裝置的結構較為穩定。
在上述的底線檢測裝置中,所述的發射器一和發射器二為紅外發射器;所述的接收器一和接收器二為紅外接收器;或者,所述的發射器一和發射器二為激光發射器;所述的接收器一和接收器二為激光接收器;
所述的檢測部一和檢測部二為下列技術方案中的一種:
一、檢測部一為亮面,檢測部二為不反光表面;
二、檢測部一為斜面,檢測部二為平面;
三、檢測部一為凸緣的外側面且凸緣的外側面為亮面;檢測部二為凸緣上的通孔或凸緣邊緣處的缺口,另一側凸緣的內側面為不反光表面;
四、檢測部一為凸緣的外側面且凸緣的外側面為不反光表面,檢測部二為凸緣上的通孔或凸緣邊緣處的缺口,另一側凸緣的內側面為亮面。
在方案一種,檢測部一為亮面,當發射器一或發射器二發射光信號至檢測部一上時,檢測部一將光信號反射至接收器一或接收器二上;檢測部二為不反光表面,當發射器一或發射器二發射光信號至檢測部二上時,檢測部二將光信號吸收。
在方案二中,檢測部一為斜面,當發射器一或發射器二發射光信號至檢測部一上時,檢測部一將光信號偏角度反射,使得接收器一或接收器二接收不到反射的光信號;檢測部二為平面,當發射器一或發射器二發射光信號至檢測部二上時,檢測部二將光信號反射,接收器一或接收器二接收到反射的光信號。
在方案三種,檢測部一為凸緣的外側面且凸緣的外側面為亮面,當發射器一或發射器二發射光信號至檢測部一上時,檢測部一將光信號反射至接收器一或接收器二上;檢測部二為凸緣上的通孔或凸緣邊緣處的缺口,另一側凸緣的內側面為不反光表面,當發射器一或發射器二發射光信號,光信號穿過檢測部二并到達另一側凸緣的內側面或到達梭芯上的線,光信號被吸收;
在方案四種,檢測部一為凸緣的外側面且凸緣的外側面為不反光表面,當發射器一或發射器二發射光信號至檢測部一上時,檢測部一將光信號吸收;檢測部二為凸緣上的通孔或凸緣邊緣處的缺口,另一側凸緣的內側面為亮面,當發射器一或發射器二發射光信號,光信號穿過檢測部二并到達另一側凸緣的內側面或到達梭芯上的具有反光性能的線,接收器一或接收器二接收到反射的光信號。
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