[發明專利]一種OLED顯示器件失效檢測探測系統及其檢測方法

有效

• 申請號: 201710374462.3
• 申請日: 2017-05-24
• 公開（公告）號: CN107315139B
• 公開（公告）日: 2020-11-13
• 發明（設計）人: 彭彩紅;鄧平源
• 申請（專利權）人: 東莞市艾百人工智能科技有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26
• 代理公司: 廣東莞信律師事務所 44332
• 代理人: 馮蓉

本發明涉及OLED顯示器件的檢測領域，尤其涉及一種OLED顯示器件失效檢測探測系統，包括：混氣輸入裝置，探測器裝置，控制器及排氣裝置。本發明能檢測出水汽、氧氣、溫度、交直流對OLED等薄膜半導體器件效率的影響結果，篩選出有效的封裝材料及結構，同時，也可以從氣氛、溫度、濕度、電流等多角度、全方面地進行故障分析，從而實現OLED顯示器件造價低、功能多、使用成本低的特點，進而滿足大部分科研及工業生產需要。另，本發明還提供了一種OLED顯示器件失效的檢測方法。

技術領域

本發明涉及OLED顯示器件的檢測領域，尤其涉及一種OLED顯示器件失效檢測探測系統及其檢測方法。

背景技術

OLED柔性顯示器件是新一代顯示技術中的一大亮點，在智能手機、平板電視、頭戴顯示、增強顯示等方面得到越來越多的應用。

OLED顯示技術處于起步階段，由于市面上的OLED顯示器具有性能穩定性差、工作壽命短及生產成本高均阻礙了OLED柔性顯示器件走向實用化和市場化，因此，開展OLED柔性顯示器件的故障檢測工作，研究其故障機理，對提高OLED顯示器件的可靠性、促進柔性顯示技術的發展具有十分重大的意義。

傳統的顯示技術故障分析手段有：RA信賴性試驗、工作壽命測試、水氧透過率測試等，然而，這些測試方式不能有效的區分使用環境各因素的影響，因而難以確定故障原因的主次和相互作用，不利于開發新型襯底封裝材料以及改進生產工藝，進而制約了OLED顯示向輕薄化、柔性化的發展。

為此有必要提供一種OLED顯示器件失效檢測探測系統及其檢測方法來克服上述缺陷。

發明內容

本發明提供了一種OLED顯示器件失效檢測探測系統，能檢測出水汽、氧氣、溫度、交直流對OLED等薄膜半導體器件效率的影響結果，篩選出有效的封裝材料及結構，同時，也可以從氣氛、溫度、濕度、電流等多角度、全方面地進行故障分析，從而實現OLED顯示器件造價低、功能多、使用成本低的特點，進而滿足大部分科研及工業生產需要。

相應地，本發明還提供了一種OLED顯示器件失效檢測探測的檢測方法，能檢測出水汽、氧氣、溫度、交直流對OLED等薄膜半導體器件效率的影響結果，篩選出有效的封裝材料及結構，同時，也可以從氣氛、溫度、濕度、電流等多角度、全方面地進行故障分析，從而實現OLED顯示器件造價低、功能多、使用成本低的特點，進而滿足大部分科研及工業生產需要。

為了解決上述技術問題，本發明所采取的技術方案為：

一種OLED顯示器件失效檢測探測系統，包括：

混氣輸入裝置，用于提供混合氣體；

探測器裝置，與所述混氣輸入裝置連接、用于探測OLED顯示器件在不同條件下的工作情況，和/或用于獲取待測物的反射率波譜；

控制器，用于根據所述探測器裝置傳送的信息、處理分析出所述OLED顯示器件的失效規律，和/或根據所述探測器裝置傳送的信息、定量分析出所述待測物的保護性能；及

排氣裝置，與所述探測器裝置連接、用于排出氣體。

本發明的一種OLED顯示器件失效檢測探測系統，通過所述混氣輸入裝置控制一定濕度及一定量的氣體輸入，所述探測器裝置在不同的測試條件下探測所述OLED顯示器件的失效規律，同時，所述探測器裝置獲取待測物的反射率波譜，并將探測結果或反射率波譜傳輸至所述控制器，所述控制器處理所述信息、分析出所述OLED顯示器件的失效規律，或定量分析出所述待測物的保護性能。本發明能測試出不同測試環境對所述OLED的影響，并根據測試結果篩選出有效的封裝材料及結構，從而實現OLED顯示器件造價低、功能多、使用成本低的特點，進而滿足大部分科研及工業生產需要。