[發明專利]一種OLED顯示器件失效檢測探測系統及其檢測方法

有效

• 申請號: 201710374462.3
• 申請日: 2017-05-24
• 公開（公告）號: CN107315139B
• 公開（公告）日: 2020-11-13
• 發明（設計）人: 彭彩紅;鄧平源
• 申請（專利權）人: 東莞市艾百人工智能科技有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26
• 代理公司: 廣東莞信律師事務所 44332
• 代理人: 馮蓉

1.一種OLED顯示器件失效檢測探測系統，其特征在于，包括：

混氣輸入裝置，用于提供混合氣體；

探測器裝置，與所述混氣輸入裝置連接、用于探測OLED顯示器件在不同條件下的工作情況，和用于獲取待測物的反射率波譜；所述條件包括：可控水汽、氧氣濃度條件，高低溫條件或交直流條件；

控制器，用于根據所述探測器裝置傳送的工作情況、處理分析出所述OLED顯示器件的失效規律及相應的解決方案，和根據所述探測器裝置傳送的反射率波譜、定量分析出所述待測物的保護性能；所述待測物包括：玻璃、有機薄膜、氧化物薄膜襯底和封裝材料；所述控制器分析襯底和封裝材料的角度對待測物的失效情況進行分析，測量保護膜的均勻性，以篩選有效的封裝材料及結構；及

排氣裝置，與所述探測器裝置連接、用于排出氣體。

2.如權利要求1所述的OLED顯示器件失效檢測探測系統，其特征在于，所述探測器裝置包括：與所述混氣輸入裝置和所述控制器連接的氣密箱，設置在所述氣密箱內的器件夾具，設置在所述氣密箱內、且設置在所述器件夾具上方的數碼顯微鏡、濕度探頭和光源組件。

3.如權利要求2所述的OLED顯示器件失效檢測探測系統，其特征在于，所述器件夾具上設置有加熱平臺。

4.一種OLED顯示器件失效的檢測方法，其特征在于，包括如下步驟：

控制輸入相對應的檢測條件；所述檢測條件包括：可控水汽、氧氣濃度條件，高低溫條件或交直流條件；

探測器裝置探測OLED顯示器件在所述檢測條件下的工作情況；

所述探測器裝置獲取待測物的反射率波譜；所述待測物包括：玻璃、有機薄膜、氧化物薄膜襯底和封裝材料；

控制器根據所述探測器裝置傳送的工作情況信息、處理分析出所述OLED顯示器件的失效規律；

所述控制器根據所述探測器傳送的反射率波譜信息、處理分析所述待測物的保護性能并篩選出有效的封裝材料及結構。