[發明專利]一種劃痕檢測方法與裝置

在審

• 申請號: 201710373831.7
• 申請日: 2017-05-24
• 公開（公告）號: CN107358598A
• 公開（公告）日: 2017-11-17
• 發明（設計）人: 戴明航
• 申請（專利權）人: 上海視馬艾智能科技有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/13;G06T7/136;G01N21/88
• 代理公司: 上海晨皓知識產權代理事務所(普通合伙)31260
• 代理人: 成麗杰

1.一種劃痕檢測方法，其特征在于，包括：

獲取待檢測物表面的第一圖像；

對所述第一圖像進行去噪處理，得到去噪處理后的所述待檢測物表面的第二圖像；

判斷所述第二圖像中是否存在標準劃痕，并顯示判斷結果。

2.根據權利要求1所述的劃痕檢測方法，其特征在于，所述獲取待檢測物表面的第一圖像，包括：調用相機軟件接口，以預設分辨率與預設灰度層次拍攝待檢測物，得到所述待檢測物表面的第一圖像。

3.根據權利要求1所述的劃痕檢測方法，其特征在于，所述對所述第一圖像進行去噪處理，得到去噪處理后的所述待檢測物表面的第二圖像，包括：

對所述第一圖像進行二值化處理，得到經二值化處理后的所述待檢測物表面的第三圖像；

通過腐蝕所述第三圖像，刪除所述第三圖像中的第一噪聲目標；其中，所述第一噪聲目標為所述第三圖像中尺寸小于第一預設尺寸的噪聲點；

在所述第三圖像中，刪除邊界干擾目標，得到所述待檢測物表面的第二圖像。

4.根據權利要求3所述的劃痕檢測方法，其特征在于，所述刪除所述第三圖像中的第一噪聲目標后，得到所述待檢測物表面的第二圖像前，還包括：

刪除所述第三圖像中的第二噪聲目標；其中，所述第二噪聲目標為所述第三圖像中尺寸大于第二預設尺寸的噪聲點，所述第二預設尺寸大于所述第一預設尺寸。

5.根據權利要求1所述的劃痕檢測方法，其特征在于，所述判斷所述第二圖像中是否存在標準劃痕，具體包括：

在所述第二圖像中檢測到劃痕粒子時，獲取所述第二圖像中的所述劃痕粒子的最大費雷特直徑；

若在所述第二圖像中未檢測到劃痕粒子或所述劃痕粒子滿足預設條件，則判定待檢測物合格；所述預設條件為所述劃痕粒子的最大費雷特直徑小于或等于預設閾值；

若所述劃痕粒子的最大費雷特直徑大于預設閾值，則判定所述劃痕粒子為標準劃痕，判定待檢測物不合格。

6.一種劃痕檢測裝置，其特征在于，包括：

獲取模塊，用于獲取待檢測物表面的第一圖像；

去噪模塊，用于對所述第一圖像進行去噪處理，得到去噪處理后的所述待檢測物表面的第二圖像；

判斷模塊，用于判斷所述第二圖像中是否存在標準劃痕，并顯示判斷結果。

7.根據權利要求6所述的劃痕檢測裝置，其特征在于，包括：所述獲取模塊，包括：

調用子模塊，用于調用相機軟件接口；

圖像獲取子模塊，用于以預設分辨率與預設灰度層次拍攝待檢測物，得到所述待檢測物表面的第一圖像。

8.根據權利要求6所述的劃痕檢測裝置，其特征在于，包括：所述去噪模塊包括：

第三圖像獲取子模塊，用于對所述第一圖像進行二值化處理，得到經二值化處理后的所述待檢測物表面的第三圖像；

第一噪聲目標刪除子模塊，用于通過腐蝕所述第三圖像，刪除所述第三圖像中的第一噪聲目標；其中，所述第一噪聲目標為所述第三圖像中尺寸小于第一預設尺寸的噪聲點；

第二圖像獲取子模塊，用于在所述第三圖像中，刪除邊界干擾目標，得到所述待檢測物表面的第二圖像。

9.根據權利要求8所述的劃痕檢測裝置，其特征在于，所述去噪模塊還包括第二噪聲目標刪除子模塊；

所述第二噪聲目標刪除子模塊用于刪除所述第三圖像中的第二噪聲目標；其中，所述第二噪聲目標為所述第三圖像中尺寸大于第二預設尺寸的噪聲點，所述第二預設尺寸大于所述第一預設尺寸。

10.根據權利要求6所述的劃痕檢測裝置，其特征在于，包括：所述判斷模塊包括：

劃痕粒子檢測子模塊，用于檢測所述第二圖像中的劃痕粒子；

最大費雷特直徑獲取子模塊，用于在所述第二圖像中檢測到所述劃痕粒子時，獲取所述第二圖像中的劃痕粒子的最大費雷特直徑；

標準劃痕判斷子模塊，用于在所述劃痕粒子的最大費雷特直徑大于預設閾值時，判定所述劃痕粒子為標準劃痕。