[發(fā)明專利]測定螢石中氟化鈣、碳酸鈣、硫、鐵及二氧化硅含量的方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710368846.4 | 申請日: | 2017-05-23 |
| 公開(公告)號: | CN107290375A | 公開(公告)日: | 2017-10-24 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 卜兆杰;談?wù)丫?/a>;王曉旋;黃健強(qiáng);陶澤秀;王新梅 | 申請(專利權(quán))人: | 蘭州蘭石檢測技術(shù)有限公司 |
| 主分類號: | G01N23/223 | 分類號: | G01N23/223;G01N1/28;G01N1/36 |
| 代理公司: | 甘肅省知識產(chǎn)權(quán)事務(wù)中心62100 | 代理人: | 馬小瑞 |
| 地址: | 730314 甘肅省*** | 國省代碼: | 甘肅;62 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 測定 螢石 氟化鈣 碳酸鈣 二氧化硅 含量 方法 | ||
1.一種測定螢石中氟化鈣、碳酸鈣、硫、鐵及二氧化硅含量的方法,它包括以下步驟:
步驟一、選取數(shù)個螢石校準(zhǔn)樣品,分別置于烘干機(jī)中105℃烘干1h,置于干燥器中冷至室溫,放入碳化鎢振動磨樣機(jī)中研磨,過100目篩,取適量校準(zhǔn)樣品粉末與粘合劑混合后,置于壓片機(jī)模子中,將硼酸試劑經(jīng)過120目過篩后取3.0g硼酸襯底,并用硼酸鑲邊,在30t壓力下保壓30s,制備成厚度為0.6mm平整的校準(zhǔn)樣片;
步驟二、用X射線熒光光譜分析儀對經(jīng)過步驟一處理的每個校準(zhǔn)樣品中的F、Si、Ca、Fe、S元素的強(qiáng)度進(jìn)行測定,得到校準(zhǔn)樣品中F、Si、Ca、Fe、S組份的熒光強(qiáng)度;分別以每個校準(zhǔn)樣品中各元素質(zhì)量百分比含量為橫坐標(biāo),以各元素的熒光強(qiáng)度為縱坐標(biāo),繪制校準(zhǔn)樣品的熒光光譜曲線,通過譜線重疊和基體效應(yīng)校正后,進(jìn)行線性回歸,得到每個元素的校準(zhǔn)曲線;
步驟三、選取待測螢石樣品,在烘干機(jī)中105℃烘干1h,置于干燥器中冷至室溫,放入碳化鎢振動磨樣機(jī)中研磨成100目細(xì)度的粉末,取與校準(zhǔn)樣片相同質(zhì)量的待測螢石樣品粉末與粘合劑混合后,置于壓片機(jī)模子中,將硼酸試劑經(jīng)過120目過篩后取3.0g硼酸襯底,并用硼酸鑲邊,在30t壓力下保壓30s,制備成0.6mm厚度的平整的待測螢石粉末樣片;用X射線熒光光譜分析儀對待測螢石粉末樣片中F、Si、Ca、Fe、S元素的熒光強(qiáng)度進(jìn)行測定,與步驟二所得的校準(zhǔn)樣品中F、Si、Ca、Fe、S元素的校準(zhǔn)曲線進(jìn)行對比,得到待測螢石粉末樣片中F、Si、Ca、Fe、S元素的質(zhì)量百分比含量;
步驟四、根據(jù)步驟三所得到的待測螢石粉末樣片的F、Si元素質(zhì)量百分含量計算得出待測螢石粉末樣品中CaF2、SiO2的質(zhì)量百分比含量,根據(jù)Ca元素的總質(zhì)量百分比含量以及CaF2含量間接計算得出待測螢石粉末樣品中CaCO3的質(zhì)量百分比含量。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測定螢石中氟化鈣、碳酸鈣、硫、鐵及二氧化硅含量的方法,其特征在于:所述粘合劑為微晶纖維素和硬脂酸的混合物,待測樣品、微晶纖維素、硬脂酸的質(zhì)量比為3:1:1。
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