[發(fā)明專利]一種筆跡鑒定的方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201710367610.9
• 申請(qǐng)日: 2017-05-23
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN107122766B
• 公開(kāi)（公告）日: 2019-09-06
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 劉青;曾永濤;彭亦軍
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 北京瑞源智通科技有限公司
• 主分類號(hào): G06K9/00
• 分類號(hào): G06K9/00
• 代理公司: 北京華旭智信知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11583
• 代理人: 趙文靜

本發(fā)明公開(kāi)了一種筆跡鑒定的方法，包括步驟：1)在樣本片材上筆跡中選取待進(jìn)行筆跡鑒定的區(qū)域；2)在所選區(qū)域的筆跡中定義測(cè)量點(diǎn)與測(cè)量方向，其中測(cè)量方向垂直于筆畫(huà)的書(shū)寫(xiě)方向；3)將樣本片材固定在載物臺(tái)上；4)利用攝像裝置來(lái)獲取所選區(qū)域中各測(cè)量點(diǎn)的三維視圖；5)利用所述三維視圖來(lái)計(jì)算所述樣本片材上各個(gè)測(cè)量點(diǎn)的參數(shù)；6)在檢材上選取與所述樣本片材的所選區(qū)域相對(duì)應(yīng)的區(qū)域，并在該區(qū)域中定義與上述樣本片材相對(duì)應(yīng)的測(cè)量點(diǎn)和測(cè)量方向；7)重復(fù)上述步驟3)、4)、5)，獲得所述檢材上各個(gè)測(cè)量點(diǎn)的參數(shù)；8)根據(jù)公式，將所獲得的檢材與樣本片材的各參數(shù)進(jìn)行計(jì)算比對(duì)，得到相關(guān)性系數(shù)ρ_X，Y，并基于該相關(guān)性來(lái)鑒定筆跡的真?zhèn)巍?/p>

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種筆跡鑒定的方法，屬于文件檢驗(yàn)的技術(shù)領(lǐng)域。

背景技術(shù)

驗(yàn)證筆跡簽名真實(shí)性的方法已存在已久。筆跡可定義為由簽名人在紙張上留下的筆墨痕跡。當(dāng)前痕跡檢驗(yàn)技術(shù)為定性檢驗(yàn)，主要通過(guò)人眼或微觀放大設(shè)備觀察痕跡客體表面的形態(tài)、形狀、顏色、材質(zhì)等屬性。由于檢材客體表面不平整以及設(shè)備測(cè)量精度無(wú)法滿足要求，現(xiàn)有設(shè)備或儀器無(wú)法精確測(cè)量客體痕跡如痕跡深度、角度、形態(tài)、顏色等屬性特征。

通過(guò)對(duì)已有筆跡的觀察和練習(xí)，或通過(guò)更高級(jí)的技術(shù)如臨模，套模等，筆跡是非常容易被模仿的。

當(dāng)今存在很多驗(yàn)證筆跡是否為模仿筆跡的技術(shù)。通常情況下，筆跡存在停頓、拐角、震蕩等現(xiàn)象，因此模仿筆跡看上去不連貫，筆跡線條的寬度寬。這種鑒別模仿筆跡方法的缺點(diǎn)在于所需時(shí)間較長(zhǎng)同時(shí)無(wú)法實(shí)現(xiàn)計(jì)算機(jī)自動(dòng)化；為了得到理想和穩(wěn)定的結(jié)果，他們需要大量基礎(chǔ)數(shù)據(jù)，并且由于這種方法是基于圖像分析的，系統(tǒng)會(huì)出現(xiàn)誤差。

發(fā)明內(nèi)容

鑒于背景技術(shù)中存在的問(wèn)題，本發(fā)明的目的在于提供一種筆跡鑒定的方法，其能解決筆跡鑒定過(guò)程中無(wú)法實(shí)現(xiàn)量化的問(wèn)題。

本文提到的筆或書(shū)寫(xiě)工具，可以理解為任何如鉛筆，鋼筆，圓珠筆或簽字筆等書(shū)寫(xiě)工具，用于在紙張上書(shū)寫(xiě)。

本文提到的墨跡，可以理解為任何書(shū)寫(xiě)工具的顏料，如墨水和任何干燥物質(zhì)，如蠟筆、墨粉、墨水、石墨或能被書(shū)寫(xiě)工具使用的相似物質(zhì)。

根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案，提供一種筆跡鑒定的方法，其特征在于，包括以下步驟：

1)在樣本片材上筆跡中選取待進(jìn)行筆跡鑒定的區(qū)域；

2)在所選區(qū)域的筆跡中定義測(cè)量點(diǎn)與測(cè)量方向，其中測(cè)量方向垂直于筆畫(huà)的書(shū)寫(xiě)方向；

3)將樣本片材固定在載物臺(tái)上；

4)利用攝像裝置來(lái)獲取所選區(qū)域中各測(cè)量點(diǎn)的三維視圖；

5)利用所述三維視圖來(lái)計(jì)算所述樣本片材上各個(gè)測(cè)量點(diǎn)的參數(shù)；

6)在檢材上選取與所述樣本片材的所選區(qū)域相對(duì)應(yīng)的區(qū)域，并在該區(qū)域中定義與上述樣本片材相對(duì)應(yīng)的測(cè)量點(diǎn)和測(cè)量方向；

7)重復(fù)上述步驟3)、4)、5)，獲得所述檢材上各個(gè)測(cè)量點(diǎn)的參數(shù)；

8)根據(jù)如下公式，將所獲得的檢材與樣本片材的各參數(shù)進(jìn)行計(jì)算比對(duì)，得到相關(guān)性系數(shù)ρ_X，Y，并基于該相關(guān)性來(lái)鑒定筆跡的真?zhèn)危?/p>

其中X是樣本片材各個(gè)測(cè)量點(diǎn)的參數(shù)值，Y是檢材各個(gè)測(cè)量點(diǎn)的參數(shù)值，μ_x是樣本片材各個(gè)測(cè)量點(diǎn)的參數(shù)值的平均值，μ_y是檢材各個(gè)測(cè)量點(diǎn)的參數(shù)值的平均值，σ_x是樣本片材各個(gè)測(cè)量點(diǎn)的參數(shù)值的標(biāo)準(zhǔn)差，σ_y是檢材各個(gè)測(cè)量點(diǎn)的參數(shù)值的標(biāo)準(zhǔn)差，E為數(shù)學(xué)期望。

根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案，其中所述測(cè)量點(diǎn)的個(gè)數(shù)為50-200個(gè)。