[發明專利]砂巖圖像代表性區域面積大小確定方法及裝置

有效

• 申請號: 201710366500.0
• 申請日: 2017-05-23
• 公開（公告）號: CN108961332B
• 公開（公告）日: 2021-06-15
• 發明（設計）人: 鄒敏;夏東領;龐雯;徐婷;周宇
• 申請（專利權）人: 中國石油化工股份有限公司;中國石油化工股份有限公司石油勘探開發研究院
• 主分類號: G06T7/62
• 分類號: G06T7/62
• 代理公司: 北京聿宏知識產權代理有限公司 11372
• 代理人: 吳大建;張杰

1.一種砂巖圖像代表性區域面積大小確定方法，其特征在于，包括：

步驟101，獲取砂巖樣品的掃描圖像，并對所述掃描圖像進行二值化處理，以獲得與所述砂巖樣品的孔隙度一致的二值化圖像；

步驟102，對所述二值化圖像進行搜索，以獲取具有第一預設閾值個數的代表性區域，所述代表性區域的面積大小等于第二預設子閾值，所述第二預設子閾值屬于第二預設閾值組，所述第二預設閾值組包括多個互不相等的第二預設子閾值；

步驟103，對各所述代表性區域分別計算相應的區域面孔率，并根據各所述區域面孔率計算獲得與所述第二預設子閾值對應的面孔率組，其中，所述面孔率組中的參數值包括最大面孔率、最小面孔率、第一累積面孔率和第二累積面孔率；

步驟104，從所述第二預設閾值組中選擇未執行過步驟102的所述第二預設子閾值，重復執行步驟102和步驟103，直到所述第二預設閾值組中的所述第二預設子閾值全部遍歷完后，轉步驟105執行；

步驟105，將所述面孔率組中各參數值均落入預設置信區間內的所述面孔率組所對應的第二預設子閾值作為砂巖圖像代表性區域面積大小，或者將所述面孔率組中第一累積面孔率和第二累積面孔率同時落入預設置信區間內、且最大面孔率和最小面孔率未同時落入預設置信區間內時的所述面孔率組所對應的第二預設子閾值作為砂巖圖像代表性區域面積大小。

2.根據權利要求1所述的砂巖圖像代表性區域面積大小確定方法，其特征在于，步驟101還包括：

根據所述掃描圖像獲取樣品面孔率；

根據所述樣品面孔率求取預設置信區間。

3.根據權利要求1或2所述的砂巖圖像代表性區域面積大小確定方法，其特征在于，步驟103具體包括：

對各所述代表性區域計算相應的所述區域面孔率；

根據各所述區域面孔率，繪制面孔率累計概率分布圖；

根據所述面孔率累計概率分布圖獲得與所述第二預設子閾值對應的面孔率組。

4.根據權利要求3中所述的砂巖圖像代表性區域面積大小確定方法，其特征在于，根據所述面孔率累計概率分布圖獲得與所述第二預設子閾值對應的面孔率組，具體包括：

將所述區域面孔率最小值作為所述最小面孔率；將所述區域面孔率最大值作為所述最大面孔率；將所述面孔率累計概率分布圖中10％所對應的所述區域面孔率作為第一累積面孔率；將所述面孔率累計概率分布圖中90％所對應的所述區域面孔率作為第二累積面孔率。

5.一種砂巖圖像代表性區域面積大小確定裝置，其特征在于，包括：

掃描圖像處理模塊，用于獲取砂巖樣品的掃描圖像，并對所述掃描圖像進行二值化處理，以獲得與所述砂巖樣品的孔隙度一致的二值化圖像；

代表性區域獲取模塊，用于對所述二值化圖像進行搜索，以獲取具有第一預設閾值個數的代表性區域，并觸發面孔率組計算模塊；所述代表性區域的面積大小等于第二預設子閾值，所述第二預設子閾值屬于第二預設閾值組，所述第二預設閾值組包括多個互不相等的第二預設子閾值；

面孔率組計算模塊，用于對各所述代表性區域分別計算相應的區域面孔率，并根據各所述區域面孔率計算獲得與所述第二預設子閾值對應的面孔率組，其中，所述面孔率組中的參數值包括最大面孔率、最小面孔率、第一累積面孔率和第二累積面孔率；

第二預設子閾值選擇模塊，用于從所述第二預設閾值組中選擇未被選中過的所述第二預設子閾值，觸發代表性區域獲取模塊，直到所述第二預設閾值組中的所述第二預設子閾值全部遍歷完后，觸發砂巖圖像代表性區域面積大小確定模塊；

砂巖圖像代表性區域面積大小確定模塊，用于將所述面孔率組中各參數值均落入預設置信區間內的所述面孔率組所對應的第二預設子閾值作為砂巖圖像代表性區域面積大小，或者將所述面孔率組中第一累積面孔率和第二累積面孔率同時落入預設置信區間內、且最大面孔率和最小面孔率未同時落入預設置信區間內時的所述面孔率組所對應的第二預設子閾值作為砂巖圖像代表性區域面積大小。

6.根據權利要求5所述的砂巖圖像代表性區域面積大小確定裝置，其特征在于，掃描圖像處理模塊還用于：

根據所述掃描圖像獲取樣品面孔率；

根據所述樣品面孔率求取預設置信區間。