[發明專利]測試設備及測試方法

有效

• 申請號: 201710363937.9
• 申請日: 2017-05-22
• 公開（公告）號: CN107219167B
• 公開（公告）日: 2020-10-30
• 發明（設計）人: 王利娜;崔富毅;張亮;王子峰;劉洋
• 申請（專利權）人: 京東方科技集團股份有限公司;鄂爾多斯市源盛光電有限責任公司
• 主分類號: G01N19/04
• 分類號: G01N19/04
• 代理公司: 北京銀龍知識產權代理有限公司 11243
• 代理人: 許靜;劉偉

1.一種測試設備，用于通過測試待封裝器件表面的封裝膠的粘合力以測試封裝器件的封裝性能，其特征在于，包括：

承載臺，包括用于承載待測試封裝器件的承載面；

固定裝置，設置于所述承載臺上用于將所述待測試封裝器件固定于所述承載臺上；

測試裝置，可移動的設置于所述承載臺的上方；

移動裝置，用于控制所述測試裝置在待測試封裝器件的表面的預設位置、在待測試封裝器件的表面沿預設方向移動；

處理裝置，用于根據所述測試裝置移動預設距離所需的時間獲取待測試封裝器件的封裝性能信息，或者根據所述測試裝置在預設時間內移動的距離獲取待測試封裝器件的封裝性能信息。

2.根據權利要求1所述的測試設備，其特征在于，所述承載臺上設置有用于調節所述承載面上承載待測試封裝器件的承載區域的面積的調節結構。

3.根據權利要求1所述的測試設備，其特征在于，所述測試裝置包括：

支架；

測試探頭，可移動的設置于所述支架上；

位置探頭，設置于所述支架上、所述測試探頭的一側，且可與所述測試探頭同步移動以獲得所述測試探頭的位置信息。

4.根據權利要求1所述的測試設備，其特征在于，所述移動裝置包括：

升降結構，與所述測試裝置連接以控制所述測試裝置的升降；

移動結構，與所述測試裝置連接以控制所述測試裝置在所述承載面所在的平面內沿所述預設方向移動。

5.一種測試方法，其特征在于，采用權利要求1-4任一項所述的測試設備進行測試，包括以下步驟：

將待測試封裝器件放置于承載臺上并固定；

測試裝置從待測試封裝器件的第一表面的四個邊中的至少三個邊的預設位置沿著預設方向移動預設距離、并獲得相應的第一時間TA；

根據所述第一時間判斷所述第一表面的封裝性能；

和/或，

測試裝置從待測試封裝器件的第二表面的四個邊中的至少三個邊的預設位置沿著預設方向移動預設距離、并獲得相應的第二時間TB；

根據所述第二時間判斷所述第二表面的封裝性能；

和/或，

測試裝置從待測試封裝器件的封裝膠的中間區域的預設位置沿預設方向移動預設距離、并獲得相應的第三時間TC；

根據所述第三時間判斷所述封裝膠的封裝性能。

6.根據權利要求5所述的測試方法，其特征在于，測試裝置從待測試封裝器件的第一表面的四個邊中的每個邊的預設位置沿著預設方向移動預設距離、并獲得相應的第一時間TA，

所述根據所述第一時間判斷所述第一表面的封裝性能具體包括，根據公式TA＝(T1+T2+T3+T4)/4，判斷所述第一表面的封裝性能，其中，T1、T2、T3、T4為測試裝置從待測試封裝器件的所述第一表面的四個邊中的每個邊的預設位置沿著預設方向移動預設距離所需的相應的時間，TA的大小與封裝性能成正比。

7.根據權利要求6所述的測試方法，其特征在于，所述測試裝置從待測試封裝器件的第一表面的四個邊中的每個邊的預設位置沿著預設方向移動預設距離、并獲得相應的第一時間TA，具體包括：

將測試裝置移動至待測試封裝器件的第一表面的第一邊的第一位置；

測試裝置沿著第一方向移動預設距離，記錄所需的第一時間T1，所述第一方向為與所述第一邊平行的方向；

將測試裝置移動至待測試封裝器件的第一表面的第二邊的第二位置，所述第二邊與所述第一邊相鄰；

測試裝置沿著第二方向移動所述預設距離，記錄所需的第二時間T2，所述第二方向為與所述第二邊平行的方向；

將測試裝置移動至待測試封裝器件的第一表面的第三邊的第三位置，所述第三邊與所述第一邊相對設置；

測試裝置沿著所述第一方向移動所述預設距離，記錄所需的第三時間T3；

將測試裝置移動至待測試封裝器件的第一表面的第四邊的第四位置，所述第四邊與所述第二邊相對設置；

測試裝置沿著所述第二方向移動所述預設距離，記錄所需的第四時間T4。