[發(fā)明專利]存儲器的測試方法及裝置、存儲介質(zhì)和測試終端

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201710360835.1
• 申請日: 2017-05-19
• 公開（公告）號: CN107240421B
• 公開（公告）日: 2020-09-01
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 張若成;錢亮;楊光軍
• 申請（專利權(quán)）人: 上海華虹宏力半導(dǎo)體制造有限公司
• 主分類號: G11C29/56
• 分類號: G11C29/56
• 代理公司: 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227
• 代理人: 張振軍;吳敏

一種存儲器的測試方法及裝置、存儲介質(zhì)和測試終端，所述存儲器包括主陣列和冗余陣列，所述存儲器的測試方法包括：控制所述存儲器將所述冗余陣列的地址映射至所述主陣列的地址空間中未被占用的地址；在所述主陣列的地址空間中，發(fā)送測試向量至所述存儲器，以使得所述主陣列和冗余陣列執(zhí)行所述測試向量中的測試項。采用本發(fā)明技術(shù)方案可以有效地提高存儲器的測試效率和可靠性。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及存儲器測試領(lǐng)域，特別涉及一種存儲器的測試方法及裝置、存儲介質(zhì)和測試終端。

背景技術(shù)

隨著存儲器的容量越來越大，在生產(chǎn)時很難保證存儲器中的每一個存儲位都是有效的，因此，在存儲器中一般除設(shè)置有主陣列(Main Array)以外的冗余陣列(RedundancyArray)。當(dāng)主陣列中出現(xiàn)失效時，所述冗余陣列可用于修復(fù)(也即替換掉)主陣列失效存儲位，以獲得更高的產(chǎn)品良率。因此，需要所述冗余陣列和主陣列具備一樣的可靠性。測試過程中針對主陣列的每個測試項都應(yīng)該覆蓋到冗余陣列。

目前，除少數(shù)的非自動測試外，在多數(shù)情況下采用測試終端發(fā)送測試向量(TestVectors)至存儲器，對存儲器中的主陣列和冗余陣列進(jìn)行自動化測試，其中，測試向量中包括有配置信息和測試項。由于在存儲器中，主陣列和冗余陣列隸屬于不同的物理區(qū)域，因此，需要分配不同的配置信息，例如，在訪問冗余陣列時，測試向量中的配置信息需要將某個寄存器標(biāo)識位賦值，或者將某個硬件引腳配置為上拉或者下拉狀態(tài)，而在訪問主陣列時，對應(yīng)的配置信息中的寄存器標(biāo)識位或硬件引腳的狀態(tài)則不完全相同。因此，在對主陣列和冗余陣列就測試向量中相同的測試項進(jìn)行測試時，需要針對主陣列和冗余陣列配置不同的測試向量。

由于在測試終端發(fā)送測試向量至存儲器后，將所述配置信息加載至存儲器所需的時間較長，其數(shù)量級可以與對存儲器執(zhí)行相應(yīng)的測試項所需的時間類似，因此，頻繁切換測試向量使得測試時間過長；而在測試向量的切換過程中容易出錯，影響測試的可靠性；此外，頻繁切換測試向量也同時增加了測試和驗證程序的復(fù)雜性。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明解決的技術(shù)問題是如何有效地提高存儲器的測試效率和可靠性。

為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明實施例提供一種存儲器的測試方法，所述存儲器包括主陣列和冗余陣列，所述測試方法包括：控制所述存儲器將所述冗余陣列的地址映射至所述主陣列的地址空間中未被占用的地址；在所述主陣列的地址空間中，發(fā)送測試向量至所述存儲器，以使得所述主陣列和冗余陣列執(zhí)行所述測試向量中的測試項。

可選地，所述主陣列的行數(shù)為M，所述冗余陣列的行數(shù)為N，2i＜M＜2i+1，M+N≤2i+1，其中，M、N和i為正整數(shù)，且i＜N≤M。

可選地，所述控制所述存儲器將所述冗余陣列的地址映射至所述主陣列的地址空間中未被占用的地址包括：在所述主陣列的地址空間中未被占用的地址指向的地址寄存器中，寫入所述冗余陣列的地址。

可選地，所述在所述主陣列的地址空間中，發(fā)送測試向量至所述存儲器，以使得所述主陣列和冗余陣列執(zhí)行所述測試向量中的測試項包括：在所述主陣列的地址空間中，按照地址遞增的順序遍歷所述主陣列和冗余陣列，以使得所述主陣列和冗余陣列執(zhí)行所述測試項。

可選地，所述測試項包括以下一種或多種：讀操作，編程操作，擦除操作。

為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明實施例還提供一種存儲器的測試裝置，所述存儲器包括主陣列和冗余陣列，所述測試裝置包括：映射模塊，適于控制所述存儲器將所述冗余陣列的地址映射至所述主陣列的地址空間中未被占用的地址；測試模塊，適于在所述主陣列的地址空間中，發(fā)送測試向量至所述存儲器，以使得所述主陣列和冗余陣列執(zhí)行所述測試向量中的測試項。

可選地，所述主陣列的行數(shù)為M，所述冗余陣列的行數(shù)為N，2i＜M＜2i+1，M+N≤2i+1，其中，M、N和i為正整數(shù)，且i＜N≤M。