[發明專利]存儲器的測試方法及裝置、存儲介質和測試終端

有效

• 申請號: 201710360835.1
• 申請日: 2017-05-19
• 公開（公告）號: CN107240421B
• 公開（公告）日: 2020-09-01
• 發明（設計）人: 張若成;錢亮;楊光軍
• 申請（專利權）人: 上海華虹宏力半導體制造有限公司
• 主分類號: G11C29/56
• 分類號: G11C29/56
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 張振軍;吳敏

1.一種存儲器的測試方法，所述存儲器包括主陣列和冗余陣列，其特征在于，所述測試方法包括：

在對所述存儲器進行測試時，控制所述存儲器將所述冗余陣列的地址映射至所述主陣列的地址空間中未被占用的地址，將所述主陣列與所述冗余陣列作為一個整體訪問；

在所述主陣列的地址空間中，發送測試向量至所述存儲器，以使得所述主陣列和冗余陣列執行所述測試向量中的測試項；所述主陣列與所述冗余陣列執行同一測試向量中的測試項。

2.根據權利要求1所述的存儲器的測試方法，其特征在于，所述主陣列的行數為M，所述冗余陣列的行數為N，2ⁱ＜M＜2ⁱ⁺¹，M+N≤2ⁱ⁺¹，其中，M、N和i為正整數，且i＜N≤M。

3.根據權利要求1所述的存儲器的測試方法，其特征在于，所述控制所述存儲器將所述冗余陣列的地址映射至所述主陣列的地址空間中未被占用的地址包括：

在所述主陣列的地址空間中未被占用的地址指向的地址寄存器中，寫入所述冗余陣列的地址。

4.根據權利要求1所述的存儲器的測試方法，其特征在于，所述在所述主陣列的地址空間中，發送測試向量至所述存儲器，以使得所述主陣列和冗余陣列執行所述測試向量中的測試項包括：

在所述主陣列的地址空間中，按照地址遞增的順序遍歷所述主陣列和冗余陣列，以使得所述主陣列和冗余陣列執行所述測試項。

5.根據權利要求1至4任一項所述的存儲器的測試方法，其特征在于，所述測試項包括以下一種或多種：讀操作，編程操作，擦除操作。

6.一種存儲器的測試裝置，所述存儲器包括主陣列和冗余陣列，其特征在于，所述測試裝置包括：

映射模塊，適于在對所述存儲器進行測試時，控制所述存儲器將所述冗余陣列的地址映射至所述主陣列的地址空間中未被占用的地址，將所述主陣列與所述冗余陣列作為一個整體訪問；

測試模塊，適于在所述主陣列的地址空間中，發送測試向量至所述存儲器，以使得所述主陣列和冗余陣列執行所述測試向量中的測試項；所述主陣列與所述冗余陣列執行同一測試向量中的測試項。

7.根據權利要求6所述的存儲器的測試裝置，其特征在于，所述主陣列的行數為M，所述冗余陣列的行數為N，2ⁱ＜M＜2ⁱ⁺¹，M+N≤2ⁱ⁺¹，其中，M、N和i為正整數，且i＜N≤M。

8.根據權利要求6所述的存儲器的測試裝置，其特征在于，所述映射模塊包括：

寄存器寫入子模塊，適于在所述主陣列的地址空間中未被占用的地址指向的地址寄存器中，寫入所述冗余陣列的地址。

9.根據權利要求6所述的存儲器的測試裝置，其特征在于，所述測試模塊包括：

遍歷子模塊，適于在所述主陣列的地址空間中，按照地址遞增的順序遍歷所述主陣列和冗余陣列，以使得所述主陣列和冗余陣列執行所述測試項。

10.根據權利要求6至9任一項所述的存儲器的測試裝置，其特征在于，所述測試項包括以下一種或多種：讀操作，編程操作，擦除操作。

11.一種存儲介質，其上存儲有計算機指令，其特征在于，所述計算機指令運行時執行權利要求1至5任一項所述存儲器的測試方法的步驟。

12.一種測試終端，包括存儲部件和處理器，所述存儲部件上存儲有能夠在所述處理器上運行的計算機指令，其特征在于，所述處理器運行所述計算機指令時執行權利要求1至5任一項所述存儲器的測試方法的步驟。