[發明專利]一種陣列基板檢測線路以及檢測方法和制作方法

有效

• 申請號: 201710360779.1
• 申請日: 2017-05-19
• 公開（公告）號: CN107038984B
• 公開（公告）日: 2020-07-31
• 發明（設計）人: 李安石
• 申請（專利權）人: 武漢華星光電技術有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00
• 代理公司: 深圳市威世博知識產權代理事務所(普通合伙) 44280
• 代理人: 鐘子敏

本發明公開了一種陣列基板檢測線路，包括：控制信號墊、輸出信號墊、顯示信號墊和開關電路。輸出信號墊通過開關電路耦接柵極驅動電路的信號線。開關電路在進行柵極驅動電路檢測時處于打開狀態，在進行陣列電路檢測時處于關斷狀態。通過上述方式，本發明能夠在顯示信號墊檢測陣列電路時，使輸出信號墊接收不到信號，柵極驅動電路負荷減輕，顯示信號墊不受干擾，檢測結果準確。本發明還公開了一種陣列基板檢測方法和制作方法。

技術領域

本發明涉及陣列基板領域，特別是涉及一種陣列基板檢測線路以及檢測方法和制作方法。

背景技術

隨著智能手機快速發展，液晶顯示裝置主要采用LTPS(Low Temperature Poly-silicon，低溫多晶硅)技術，但在目前LTPS技術制程復雜，成本也相應較高，因此對陣列基板的檢測結果的準確性就愈發重要。

現有技術中，測試GOA(Gate driver on Array，陣列基板柵極驅動)功能的方式為在控制信號墊中通電，用輸出信號墊測試輸出電信號。測試陣列電路功能時，依舊需要在控制信號墊中通電，通過GOA打開陣列電路區域，顯示信號墊才能對陣列電路進行充電放電測試。

在顯示信號墊對陣列電路進行測試時，由于控制信號墊中也在通電，所以輸出信號墊也會持續收到柵極驅動電路的輸出信號，給柵極驅動電路帶來額外的負荷，干擾顯示信號墊的測試，影響測試的準確性。

發明內容

本發明主要解決的技術問題是提供一種陣列基板檢測線路，能夠解決現有技術中輸出信號墊干擾陣列電路測試的問題。

為解決上述技術問題，本發明采用的一個技術方案是：提供一種陣列基板檢測線路，包括：控制信號墊，耦接所述陣列基板的柵極驅動電路的控制線，用于給所述陣列基板的柵極驅動電路提供控制信號；輸出信號墊，通過開關電路耦接所述柵極驅動電路的信號線；用于接收所述柵極驅動電路的輸出信號；顯示信號墊，耦接所述陣列基板的陣列電路的信號線，用于接收所述陣列電路的輸出信號；其中所述開關電路在進行柵極驅動電路檢測時處于打開狀態在進行陣列電路檢測時處于關斷狀態。

為解決上述技術問題，本發明采用的另一個技術方案是：提供一種陣列基板檢測方法，包括，向控制信號墊輸入控制信號，并控制開關電路處于打開狀態；讀取輸出信號墊的輸出信號以進行柵極驅動電路檢測；控制開關電路變為關閉狀態；進行陣列電路檢測。

為解決上述技術問題，本發明采用的又一個技術方案是一種陣列基板的制作方法，包括，準備一基板；在所述基板上形成柵極驅動電路、陣列電路、控制信號墊、輸出信號墊、顯示信號墊和開關電路，其中，所述控制信號墊耦接所述陣列基板的柵極驅動電路的控制線，所述輸出信號墊通過所述開關電路耦接所述柵極驅動電路的信號線，所述顯示信號墊耦接所述陣列基板的陣列電路的信號線；向控制信號墊輸入控制信號，并控制開關電路處于打開狀態；讀取輸出信號墊的輸出信號以進行柵極驅動電路檢測；控制開關電路變為關閉狀態；進行陣列電路檢測；檢測完成后，將所述控制信號墊、所述輸出信號墊、所述顯示信號墊以及所述開關電路切割掉。

本發明的有益效果是：區別于現有技術的情況，本發明通過在柵極驅動電路的信號線與輸出信號墊之間加入一個開關電路，在顯示信號墊測試陣列電路時關斷開關電路，使得顯示信號墊測試陣列電路時輸出信號墊接收不到信號，減輕柵極驅動電路的負荷，從而確保了顯示信號墊測試結果的準確性。

附圖說明

圖1是本發明陣列基板檢測線路的第一實施例的示意框圖；

圖2是本發明陣列基板檢測方法的流程示意圖；

圖3是本發明陣列基板檢測線路第二施例中開關電路的電路示意圖；

圖4是本發明陣列基板檢測線路第三施例中開關電路的電路示意圖；

圖5是本發明陣列基板檢測線路第四施例中開關電路的電路示意圖；