[發明專利]一種陣列基板檢測線路以及檢測方法和制作方法

有效

• 申請號: 201710360779.1
• 申請日: 2017-05-19
• 公開（公告）號: CN107038984B
• 公開（公告）日: 2020-07-31
• 發明（設計）人: 李安石
• 申請（專利權）人: 武漢華星光電技術有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00
• 代理公司: 深圳市威世博知識產權代理事務所(普通合伙) 44280
• 代理人: 鐘子敏

1.一種陣列基板檢測線路，其特征在于，包括：

控制信號墊，耦接所述陣列基板的柵極驅動電路的控制線，用于給所述陣列基板的柵極驅動電路提供控制信號；

輸出信號墊，通過開關電路耦接所述柵極驅動電路的信號線，用于接收所述柵極驅動電路的輸出信號；

顯示信號墊，耦接所述陣列基板的陣列電路的信號線，用于接收所述陣列電路的輸出信號；

所述開關電路，設置于所述輸出信號墊與所述柵極驅動電路之間，在進行柵極驅動電路檢測時處于打開狀態，在進行陣列電路檢測時處于關斷狀態。

2.根據權利要求1所述的陣列基板檢測線路，其特征在于，所述開關電路包括第一開關管和開關信號墊，所述開關信號墊用于接收開關信號，所述第一開關管的控制端耦接所述開關信號墊，第一端耦接所述柵極驅動電路的信號線，第二端耦接所述輸出信號墊；在進行柵極驅動電路檢測時所述第一開關管在所述開關信號的作用下處于打開狀態，在進行陣列電路檢測時所述第一開關管在所述開關信號的作用下處于關斷狀態。

3.根據權利要求2所述的陣列基板檢測線路，其特征在于，所述開關電路進一步包括，

第一反向器，所述第一反向器的輸入端耦接穩定高電平輸出端

P型的第二開關管，所述第二開關管的第一端耦接所述開關信號墊，所述第二開關管的第二端耦接所述第一開關管的控制端，所述第二開關管的控制端耦接所述第一反向器的輸出端；

N型的第三開關管，所述第三開關管的第一端耦接所述開關信號墊，所述第三開關管的第二端耦接所述第一開關管的控制端；所述第三開關管的控制端耦接所述穩定高電平輸出端。

4.根據權利要求3所述的陣列基板檢測線路，其特征在于，所述穩定高電平輸出端包括所述控制信號墊中的高電平輸出端。

5.根據權利要求2所述的陣列基板檢測線路，其特征在于，所述開關電路進一步包括，

第二反向器，所述第二反向器的輸入端耦接穩定低電平輸出端；

N型的第四開關管，所述第四開關管的第一端耦接所述開關信號墊，所述第四開關管的第二端耦接所述第一開關管的控制端，所述第四開關管的控制端耦接所述第二反向器的輸出端；

P型的第五開關管，所述第五開關管的第二端耦接所述第一開關管的控制端，所述第五開關管的第一端耦接所述開關信號墊，所述第五開關管的控制端耦接穩定低電平輸出端。

6.根據權利要求5所述的陣列基板檢測線路，其特征在于，所述穩定低電平輸出端包括所述控制信號墊中的低電平輸出端。

7.根據權利要求1所述的陣列基板檢測線路，其特征在于，所述顯示信號墊的個數由所述陣列電路中數據線的數量和多路分配器的級數確定；所述控制信號墊的個數為至少三個。

8.一種陣列基板檢測方法，其特征在于，包括：

向控制信號墊輸入控制信號，并控制位于輸出信號墊與柵極驅動電路之間的開關電路處于打開狀態；

讀取輸出信號墊的輸出信號以進行柵極驅動電路檢測；

控制開關電路變為關閉狀態；

進行陣列電路檢測。

9.根據權利要求8所述的檢測方法，其特征在于，進行陣列電路檢測的步驟包括,

繼續向控制信號墊輸入控制信號，使得所述柵極驅動電路控制所述陣列電路工作，從顯示信號墊讀取所述陣列電路的輸出信號以進行陣列電路檢測。

10.一種陣列基板的制作方法，其特征在于，包括，

準備一基板；

在所述基板上形成柵極驅動電路、陣列電路、控制信號墊、輸出信號墊、顯示信號墊和開關電路，其中，所述控制信號墊耦接所述陣列基板的柵極驅動電路的控制線，所述輸出信號墊通過所述開關電路耦接所述柵極驅動電路的信號線，所述顯示信號墊耦接所述陣列基板的陣列電路的信號線，所述開關電路，設置于所述輸出信號墊與所述柵極驅動電路之間；

向控制信號墊輸入控制信號，并控制開關電路處于打開狀態；

讀取輸出信號墊的輸出信號以進行柵極驅動電路檢測；

控制開關電路變為關閉狀態；

進行陣列電路檢測；

檢測完成后，將所述控制信號墊、所述輸出信號墊、所述顯示信號墊以及所述開關電路切割掉。