[發明專利]一種提升內存測試環節的優化方法

在審

• 申請號: 201710358554.2
• 申請日: 2017-05-19
• 公開（公告）號: CN107423173A
• 公開（公告）日: 2017-12-01
• 發明（設計）人: 趙曉強
• 申請（專利權）人: 鄭州云海信息技術有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22
• 代理公司: 濟南誠智商標專利事務所有限公司37105
• 代理人: 王汝銀

技術領域

本發明主要涉及涉及計算機內存卡的測試領域，尤其涉及一種提升內存測試環節的優化方法。

背景技術

在當前計算機內存卡測試中，都要進行FCT功能測試。在當前計算機內存卡工廠大規模FCT功能測試中，大都是在老化室用Linux操作系統進行內存測試，正常情況下一般不會有問題，但當有突發或不可控事件時，比如這一批進入老化房的機子少刷了一種固件，需要重新燒錄才能跑老化，現有的處理流程就會存在以下方面的缺陷：1)通過系統指令kill中斷正在進行的內存測試，使程序異常結束，父進程退出，子進程沒有全部退出而變成僵尸進程，耗費系統資源，并且生成相關的log不完整。2)等內存測試運行結束，正常退出，但正常老化時的內存測試一般都要耗費數小時，浪費時間較長。

發明內容

為了解決上述問題，本發明提供了一種提升內存測試環節的優化方法，增加了一鍵退出功能，當有突發需要終止當前內存測試時，只要按下ESC鍵，程序會正常退出并保存完整的log文件，使測試更具適應性。同時，增加了定時功能，可以根據自己的需求，設定時間大小，減少了時間的浪費。

本發明采用以下技術方案：

一種提升內存測試環節的優化方法，其特征在于，所述的方法包括以下步驟：

步驟1：下載內存測試工具；

步驟2：在內存測試工具中插入中斷退出函數；

步驟3：刷新內存測試工具并運行。

進一步的，在步驟2完成后，還可以在內存測試工具中插入定時器觸發函數。

優選的，所述的內存測試工具為memtester工具。

進一步的，所述的中斷觸發函數至少包括按鍵識別功能。

優選的，所述按鍵識別功能中設定的按鍵為ESC鍵。

進一步的，在內存測試工具中插入定時器觸發函數的具體過程為：

1)設置定時器步長；

2)設定定時觸發退出標準；

3)設置測試參數優先級。

優選的，定時器步長設定為2秒。

進一步的，定時觸發退出標準為：當時間達到指定值時，退出測試，并修改loop參數。

進一步的，測試參數優先級的設定標準為以下三種方式中的一種：

1)設置時間參數為優先級參數，則滿足時間參數條件時立即退出測試；

2)設置循環參數為優先級參數，則完成所有項測試一次時立即退出測試；

3)同時設置時間參數和循環參數為優先級參數，則滿足任意一個參數條件時，立即退出測試。

本發明的有益效果是：

1、通過設置中斷退出函數，可以隨時觸發并中斷整個測試過程，程序會正常退出并保存完整的Log文件，使測試更具適應性。

2、通過設置定時器觸發函數，提供了以下三種退出方式：1)當時間和循環參數同時給定時，哪個參數先測試完就以那個參數為準，并退出；2)當只有時間參數時，不管循環是否夠一次或循環幾次，時間滿足則退出測試；3)若只有循環參數時，不管測試時間有多長短，只要完成所有項測試一次就退出測試。

附圖說明

圖1是本發明方法流程圖。

具體實施方式

如圖1所示的一種提升內存測試環節的優化方法，主要用于當有突發需要終止當前內存測試時，程序正常退出并保存完整的log文件，使測試更具適應性，所述的方法包括以下步驟：

步驟1：下載內存測試工具，本申請提出的比較典型的內存測試工具為memtester工具，但是并不限于這一種測試工具。

步驟2：在內存測試工具中插入中斷退出函數，所述的中斷觸發函數主要包括按鍵識別功能，該按鍵實現一鍵中斷并退出的功能，本申請中對于按鍵識別功能中按鍵設定為ESC鍵，本領域內的技術人員也可以設置成鍵盤上的任意按鍵。

步驟3：在內存測試工具中插入定時器觸發函數，具體過程為：

1)設置定時器步長，本申請給出一種通用定時器步長設定時間為2秒；

2)設定定時觸發退出標準，具體標準為：當時間達到指定值時，退出測試，并修改loop參數；

3)設置測試參數優先級，測試參數優先級的設定標準為以下三種方式中的一種：

1)設置時間參數為優先級參數，則滿足時間參數條件時立即退出測試；

2)設置循環參數為優先級參數，則完成所有項測試一次時立即退出測試；

3)同時設置時間參數和循環參數為優先級參數，則滿足任意一個參數條件時，立即退出測試。

步驟4：刷新內存測試工具并運行。