[發(fā)明專(zhuān)利]一種提升內(nèi)存測(cè)試環(huán)節(jié)的優(yōu)化方法

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• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201710358554.2
• 申請(qǐng)日: 2017-05-19
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN107423173A
• 公開(kāi)（公告）日: 2017-12-01
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 趙曉強(qiáng)
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 鄭州云海信息技術(shù)有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G06F11/22
• 分類(lèi)號(hào): G06F11/22
• 代理公司: 濟(jì)南誠(chéng)智商標(biāo)專(zhuān)利事務(wù)所有限公司37105
• 代理人: 王汝銀

1.一種提升內(nèi)存測(cè)試環(huán)節(jié)的優(yōu)化方法，其特征在于，所述的方法包括以下步驟：

步驟1：下載內(nèi)存測(cè)試工具；

步驟2：在內(nèi)存測(cè)試工具中插入中斷退出函數(shù)；

步驟3：刷新內(nèi)存測(cè)試工具并運(yùn)行。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種提升內(nèi)存測(cè)試環(huán)節(jié)的優(yōu)化方法，其特征在于，在步驟2完成后，還需要在內(nèi)存測(cè)試工具中插入定時(shí)器觸發(fā)函數(shù)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的一種提升內(nèi)存測(cè)試環(huán)節(jié)的優(yōu)化方法，其特征在于，所述的內(nèi)存測(cè)試工具為memtester工具。

4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的一種提升內(nèi)存測(cè)試環(huán)節(jié)的優(yōu)化方法，其特征在于，所述的中斷觸發(fā)函數(shù)至少包括按鍵識(shí)別功能。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種提升內(nèi)存測(cè)試環(huán)節(jié)的優(yōu)化方法，其特征在于，所述按鍵識(shí)別功能中設(shè)定的按鍵為ESC鍵。

6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種提升內(nèi)存測(cè)試環(huán)節(jié)的優(yōu)化方法，其特征在于，在內(nèi)存測(cè)試工具中插入定時(shí)器觸發(fā)函數(shù)的具體過(guò)程為：

1)設(shè)置定時(shí)器步長(zhǎng)；

2)設(shè)定定時(shí)觸發(fā)退出標(biāo)準(zhǔn)；

3)設(shè)置測(cè)試參數(shù)優(yōu)先級(jí)。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種提升內(nèi)存測(cè)試環(huán)節(jié)的優(yōu)化方法，其特征在于，定時(shí)器步長(zhǎng)設(shè)定為2秒。

8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種提升內(nèi)存測(cè)試環(huán)節(jié)的優(yōu)化方法，其特征在于，定時(shí)觸發(fā)退出標(biāo)準(zhǔn)為：當(dāng)時(shí)間達(dá)到指定值時(shí)，退出測(cè)試，并修改loop參數(shù)。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的一種提升內(nèi)存測(cè)試環(huán)節(jié)的優(yōu)化方法，其特征在于，測(cè)試參數(shù)優(yōu)先級(jí)的設(shè)定標(biāo)準(zhǔn)為以下三種方式中的一種：

1)設(shè)置時(shí)間參數(shù)為優(yōu)先級(jí)參數(shù)，則滿足時(shí)間參數(shù)條件時(shí)立即退出測(cè)試；

2)設(shè)置循環(huán)參數(shù)為優(yōu)先級(jí)參數(shù)，則完成所有項(xiàng)測(cè)試一次時(shí)立即退出測(cè)試；

3)同時(shí)設(shè)置時(shí)間參數(shù)和循環(huán)參數(shù)為優(yōu)先級(jí)參數(shù)，則滿足任意一個(gè)參數(shù)條件時(shí)，立即退出測(cè)試。