[發明專利]一種攝像模組污點測試方法及裝置

在審

• 申請號: 201710351868.X
• 申請日: 2017-05-18
• 公開（公告）號: CN106973290A
• 公開（公告）日: 2017-07-21
• 發明（設計）人: 林挺;黃盛龍
• 申請（專利權）人: 信利光電股份有限公司
• 主分類號: H04N17/00
• 分類號: H04N17/00
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司11227
• 代理人: 羅滿

技術領域

本發明涉及光學成像技術領域，特別是涉及一種攝像模組污點測試方法及裝置。

背景技術

為提高和保證攝像模組產品的質量，對產品實施檢驗是必不可少的。攝像模組由于內部感光芯片、鏡頭等元件可能存在臟污點，會在拍攝圖像中表現出污點，從而影響圖像效果，因此對產品檢驗中需要對攝像模組進行污點測試。

對于魚眼攝像頭，一般的污點測試方法并不適用，因為在圖像畫面的邊緣及四角會有黑暗區域，若采用一般的污點測試方法會把暗區域與亮區域的交界處當作污點進行捉取。

發明內容

鑒于此，本發明提供一種攝像模組污點測試方法及裝置，應用于魚眼攝像頭，能夠實現對魚眼攝像頭進行有效的污點測試。

為實現上述目的，本發明提供如下技術方案：

一種攝像模組污點測試方法，包括：

對攝像模組拍攝到的圖像，基于圖像中暗區域和亮區域的交界進行擬合，將擬合得到的區域作為有效發光區域，并計算該區域的圓心和半徑；

在圖像的所述有效發光區域內測試污點。

可選地，以球形光源罩住所述攝像模組，以所述攝像模組拍攝圖像。

可選地，所述在圖像的所述有效發光區域內測試污點，包括：

遍歷所述有效發光區域內像素點，計算像素點與其鄰域內像素點的對比度，當在該像素點鄰域內對比度滿足預設條件的像素點的數量達到第一范圍，則將該像素點確定為污點內像素點；

根據被確定為污點內像素點在圖像中捉取出污點。

可選地，所述在所述有效發光區域內測試污點，還包括：對圖像的所述有效發光區域進行預處理，處理過程包括：

S1：遍歷所述有效發光區域內像素點，對于一像素點，求取像素點鄰域內的、分別位于該像素點多個不同方向上的像素點值的平均值；

S2：將各方向的像素點值的平均值求平均，將得到的值作為該像素點值。

可選地，所述步驟S1具體包括：在像素點鄰域內，求取分別位于該像素點至少三個不同方向上的像素點值的平均值；

所述步驟S2具體包括：對于該像素點至少三個不同方向上的像素點值的平均值，排除其中的最大值和最小值，將剩余值求平均，將得到的值作為該像素點值。

可選地，所述在圖像的所述有效發光區域內測試污點包括：根據形狀和飽滿度對污點進行篩選。

一種攝像模組污點測試裝置，包括：

處理模塊，用于對攝像模組拍攝到的圖像，基于圖像中暗區域和亮區域的交界進行擬合，將擬合得到的區域作為有效發光區域，并計算該區域的圓心和半徑；

測試模塊，用于在圖像的所述有效發光區域內測試污點。

可選地，所述測試模塊包括：

第一計算子模塊，遍歷所述有效發光區域內像素點，計算像素點與其鄰域內像素點的對比度，當在該像素點鄰域內對比度滿足預設條件的像素點的數量達到第一范圍，則將該像素點確定為污點內像素點；

第一污點捉取子模塊，用于根據被確定為污點內像素點在圖像中捉取出污點。

可選地，所述測試模塊還包括：

預處理子模塊，用于對圖像的所述有效發光區域進行預處理，處理過程包括：

S1：遍歷所述有效發光區域內像素點，對于一像素點，求取像素點鄰域內的、分別位于該像素點多個不同方向上的像素點值的平均值；

S2：將各方向的像素點值的平均值求平均，將得到的值作為該像素點值。

可選地，所述步驟S1具體包括：在像素點鄰域內，求取分別位于該像素點至少三個不同方向上的像素點值的平均值；

所述步驟S2具體包括：對于該像素點至少三個不同方向上的像素點值的平均值，排除其中的最大值和最小值，將剩余值求平均，將得到的值作為該像素點值。

由上述技術方案可知，本發明所提供的攝像模組污點測試方法及裝置，應用于魚眼攝像頭，首先對攝像模組拍攝到的圖像，基于圖像中暗區域與亮區域的交界進行擬合，將擬合得到的區域作為有效發光區域，并計算該有效發光區域的圓心和半徑，然后在所述有效區域內測試污點。

本發明攝像模組污點測試方法及裝置應用于魚眼攝像頭，測試時首先找出圖像中的有效發光區域，然后在圖像有效發光區域內測試污點，能夠實現對魚眼攝像頭進行有效的污點測試。

附圖說明