[發(fā)明專利]一種黑白圖像中缺陷像素的校正方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710347644.1 | 申請(qǐng)日: | 2017-05-17 |
| 公開(公告)號(hào): | CN107274353B | 公開(公告)日: | 2020-12-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李赟晟;王勇 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 上海集成電路研發(fā)中心有限公司;成都微光集電科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06T5/00 | 分類號(hào): | G06T5/00;G06T7/00 |
| 代理公司: | 上海天辰知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 31275 | 代理人: | 吳世華;陳慧弘 |
| 地址: | 201210 上*** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 黑白 圖像 缺陷 像素 校正 方法 | ||
1.一種黑白圖像中缺陷像素的校正方法,其特征在于,包括:
步驟01:采集一張黑白圖像;
步驟02:以2×2個(gè)像素作為一個(gè)檢測單元,對(duì)所述黑白圖像進(jìn)行缺陷像素的檢測,并將缺陷像素存儲(chǔ)在存儲(chǔ)單元中;
步驟03:找到所述黑白圖像中的第一個(gè)缺陷像素P(0)(0),確定以該缺陷像素P(0)(0)為頂點(diǎn)的2×2個(gè)像素組成的檢測單元,其中,P(0)(0)位于該檢測單元的左上角,P(0)(1)位于該檢測單元的右上角,P(1)(0)位于該檢測單元的左下角,P(1)(1)位于該檢測單元的右下角,對(duì)該檢測單元中的第一行缺陷像素采用基于區(qū)域邊緣方向的校正方法進(jìn)行校正,校正之后的缺陷像素標(biāo)記為正常點(diǎn),按照上述方式,對(duì)所述黑白圖像中該缺陷像素所在行的剩余缺陷像素依次進(jìn)行校正,當(dāng)該行中的邊緣缺陷像素不能采用基于區(qū)域邊緣方向的校正方法進(jìn)行校正時(shí),則該缺陷像素不做校正;
其中,當(dāng)所述檢測單元中缺陷像素個(gè)數(shù)小于3時(shí),若P(0)(1)為缺陷像素,則采用第一校正法對(duì)P(0)(0)和P(0)(1)進(jìn)行校正,若P(0)(1)不為缺陷像素,則采用第一校正法對(duì)P(0)(0)進(jìn)行校正;當(dāng)所述檢測單元中缺陷像素個(gè)數(shù)大于等于3時(shí),若P(0)(1)為缺陷像素,則采用第二校正法對(duì)P(0)(0)和P(0)(1)進(jìn)行校正,若P(0)(1)不為缺陷像素,則采用第一校正法對(duì)P(0)(0)進(jìn)行校正;
所述第二校正法的步驟包括:
步驟B01:以P(0)(0)像素為頂點(diǎn),向左和向上方向的3×3個(gè)像素組成第二校正單元,該校正單元中第一行的像素從左到右依次為P(-2)(-2),P(-2)(-1),P(-2)(0),第二行的像素從左到右依次為P(-1)(-2),P(-1)(-1),P(-1)(0),第三行的像素從左到右依次為P(0)(-2),P(0)(-1),P(0)(0);
步驟B02:判斷該第二校正單元的區(qū)域邊緣方向;
步驟B03:若水平方向?yàn)樵摰诙U龁卧膮^(qū)域邊緣方向,則P(0)(0)=P(0)(-1)+(P(-2)(0)-P(-2)(-1)+P(-1)(0)-P(-1)(-1))/2;
若豎直方向?yàn)樵摰诙U龁卧膮^(qū)域邊緣方向,則P(0)(0)=P(-1)(0)+(P(0)(-1)-P(-1)(-1)+P(0)(-2)-P(-1)(-2))/2;
若對(duì)角線方向?yàn)樵摰诙U龁卧膮^(qū)域邊緣方向,則P(0)(0)=P(-1)(1)+(P(0)(-1)-P(-1)(0)+P(-1)(-1)-P(-2)(0)+P(-1)(-2)-P(-2)(-1))/3;
若反對(duì)角線方向?yàn)樵摰诙U龁卧膮^(qū)域邊緣方向,則P(0)(0)=P(-1)(-1)+(P(0)(-1)-P(-1)(-2)+P(-1)(0)-P(-2)(-1))/2;
步驟B04:若P(0)(1)為缺陷像素,重復(fù)步驟B01-B04,對(duì)P(0)(1)進(jìn)行校正;
步驟04:重復(fù)步驟03,依次對(duì)所述黑白圖像中所有行的缺陷像素進(jìn)行校正,輸出圖像;
其中,步驟02中缺陷像素的檢測的具體步驟為:
步驟0201:進(jìn)行缺陷像素的第一次檢測,去除黑白圖像中的最下行和最右列像素之后,對(duì)剩余像素中的j/2×i/2個(gè)檢測單元進(jìn)行逐個(gè)檢測,比較待檢測像素值與該待檢測像素的閾值之間的關(guān)系,如果待檢測像素值大于閾值,則為缺陷像素,否則,為正常點(diǎn);
步驟0202:進(jìn)行缺陷像素的第二次檢測,去除黑白圖像中的最下行和最左列像素之后,對(duì)剩余像素中的j/2×i/2個(gè)檢測單元進(jìn)行逐個(gè)檢測,比較待檢測像素值與該待檢測像素的閾值之間的關(guān)系,如果待檢測像素值大于閾值,則為缺陷像素,否則,為正常點(diǎn);
步驟0203:進(jìn)行缺陷像素的第三次檢測,去除黑白圖像中的最上行和最右列像素之后,對(duì)剩余像素中的j/2×i/2個(gè)檢測單元進(jìn)行逐個(gè)檢測,比較待檢測像素值與該待檢測像素的閾值之間的關(guān)系,如果待檢測像素值大于閾值,則為缺陷像素,否則,為正常點(diǎn);
其中,所述黑白圖像中每行含有i+1個(gè)像素,每列含有j+1個(gè)像素。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種黑白圖像中缺陷像素的校正方法,其特征在于,所述待檢測像素的閾值為閾值系數(shù)與檢測單元中位于待檢測像素對(duì)角線上兩個(gè)像素的中值的乘積。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種黑白圖像中缺陷像素的校正方法,其特征在于,所述閾值系數(shù)為1.5-2.5。
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