[發(fā)明專利]一種黑白圖像中缺陷像素的校正方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710347644.1 | 申請日: | 2017-05-17 |
| 公開(公告)號: | CN107274353B | 公開(公告)日: | 2020-12-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 李赟晟;王勇 | 申請(專利權(quán))人: | 上海集成電路研發(fā)中心有限公司;成都微光集電科技有限公司 |
| 主分類號: | G06T5/00 | 分類號: | G06T5/00;G06T7/00 |
| 代理公司: | 上海天辰知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 31275 | 代理人: | 吳世華;陳慧弘 |
| 地址: | 201210 上*** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 黑白 圖像 缺陷 像素 校正 方法 | ||
本發(fā)明公開了一種黑白圖像中缺陷像素的校正方法,包括:采集一張黑白圖像;以2×2個像素作為一個檢測單元,對黑白圖像進(jìn)行缺陷像素的檢測,并將缺陷像素存儲在存儲單元中;對黑白圖像中第一個缺陷像素采用基于區(qū)域邊緣方向的校正方法進(jìn)行校正,依次對該行中的缺陷像素進(jìn)行校正;重復(fù)上述步驟,依次對黑白圖像中所有行的缺陷像素進(jìn)行校正,當(dāng)邊緣缺陷像素不能采用基于區(qū)域邊緣方向的校正方法進(jìn)行校正時,則該缺陷像素不做校正;輸出圖像。本發(fā)明提供的一種黑白圖像中缺陷像素的校正方法對缺陷像素進(jìn)行多次校正,并對不同的缺陷像素類型采用不同的基于邊緣方向的校正方法進(jìn)行校正,提高了圖像的邊緣處理效果。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種黑白圖像中缺陷像素的校正方法。
背景技術(shù)
在圖像成像過程中,最先出來的Raw圖像數(shù)據(jù)會存在擁有缺陷像素的現(xiàn)象,缺陷像素將導(dǎo)致整個圖像質(zhì)量下降。因此,需要對圖像成像過程中的缺陷像素進(jìn)行去除。
通常對整個圖像進(jìn)行校正,面對缺陷像素較集中的區(qū)域,校正效果不明顯;或者雖然在一定程度上能達(dá)到明顯的校正效果,但是采用的運算步驟較為復(fù)雜,例如,一般采用從多種梯度來對缺陷點進(jìn)行判斷和校正,但校正效果實際上并不理想,又或者是對于圖像的邊緣處理效果不佳。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是提供一種黑白圖像中缺陷像素的校正方法,將2×2個像素組成的檢測單元中的每個像素放在不同的檢測單元中,經(jīng)過三次檢測之后確定缺陷像素,對不同的缺陷像素類型采用不同的基于邊緣方向的校正方法進(jìn)行校正,提高了圖像的邊緣處理效果。
為了實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明采用如下技術(shù)方案:一種黑白圖像中缺陷像素的校正方法,其特征在于,包括:
步驟01:采集一張黑白圖像;
步驟02:以2×2個像素作為一個檢測單元,對所述黑白圖像進(jìn)行缺陷像素的檢測,并將缺陷像素存儲在存儲單元中;
步驟03:找到所述黑白圖像中的第一個缺陷像素,確定以該缺陷像素為頂點的檢測單元,對該檢測單元中的第一行缺陷像素采用基于區(qū)域邊緣方向的校正方法進(jìn)行校正,校正之后的缺陷像素標(biāo)記為正常點,按照上述方式,依次對所述黑白圖像中該缺陷像素所在行的剩余缺陷像素依次進(jìn)行校正,當(dāng)該行中的邊緣缺陷像素不能采用基于區(qū)域邊緣方向的校正方法進(jìn)行校正時,則該缺陷像素不做校正;
步驟04:重復(fù)步驟03,依次對所述黑白圖像中所有行的缺陷像素進(jìn)行校正,輸出圖像;
其中,步驟02中缺陷像素的檢測的具體步驟為:
步驟0201:進(jìn)行缺陷像素的第一次檢測,去除黑白圖像中的最下行和最右列像素之后,對剩余像素中的j/2×i/2個檢測單元進(jìn)行逐個檢測,比較待檢測像素值與該待檢測像素的閾值之間的關(guān)系,如果待檢測像素值大于閾值,則為缺陷像素,否則,為正常點,其中,所述黑白圖像中每行含有i+1個像素,每列含有j+1個像素;
步驟0202:進(jìn)行缺陷像素的第二次檢測,去除黑白圖像中的最下行和最左列像素之后,對剩余像素中的j/2×i/2個檢測單元進(jìn)行逐個檢測,比較待檢測像素值與該待檢測像素的閾值之間的關(guān)系,如果待檢測像素值大于閾值,則為缺陷像素,否則,為正常點,其中,所述黑白圖像中每行含有i+1個像素,每列含有j+1個像素;
步驟0203:進(jìn)行缺陷像素的第三次檢測,去除黑白圖像中的最上行和最右列像素之后,對剩余像素中的j/2×i/2個檢測單元進(jìn)行逐個檢測,比較待檢測像素值與該待檢測像素的閾值之間的關(guān)系,如果待檢測像素值大于閾值,則為缺陷像素,否則,為正常點,其中,所述黑白圖像中每行含有i+1個像素,每列含有j+1個像素。
進(jìn)一步地,所述待檢測像素的閾值為閾值系數(shù)與檢測單元中位于待檢測像素對角線上兩個像素的中值的乘積。
進(jìn)一步地,所述閾值系數(shù)為1.5-2.5。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于上海集成電路研發(fā)中心有限公司;成都微光集電科技有限公司,未經(jīng)上海集成電路研發(fā)中心有限公司;成都微光集電科技有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201710347644.1/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





